(54) ДИФРАКЦИОННЫЙ МОНОХРОМАТОР
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Дифракционный монохроматор | 1980 |
|
SU934245A1 |
Дифракционный монохроматор | 1979 |
|
SU853418A1 |
Двойной дифракционный монохроматор | 1976 |
|
SU600401A1 |
Дифракционный монохроматор | 1975 |
|
SU556348A1 |
Дифракционный монохроматор | 1988 |
|
SU1608441A1 |
Дифракционный монохроматор | 1988 |
|
SU1608440A1 |
Дифракционный монохроматор | 1980 |
|
SU939958A1 |
Устройство для монохроматизации синхротронного излучения | 1983 |
|
SU1108857A1 |
Дифракционный монохроматор | 1980 |
|
SU996873A1 |
СКАНИРУЮЩИЙ ДИФРАКЦИОННЫЙ ПОЛИХРОМАТОР | 2014 |
|
RU2589748C2 |
1
Изобретение относится к спектральным приборам, а более конкретно - к дифракционным монохроматорам и может быть использовано в научных и заводских лабораториях во всех исследованиях, требующих выделения излучения, принадлежащего узкому интервалу длин волн.
Известны монохроматоры с вогнутыми дифракционными рещетками, предназначенные для работы в различных областях спектра. При достаточно хорошей фокусировке спектра в широкой области длин волн все они либо имеют сложный механизм сканирования, либо дают изображение с большими аберрациями.
Ближайшим по технической сущности к описываемому устройству является дифракционный монохроматор с углом отклонения не более 45°, содержащий вогнутую дифракционную решетку, входную и выходную щели и механизм сканирования спектра, обеспечивающий поворот дифракционной решетки вокруг оси, проходящей через ее вершину.
Такая конструкция не позволяет обеспечить малые аберрации при уменьшении расфокусировки.
Целью изобретения является уменьшение расфокусировки и снижение аберрации в монохроматоре.
Указанная цель достигается тем, что в известном монохроматоре с углом отклонения не более 45°, содержащем вогнутую дифракционную решетку, неподвижные входную и выходную щели и механизм сканирования спектра, обеспечивающий поворот решетки вокруг вертикальной оси, проходящей через ее вершину, расстояние от центра решетки до входной щели равно 0,9-1,1 радиуса кривизны решетки, а дифракционная решетка выполнена с переменным расстоянием между соседними штрихами, изменяющимся по линейному закону, нричем коэффициент неравномерности шага нарезки выбран из условия минимума расфокусировки.
Расстояние а между соседними штрихами у решетки с переменным шагом нарезки, изменяющимся по линейному закону, можно записать следующим образом:
o toCl +1--у)
где 00 - расстояние между соседними штрихами у вершины решетки (при i/ 0); у - координата точки на поверхности решетки в направлении, перпендику.тярном щтрихам;.
|.1 - коэффициент неравномерности шага нарезки рещеткн.
Авторы
Даты
1977-04-30—Публикация
1975-10-06—Подача