1
Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к области измерений нолей деформаций па поверхности исследуемых деталей и конструкций.
Известны устройства для измерения полей деформаций на поверхности исследуемых деталей и конструкций, основанные на поляризационно-онтических измерениях с применением фотоупругих покрытий. Устройство содержит блок освещения и оптическую систему, обеспечивающие освещение оптически чувствительного покрытия поляризованным светом. Недостатко.м подобных устройств является ограниченность их применения для ряда задач, вследствие сложности из.мерений и отсутствия требуемых материалов 1.
Известно также устройство для измерения деформаций на поверхности плоских деталей с нанесенным токопроводящим растром. Устройство содержит блок осветителя, содержащего источник света и блок регистрации с матовым экраном, имеющим растр. Недостатком данного устройства является сложность изготовления точной растровой рещетки с малым шагом, при этом требуется источник освещения.
Целью изобретения является упрощение конструкции устройства, так как в рассматриваемом устройстве при принятой схеме осветителя удается значительно понизить плотность растровой рещегки на поверхности исследуемой детали, что намного упрощает изготовление устройства. Поставленная цель достигается тем, что
блок осветителя выполнен в виде люминесцентного преобразователя, имеющего стеклянную подлолхку, на которую последовательно нанесен нрозрачный электрод, люминесцентный слой и защитная диэлектрическая нленка, находящаяся в гальваническом контакте с растром исследуемой детали, и электрическую цепь с источником переменного тока, замыкающую электрод с растром на детали.
Па чертеже изображено предложенное устройство.
Устройство содержит блок осветителя, вынолненный в виде люминесцентного преобразователя, включающего стеклянную подложку 1, на которую последовательно нанесены нрозрачный электрод 2, люминесцентный слой 3 и защитная диэлектрическая нленка 4. Диэлектрическая нленка 4 находится в гальваническом контакте с растром исследуемой детали 5. Люминесцентный преобразователь включает также электрическую цепь 6 с источником переменного тока, замыкающую электрод 2 с растром детали 5. Картину ноля деформаций исследуемой детали наблюдают
с помощью блока регистрации, включающего
оптическую систему 7, матовый экран 8 с растром, который закреплен в неподвижном корпусе 9.
Устройство работает следующим образом.
К люминесцентному преобразователю, закрепленному неподвижно, прижимается деталь 5 и подключается электрическая цепь 6.
В местах контакта детали с поверхностью преобразователя возникают токи возбуждения, которые вызывают свечение люминесцентного слоя 3. Со стороны стеклянной подложки 1 будут видны светлые и темные полосы, определяемые растром, выполненным на детали. Эта картина с помощью оптической системы 7 увеличивается и проецируется на матовый экран 8, механически не связанный с преобразователем.
Матовый экран 8 имеет измерительный растр с щагом б. При этом величина шага растра детали проецируется на экран в виде темной полосы шириной Д. При деформации детали под действием приложенной силы изменяется величина Д. По величине изменения Д с учетом шага б определяют величину деформации образца.
Примеиение люминесцентного преобразователя совместно с оптической системой и матовым экраном, имеющим растр, существенно
упрощает и удешевляет изготовление растра и упрощает измерение, что определяет экономический эффект даииого устройства.
Формула изобретения
Устройство для измерения деформаций на поверхности плоских деталей с нанесенным токопроводящим растром, содержащее блок осветителя и блок регистрации с матовым экраном, имеющим растр, отличающееся тем, что, с целью упрощения конструкции, блок осветителя выполнен в виде люминесцентного преобразователя, имеющего стеклянную подложку, на которую последовательно нанесены прозрачный электрод, люминесцентный слой и защитная диэлектрическая пленка, находящаяся в гальваническом контакте с растром исследуемой детали, и электрическую цепь с источником переменного тока, замыкающую электрод с растром на детали.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:
1.Сб. Поляризационно-оптический метод исследования напряжений ЛГУ, 1966 г., с. 170-181.
2.Т. Теокарис «Муаровые полосы при исследовании деформаций, М., «Мир, 1972, с. 48.
