1
Изобретение относится к области неразрушающего контроля токовихревым методом толщины тонких изоляционных покрытий на электропроводных немагнитных основаниях и является усовершенствованием известного способа.
По основоному авт. св. № 515932 известен способ измерения толщины изоляционных покрытий,. заключающийся в том что питают накладной преобразователь переменным током, измеряют его пбле экранной катушкой индуктивности, противофазно суммируют выходные напряжения преобразователей и по суммарному напряжению судят о толщине изоляционного покрытия.
Недостатком способа является невысокая точность измерения при изменениях удельной электропроводности и толщины листа в широких пределах, обусловленная изменением чувствительности накладного преобразователя к толщине изоляционного покрытия.
Целью дополнительного изобретения является уменьшение погрешности от изменеНИИ удельной электропроводности и толщины листа в широких пределах.
Поставленная цель достигается тем, что в способе по авт. св. № 515932 дополнительно выделяют сигнал, пропорциональный напряжению экранной катушки индуктивности, и регулируют в соответствии с его величиной суммарное напряжение преобразователей.
Снижение погрешности измерения достигается благодаря тому, что суммарное напряжение регулируется в соответствии с величиной сигнала экранной катушки. Этот сигнал зависит от изменения удельной электропроводности и толщины листа в широких пределах и компенсирует влияние на суммарное напряжение изменения чувств- тельности накладного преобразователя к толщине изоляционного покрытия.
На чертеже изображена блокчсхема устройства, реализующего способ.
Устройство содержит генератор 1 переменного тока, накладной преобразоватепь 2, содержащий возбуждающую катушку 3 и измерительную катушку 4, измеряющую
токовихровое поле со стороны контролируемого изоляционного покрытия 5 на листе 6, экранную катушку 7 индуктивности, измеряющую токовихревое попе с другой сто роны листа, сумматор 8, выполненный по схеме последовательного противофазного включения накладного преобразователя и экранной к. гушки, амплитудный детектор 9 сигнала экранной катушки индуктивности, управляемый регулятор 10 напряжения переменного тока и индикатор 11 толщины изоляционного покрытия.
Генератор 1 питает переменным током возбуждающую обмотку 3 накладного преоб разователя 2, установпенного на изоляционном покрытии 5.
Сигнал измерительной обмотки 4 про- тивофазно суммируется с сигналом экранной катущки 7 в сумматоре 8 и подается i на вход управляемого регулятора 10, коэф
фициент передачи которого изменяется сигналом экранной катушки, поступающим через амплитудный детектор 9. С выхода упрадапяемого регулятора 10 суммарное напряжение подается на вход индикатора 11 толщины изоляционного покрытия.
Ф
ормула изобретения
Способ измерения толщины изоляционных покрытий на электропроводных немагнитных основаниях по авт. св. № 515932, отличающийся тем, что, с целью уменьшения погрешности от изменений удельной электропроводности и толщины листа в широких пределах, дополнительно выделяют сигнал, пропорциональный напряжению экранной катушки индуктивности, и регулируют в соответствии с его величиной суммарное напряжение преобразователей.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ измерения толщины изоляционных покрытий | 1974 |
|
SU515932A1 |
Устройство для измерения удельной электрической проводимости немагнитного листа под изоляционным покрытием | 1981 |
|
SU1037158A1 |
Способ измерения толщины изоляционных покрытий | 1974 |
|
SU527588A2 |
Токовихревой накладной преобразователь | 1976 |
|
SU587386A1 |
Способ многопараметрового контроля методом вихревых токов | 1974 |
|
SU578610A1 |
Вихретоковое устройство для измерения толщины диэлектрического покрытия и электропроводимости неферромагнитного основания | 1976 |
|
SU593132A1 |
Токовихревой преобразователь с аэродинамической опорой | 1982 |
|
SU1076823A2 |
Вихретоковый накладной преобразователь | 1977 |
|
SU622001A1 |
Способ измерения удельного электрического сопротивления электропроводящих материалов токовихревым накладным преобразователем | 1974 |
|
SU517858A1 |
Устройство для дефектоскопии протяженных электропроводных изделий | 1980 |
|
SU945767A1 |
J Ч / /
Авторы
Даты
1977-07-05—Публикация
1974-10-04—Подача