Устройство для компенсации рефракции при визировании Советский патент 1977 года по МПК G01C1/00 

Описание патента на изобретение SU566131A1

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОМПЕНСАЦИИ РЕФРАКЦИИ ПРИ ВИЗИРОВАНИИ н переменным прэломляюшим углом между ними и заполнением с коэффициеитом дисперсии, равным среднему коэфф1щие 1ту дисперсии воздуха, размеще - иуто перед объективом измерительного ш струмента, поляризатор, анализатор, коротковолновый и длинноволновый источники излучения и объективный фотометр, приэму с переменным преломляющим углом устанавливают между поляризатором и ана- лизатором, причем неподви. пластину призмы изготовляют из двулучеп1 еломляю- щего материала, располагают первой к объективу, а толщину выбирают такой, чтобы разность хода обыкновенного и необыкновенного лучей коротковолнового излучения была равной целаму числу полуво/ш, а длинноволновый источник излучения перекрывают дополнительной пластиной из дву- лучепреломляюшего материала, причем толшину этой пластины выбирают такой, чтобы разность хода обыкновенного и необыю о- венного лучей длинноволнового излучения после обеих пластин была равна числу полу волн коротковолнового излучения, На чертеже изображена схема предлагаемого устройства. На чертеже приняты следующие обозначения: 1 - коротковолновый источник и: лучения, 2 - длинноволновый )шк нолучения, 3 - дополнительная пластина, 4- поляризатор, 5 - подвижная пластина, 6 - неподвижная пластина, 7 - анализатор, 8 - объектив измерительного инструмента, 9 - устройство для наклона пластины, 10 - заполнение, 11 - объективный фотометр. Устройство работает следующим образом Устройство ориентируют так, чтобы ось вращения подвижной пластины 5 была перпендикулярна к плоскости измеряемого угл Анализатор 7 и поляризатор 4 устанаэливают так, чтобы при одновременном нормальном падении излучения от коротковолнового 1 и длинноволнового 2 источников через дополнительную пластину 3 объекти& ный фотометр 11 показывал минимум. Затем поворотом подвижной пластины 5 и ориентированием измерительного инструмен та добиваются минимума показаний объективного фотометра 11 для обоих источников 1 и 2, Такое положение возможно только тогда когда дисперсионная разность хода лучей будет скомпенсирована дисперсионными свойствами заполнения Ю. При необходимости с устройства 9 измерения наклона ластины считываечся Г1рол(;мляю1иий угол и в рефракцию вводится лг иргчвкл дс е(--,)дн, где 9 - коэффициент дисперсии воздуха; - коэффициент дисперсии заполнения; ДИ- разность показателей преломле}}ия заполнения для коротковолнового и длинноволнового излучений. Одновременно с компенсацией рефракции измерительный инструмен- ориентируется точно на цель с ошибкой не Голее Од . Формула изобретения Устройство для комне}1сации |)ефракции при визировании, содержасиее измерительный инструмент с объективом, призму с неподвижной и подвижной пластинами и пе ременным преломляющим углом между ними и заполнением с коэффициентом дисперсии, равным среднему коэффийиенту дисперсии воздуха, размещен}1ую перед объективом измерительного инструмента, поляризатор, анализатор, коротковолновый и длинноволновый источники излучения и объективный фотометр, отличающееся тем, что, с целью повьпиения точности визирования путем компенсации рефракции, призму с переменным преломляющим углом устанавливают между поляризатором и анализатором, причем неподвижную пластину призмы изготовляют из двулучепреломляющего материала, располагают первой к объективу, а толщину выбирают такой, чтобы разность хода обыкновенного и необыкновенного лучей коротковолнового излучения была равной целому числу полуволн, а длинноволновый источник излучения перекрывают дополтнительной пластиной из двулучепреломляю- щего материала, причем толщину этой пластины выбирают такой, чтобы разность хода обыкновенного и необыкновенного лучей длинноволнового излучения после обеих пластин была равна числу полуволн кopoткoвo нового излучения. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе: l.TeMg&thOrt-t E,B mmai-iofr of feffaciionof verlkkal meosuremeHia USJM Fcrsers of d fferewt waveBewd lte.Osierr.Z. ., ,1967, Spec.PubF. We 25,p. 292 2,Авторское свидетельство СССР N 34O948| КЛ, G 01 « 21/46, 1972. 3.Авторское cвидeтeлLCтвo СССР NO 424007, КЛ, 0 01 С 1/00, 1974,

Похожие патенты SU566131A1

название год авторы номер документа
Угловой рефрактометр 1981
  • Сушков Аркадий Сергеевич
SU1138714A1
УГЛОВОЙ РЕФРАКТОМЕТР 2005
  • Вшивкова Ольга Владимировна
  • Калугин Игорь Владимирович
RU2284508C1
Устройство для измерения атмосферной рефракции 1989
  • Вшивкова Ольга Владимировна
  • Калугин Владимир Федорович
SU1681205A1
ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР 2004
  • Калашников Евгений Валентинович
  • Рачкулик Светлана Николаевна
  • Михайлова Алла Геннадьевна
RU2275592C2
Устройство для контроля толщины кристаллических пластин в процессе доводки 1987
  • Кузнецов Борис Васильевич
SU1479823A2
Устройство для измерения концентрации атомов и молекул в плазме 1983
  • Ахмеджанов Р.А.
  • Гитлин М.С.
  • Новиков М.А.
  • Полушкин И.Н.
  • Щербаков А.И.
SU1132668A1
ЛАЗЕРНЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ МИКРОСКОП 2005
  • Валейко Михаил Валентинович
  • Шатров Яков Тимофеевич
  • Чалкин Станислав Филиппович
RU2285279C1
Сейсмометр 1984
  • Сизов Юрий Михайлович
  • Бородин Владислав Васильевич
  • Курбанов Олег Муратович
SU1267319A1
Устройство для измерения атмосферной рефракции 1989
  • Вшивкова Ольга Владимировна
  • Калугин Владимир Федорович
SU1763953A1
Пьезооптический акселерометр 1978
  • Борисюк Леонид Васильевич
  • Донец Владимир Владимирович
  • Донец Людмила Олеговна
  • Суслова Марина Николаевна
SU794548A1

Иллюстрации к изобретению SU 566 131 A1

Реферат патента 1977 года Устройство для компенсации рефракции при визировании

Формула изобретения SU 566 131 A1

;/

О

SU 566 131 A1

Авторы

Вшивков Владимир Федорович

Даты

1977-07-25Публикация

1975-02-18Подача