(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОМПОНЕНТ ТЕНЗОРА НАПРЯЖЕНИЙ ПЛСЮКИХ ФА. .ОБЪЕЬТОВ
тюненты (ю }1Орыгздни, относительно сюи симметрии, что приводит к снижению точности определения кок0юиент тензора напряжений
Цель изобретения - повышание точности измерений.
Это достигается тем, что для селекции пространственных частот используют коль цевую диафрагму, а нормальную и взаимно перпендикулярные планаряые компоненты выделяют соотйетствеино нэ первого и нуле- вого дифракционных порядков.
Сущность способа ттоясняется чертежом.
На одной оптической оси последовательно расположены оптический квантовый генератор (ОКГ) 1, светоделитель 2, расщеп™ ляющий световой пучок ОКГ на предметный и опорньШ . По оптической оси тракта предметного пучка последовательно расположены «йнза 3, расширяющая световой пучок ОКГ, диффузор 4, создающий диффузный когерентный свет, плоский фазовый объект 5, линза б прямого преобразования Фу|5ье, пространственный фильтр 7, выполнен1гый в виде непрозрачного экрана с кольиеьой диафрагмой и осуществляющий селекцию пространстветаых частот, линза 8 обратногч преобразования Фурье, регистрирующая среда 9, например, фотопластинка. Линзы 6 и 8 . имеют соответственно фокусЕЬш расстояния i| и f 2 . В оптическом тракте опорного пучка последовательно расположены отклоняющее зеркало 10 и коллиматор, состоящий из линз И и 12.
Суть изобретения состоит в следующем.
Световой пучок ОКГ светоделителем 2 расщепляют на два пучка. Предметный пучок через линзу 3 и диффузор 4 направляют на объект S. С помощью -линзы 6, фильтра 7 и линзы 8 осуществлй1 йт селекцию простраи- ственных частот прощедшего через объект 5 излучения, записывают на фотопластинке 9 голограмму интенсивности нагруженного ненагруженного объекта, восстанавливают ее и выделяют нормальную и взаимно перпендикулярные планарные компокенты в виде отдельных интерферограмм соответственно из первого и нулевого дифракционкьтх поряд ков, причем выделение соответствующей пленарной компоненты осуществляют филь:т ром пространственных частот по данному йаправленшо1„ Поворотом фильтра вокруг своей оси на 90° выделяют ортогональную к ней вторую кошюнеиту.
Определение компонент тензора напрягже НИИ плоских фазовых обьекччэв с помощью одной голограммы интенсивности позволяет повысить точность их выделения, а еле довательно, и измерения.
Формула изобретения
Способ определения компонент тензора напряжений плоских фазовых объектов, за- ,ключаюшййся в том, что объект освещают диффузным когерентным светом, осуществляют селекцию пространственных частот прошедщего через объект излучения, записывают голограмму интенсивности нагружен но№ и ненагруженного объекта, восстанавливают ее и выделяют нормальную и взаимно перпендикулярные планарные компоненты в виде отдельных интер4)ерограмм, о т - личйюшийся тем, что, с целью повыщенйя точвости намерений, для селекди(и пространственных частот используют коль яевую диафрагму, а нормальную и взаимно перпендикулярные йланаркью компоненты выделяют соответственно из первого и нулевого дифракционных порядков.
Источники информацийг, принятые во В1}К-мание при экспертизе:
l.J.T.Leertt ertz.J.Phus.E.(Sci.5ttsirum.V 1970, 3, с, 214.
2. Власов Н, Г., Смирнова С. Н., Преоняков Ю, П. Журнал технической физики, 1973, 43, 5, с. 1104.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ определения величины компонентТЕНзОРА МЕХАНичЕСКиХ НАпРяжЕНий | 1979 |
|
SU844998A1 |
Способ определения микроперемещений поверхности диффузно-отражающего объекта | 1981 |
|
SU1021940A1 |
КОМПАКТНОЕ УСТРОЙСТВО ЗАПИСИ ИЗОБРАЗИТЕЛЬНЫХ ГОЛОГРАММ | 2013 |
|
RU2541732C2 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ И АДАПТИВНЫЙ ГОЛОГРАФИЧЕСКИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР | 1992 |
|
RU2016379C1 |
УСТРОЙСТВО МУЛЬТИПЛЕКСИРОВАНИЯ МИКРОГОЛОГРАММ В СИСТЕМЕ ОПТИКО-ГОЛОГРАФИЧЕСКОЙ ПАМЯТИ | 2011 |
|
RU2473944C1 |
Способ голографической двухэкспозиционной интерферометрии | 1983 |
|
SU1120160A1 |
Способ голографического контроля волновых аберраций линз и объективов | 1991 |
|
SU1772608A1 |
МНОГОКАНАЛЬНЫЙ КОНФОКАЛЬНЫЙ СПЕКТРОАНАЛИЗАТОР ИЗОБРАЖЕНИЙ | 2019 |
|
RU2723890C1 |
ГОЛОГРАФИЧЕСКИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ПЛОСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ ЭЛЕМЕНТОВ ТВЕРДОТЕЛЬНОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ | 2009 |
|
RU2406070C1 |
Способ получения интерферограммы контроля качества линз и объективов | 1990 |
|
SU1716319A1 |
Авторы
Даты
1977-08-05—Публикация
1975-11-17—Подача