Патентон — пантеон патентов

(19)

SU

(11)

575 717

(13)

A1

(51)

МПК

H01J37/26(2000-01-01)

(21) (22)

Заявка

2363993, 1976-05-24

(22)

дата подачи заявки

1976-05-24

(45)

опубликовано

1977-10-05

(72)

авторы

Рау Эдуард ИвановичСпивак Григорий ВеньяминовичКарелин Николай МихайловичЛаврищев Сергей Вадимович

Устройство для наблюдения влажных образцов при помощи растрового электронного микроскопа Советский патент 1977 года по МПК H01J37/26 

Описание патента на изобретение SU575717A1

Похожие патенты SU575717A1

название год авторы номер документа

Иллюстрации к изобретению SU 575 717 A1

Реферат патента 1977 года Устройство для наблюдения влажных образцов при помощи растрового электронного микроскопа

Формула изобретения SU 575 717 A1

SU 575 717 A1

Авторы

Рау Эдуард Иванович

Спивак Григорий Веньяминович

Карелин Николай Михайлович

Лаврищев Сергей Вадимович

Даты

1977-10-05—Публикация

1976-05-24—Подача

read Похожие патенты