Способ обнаружения дефектов в не экспонированных светочувствительных материалах, например, фото- и кинопленках Советский патент 1940 года по МПК G01N21/89 

Часто заснятые кино- и фотоплевки и другие светочувствительные материалы бракуются вследствие обнаружеиия на них после проявления механических и других дефектов, например, царапин. В целях избежания брака, выявляемого лишь после проявления, (фиксации и суп1ки пленки, необходимо иметь возможность обнаруживать дефекты в светочувствительных материалах до съемки, чтобы вырезать куски материала, имеющие дефекты.

Настоящее изобретение касается способа обнаружения дефектов в неэкспонированных светочувствительных материалах, например, фото- и кинопленках. Он заключается в том, что исследуемый материал просвечивают или освещают неактиничными, например, инфракрасными лучами, при пропускании его через камеру, задерживающую все остальные лучи спектра. При этом наблюдают изображение материала на экране фотоэлектронной трубки, флуоресцирующего под действием прошедших сквозь светочувствительный материал или отраженных от него лучей, и определяют наличие механических и других дефектов в исследуемом светочувствительном материале.

На чертеже изображена примерная схелМа устройства для осуществления предлагаемого способа.

Предлагаемый способ сводится к следующему.

Неэкспонированную пленку / или тому подобный светочувствительный материал продвигают с малой скоростью лентопротяжным или тому подобным механизмом 2 перед соответствующим ширине пленки окном и освещают неактиничными, например, инфракрасными лучами от источника 5 через светофильтр 4. Просвечиваемый участок пленки посредством объектива 5 через второй светофильтр 6 проектируют на катод 7 фотоэлектронной трубки 8 в виде стеклянной колбы с двумя плоскими стенками, на Ъдной из которых внутри трубки нанесен no.i прозрачный, например, цезиевый фотокатод 7, а На другой имеется флуоресцирующий экран 9. Между катодом 7 и экраном 9 расположен анод 10, например, в виде редкой сетки. Прошедшие сквозь исследуемый светочувствительный материал или отраженные от него лучи, падая на фотокатод, вызывают фотоэлектронный поток с последнего, действием которого вызывается флуоресценция экрана 9. Наблюдая на экране 9 изображение исследуемого светочувствительного материаша, определяют наличие в нем механических и других дефектов.

Предмет изобретения.

Способ обнаружения дефектов в неэкспонированных светочувствительных материалах, например, фото- и кинопленках, отличающийся тем, что исследуемый материал просвечивают или освещают неактиничными, например,

инфракрасными лучами при пропускании его через камеру, задерживающую все остальные лучи спектра, наблюдают изображение материала, например, пленки, на экране фотоэлектронной трубки, флуоресцирующем под действием прошедпмх сквозь светочувствительный материал или отраженных от него лучей и определяют наличие механических и других дефектов Б 1исследуемом светочувствительном материале.

nQ