Способ измерения потенциала мишени видикона Советский патент 1978 года по МПК H01J37/28 

Изобретение относится к области электронной техники и может быть иснользовано при проведении исследований и измерений параметров передающих телевизионных трубок типа видикон и всех его разновидностей, работающих в различных режимах разложения. Известен способ измерения потенциала мишени видикона, основанный на подаче импульсов положительной полярности на все электроды видикона, кроме сигнальной пластины; регулируя амплитуду этих импульсов, фиксируют потенциал мишени видикона в момент пропадания тока сигнала . Недостатком этого способа является небольшая точность измерения потенциала мишени видикона и сложность его осуществления. Известен также другой способ, основанный на подаче на катод положительных импульсов длительностью в часть строки, соответствующей выбранному участку измерения; регулируя амплитуду этих импульсов, фиксируют потенциал мишени видикона в момент пропадания тока сигнала на выбранном участке измерения 2. Этот способ также отличается недостаточной точностью измерения потенциала и невозможностью измерения потенциала после коммутации. Целью изобретения является повышение точности измерения потенциала и обеспечение возможности измерения нотенциала после коммутации. Это достигается тем, что перед подачей положительных импульсов подают импульс длительностью в часть строки положительной полярности на катод видикона при передаче этой строки, затем подают импульсы длительностью в одну строку в цепь кадровых отклоняющих катушек и регулируют амплитуду этих импульсов до получения максимальной величины сигнала с выбранного участка измерения. Измерение потенциала мишени видикона после коммутации осуществляется посредством проведепия последовательности следующих операций. Образование электронной метки на строке, на которую возвращается коммутирующий луч, путем подачи импульса длительностью в часть строки положительной полярности на катод видикона при передаче этой строки. Возврат коммутирующего луча на строку, на которой измеряется потенциал, приобретаемый мишенью видикона сразу после коммутации, путем введения импульсов соответствующей полярности длительностью в одну

строку в цепь кадровых отклоняющих катушек.

Контроль точного попадання коммутирующего луча на строку, на которой измеряется потенциал, приобретаемый мишенью сразу после коммутации, по максимальной величине сигнала с электронной метки путем регулирования амплитуды имнульсов, вводимых в цепь кадровых отклоняющих катушек.

После выключения импульса электронной метки известным способом производится измерение потенциала, приобретаемого мишенью виднкона сразу лосле коммутации на строке измерения.

Онерацня контроля точного попадания коммутирующего луча на строку, на которой измеряется потенциал, приобретаемый мишенью сразу после коммутации, позволяет исключрггь попадание коммутирующего луча после возврата на соседнюю строку по отношению к строке измерення или в положение между строками.

Данный способ измерения потенциала мищени видикона может быть использован в электронной технике, в научно-исследовательских работах при изучении механизма работы видиконов и разработке рекомендаций по дальнейшему усовершенствованию трубок этого класса. По сравнению с существующими приемами решения той же задачи этот способ упрощает процесс измерений и делает

его гораздо более наглядным, а также повышает точность определения искомой величины- Потенциала мишени видикона.

Формула изобретения

Способ измерения потенциала мишени видикона, основанный на подаче на катод положительных импульсов длительностью в

часть строки, соответствующей выбранному участку измерения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и возможности измерения потенциала после коммутации, перед подачей положительных нмлульсов подают импульс длительностью в часть строки положительной полярности на катод видикона при передаче этой строки, затем подают импульсы длительностью в одну строку в цепь кадровых отклоняющих катушек и

регулируют амплитуду этих импульсов до получения максимальной величины сигнала с выбранного участка измерения.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1.Быков Р. Е., Гуревич С. Б. Вопросы радиоэлектроники, 1961, сер. 9, вып. 1, с. 70.

2.Гершберг А. Е., Михайлов-Теплов Н. Н. Электронная техника, 1968, сер. 4, вып. 1,

с. 17.