Предметом изобретения является отсчетный микроскоп для шкал и лимбов, особенность которого заключается в том, что он установлен поворотно относительно оси, параллельной плоскости шкалы отсчета, и снабжен расположенным нормально к его оптической оси уровнем, с целью производства отсчета смещения штриха шкалы при совпадении центра сетки микроскопа и штриха шкалы по углу отклонения микроскопа от вертикали, отсчитываемому по шкале уровня.
Для точной фиксации положения микроскопа по отношению к отсчетному штриху для своего отклонения от вертикали микроскоп может быть снабжен механизмом микрометренного смещения, например, механизмом с микрометренным винтом.
На чертеже схематически изображен описываемый микроскоп в двух проекциях.
Деталями микроскопа являются: трубчатый уровень 1, регистрирующей наклон микроскопа, укрепленный в плоскости качаний последнего перпендикулярно к его оптической оси; микрообъектив 2; призма 3, применяемая для излома оптической оси микроскопа; окуляр 4; сетка нитей 5; пластина 6, жестко скрепленная с тубусом микроскопа. Пластина 6 может покачиваться вокруг точки 7 подвеса.
Покачивание микроскопа происходит в вертикальной плоскости, перпендикулярной делениям лимба, подведенным под микроскоп, и осуществляется с помощью микрометренного механизма.
Принцип отсчета по шкале с помощью такого устройства заключается в том, что при наведении микроскопа на штрих шкалы пузырек уровня смещается на расстояние, пропорциональное углу наклона микроскопа и зависящее от чувствительности уровня.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Монокомпаратор | 1982 |
|
SU1057783A1 |
СССОЮЗНАЯ 1l*Tiiai.T^i^^rei(dйЧМИОТЕК.*ТЕОДОЛИТ | 1971 |
|
SU304431A1 |
Отсчётное устройство | 1941 |
|
SU61801A1 |
Устройство для измерения поперечных отклонений точек объектов | 1983 |
|
SU1154528A1 |
Координатометр | 1975 |
|
SU594405A1 |
УГЛОМЕРНОЕ УСТРОЙСТВО | 1991 |
|
RU2036426C1 |
Визуальное отсчетное устройство | 1990 |
|
SU1820211A1 |
ОПТИЧЕСКИЙ ТЕОДОЛИТ | 1972 |
|
SU323654A1 |
ТЕОДОЛИТ | 1936 |
|
SU56192A1 |
Устройство для измерения деформаций объектов | 1991 |
|
SU1796894A1 |
1. Отсчетный микроскоп, например, для лимбов, отличающийся тем, что он установлен поворотно относительно оси, параллельной плоскости шкалы отсчета, и снабжен нормально к его оптической оси расположенным уровнем, с целью производства отсчета смещения штриха шкалы при совпадении центра сетки микроскопа и штриха шкалы по углу отклонения микроскопа от вертикали, отсчитываемому по шкале уровня.
2. Форма выполнения отсчетного микроскопа по п. 1, отличающаяся тем, что, с целью точной фиксации его положения по отношению к отсчетному штриху для своего отклонения от вертикали, он снабжен механизмом микрометренного смещения, например механизмом с микрометренным винтом.
Авторы
Даты
1970-09-07—Публикация
1940-02-07—Подача