Электромагнитный структуроскоп Советский патент 1979 года по МПК G01N27/86 

Описание патента на изобретение SU649998A1

ся усилителем 3 и поступает па один из входов фазового детектора 7.

Первая гармоника сигнала, выделенная усилителем 4, поступает в канал опорного напряжения. С помощью триггера 5 Шмидта юервая гармоника преобразуется в прямоугольные импульсы, начинающиеся в момент нулевого значения первой гармоники. Из прямоугольных импульсов, представляющих собой спектр частот, с помощью дополнительного усилителя 6 выделяется напряжение третьей гармоники, которое через фазовращатель 8 поступает на вход фазового детектора 7. Выходное напряжение фазового детектора измеряется регистратором 9.

Повышение отношения сигнала к помехе в электромагнитном структуроскопе происходит за счет одновременного учета амплитудно-фазовых соотношений как первой, так и третьей гармонических составляющих. Амплитзда и фаза третьей гармоники, несущие информацию о структурном состоянии объекта контроля, используются в рабочем канале структуроскопа. Фаза первой гармоники, зависящая от таких, например, мешающих параметров, как изменения геометрических размеров или удельной электрической проводимости, используется в канале опорного напряжения. Фаза выходного напряжения опорного канала устанавливается с помощью фазовращателя 8, определяется фазой первой гармоники сигнала преобразователя. В результате при появлении мешающих факторов наблюдается одновременный фазовый сдвиг как в измерительном, так и в опорном канале, и вследствие этого величина

разности фаз остается практически неизменной. Влияние мешающих факторов на выходной сигнал фазового детектора 7, фиксируемый регистратором 9, значительно

снижается.

Применение электромагнитного структуроскопа Позволяет повысить точность контроля физико-механических свойств ферромагнитных изделий, значительно увеличить

производительность труда, механизировать трудоемкие процессы, автоматизировать технологические процессы в массовых крупносерийных производствах.

Формула изобретения

Электромагнитный структуроскоп, содержащий генератор, соединенный с ним преобразователь, «подключенные к его выходу селективные усилители первой и третьей гармоник сигнала и регистратор, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, он снабжен последовательно соединенными триггером Шмидта, дополнительным селективным усилителем третьей гармоники, фазовращателем и фазовым детектором, другой вход которого соединен с выходом усилителя третьей гармоники, включенными между усилителем первой гармоники и регистратором. Источники информации,

принятые во внимание при экспертизе

1.Покровский А. Д. Способ отстройки от мешающих параметров ири совместном использовании первой и третьей гармоник ЭДС. «Изв. Вузов, Физика, 1966, № 4, с. 52-60.

2.Авторское свидетельство СССР № 426184, кл. G 01N 27/86, 1972.

Похожие патенты SU649998A1

название год авторы номер документа
Электромагнитный структуроскоп 1980
  • Величко Виктор Леонидович
  • Мелешин Валентин Филиппович
  • Гнедов Дмитрий Васильевич
SU894545A1
Электромагнитный структуроскоп 1981
  • Хвалебнов Юрий Петрович
  • Мамонтова Наталия Юрьевна
  • Семенков Владимир Викторович
  • Кадышкин Борис Александрович
  • Тузов Михаил Сергеевич
  • Климова Ирина Ивановна
SU983526A1
Вихретоковый структуроскоп 1983
  • Мужицкий Владимир Федорович
  • Лапшин Валерий Сергеевич
  • Карабчевский Владимир Анатольевич
  • Новицкий Валерий Иванович
  • Науменко Виталий Алексеевич
  • Флеер Наум Романович
SU1116378A1
Устройство для многопараметрового контроля качества материалов и изделий 1981
  • Мужицкий Владимир Федорович
  • Смирнов Анатолий Серафимович
  • Сартаков Валерий Дмитриевич
  • Лапшин Валерий Сергеевич
  • Воропаев Сергей Иванович
SU1107037A1
Способ электромагнитного контроля 1979
  • Франкфурт Владимир Ишиевич
SU859902A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ АВТОМАТИЧЕСКОГО ЭКСПРЕСС-АНАЛИЗА КОНЦЕНТРАЦИИ САХАРА И ДРУГИХ ОПТИЧЕСКИ АКТИВНЫХ ВЕЩЕСТВ В ПРОЗРАЧНЫХ РАСТВОРАХ 1998
  • Бадалян А.М.
  • Поляков О.В.
  • Беднаржевский С.С.
  • Акинина Е.В.
  • Смирнов Г.И.
RU2145418C1
Вихретоковый дефектоскоп 1982
  • Мужицкий Владимир Федорович
  • Лапшин Валерий Сергеевич
  • Бодров Александр Николаевич
  • Мартынова Ирина Анатольевна
SU1056041A1
Устройство для вихретокового контроля 1976
  • Курозаев Виктор Павлович
  • Бакушев Владимир Александрович
  • Плешаков Анатолий Иванович
SU742700A1
Амплитудно-фазовый оптический датчик перемещений 1989
  • Конаков Николай Дмитриевич
  • Трофимов Анатолий Николаевич
  • Мурашкина Татьяна Ивановна
  • Киреева Галина Александровна
SU1670408A1
Феррозондовый дефектоскоп 1980
  • Франкфурт Владимир Ишиевич
SU868541A1

Иллюстрации к изобретению SU 649 998 A1

Реферат патента 1979 года Электромагнитный структуроскоп

Формула изобретения SU 649 998 A1

-5

SU 649 998 A1

Авторы

Мужицкий Владимир Федорович

Курозаев Виктор Павлович

Покровский Алексей Дмитриевич

Ревков Евгений Георгиевич

Хвалебнов Юрий Петрович

Смирнов Анатолий Серафимович

Васильев Василий Дмитриевич

Мироненко Владимир Семенович

Даты

1979-02-28Публикация

1976-12-27Подача