Способ определения деформаций деталей Советский патент 1979 года по МПК G01B11/16 

экране 4 интерференционной картине путем определения вектора перемещения /г/ в исследуемой точке

I А-|

Дг :

«Г

В зависимости от длины волны источника когерентного света К, расстояния от негативов до экрана L, масштаба фотографирования т и периода интерференционных полос Т.

Деформация по всей исследуемой детали определяется при сканировании лучом источника когерентного света по всей поверхности негативов. Поскольку требования к системе сканирования существенно ниже, а база усреднения значительно меньше, то тем самым процесс определения деформаций упрощается, а его точность повышается. Процесс определения деформаций можно автоматизировать при использовании фотоэлектронной системы анализа интерференционной картины, например фотодиодной матрицы.

Данный способ может быть использован для исследования напряженно-деформированного состояния элементов конструкций и деталей машин и может дать при его реализации существенное упрощение и повышение точности определения деформаций, что особенно важно для диагностики технического состояния эксплуатируемых конструкций и при серийном производстве ответственных деталей.

Формула изобретения

Способ определения деформаций деталей, заключающийся в том, что на исследуемую и эталонную детали наносят сетки в виде нерегулярного растра, прикладывают к исследуемой детали нагрузку, фотографируют обе детали, накладывают один негатив на другой, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и упрощения процесса определения деформаций, после наложения негативов просвечивают их нерасширенным пучком когерентного света, сканируют этим пучком по поверхности негативов и по образующейся на экране интерференционной картине определяют деформацию.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.Дюрелли А. и Парке В. Анализ деформаций с использованием муара. М., «Мир, 1974, с. 149-152.

2.Авторское свидетельство СССР 373522, кл. G 01 В 11/16, 1973.