Способ исследования мощных электронных ламп Советский патент 1946 года по МПК H01J9/42 

При разработке электронных ламп приходится проводить много проб с различными вариантами конструкции. В ряде случаев система электродов получается настолько сложной, что ее заранее нельзя достаточно точно рассчитать. При этом приходится учитывать то, что характеристика той или иной лампы определяется не только ее формой и конфигурацией электродов, но и состоянием их поверхности (динатронный эффект, термотоки и т., п.). С использованием в конструкциях ламп принципов электронной оптики расчет их усложняется. Значительные трудности представляет также учет явлений электронного пространственного заряда, имеющего место в пространстве между анодом и сеткой нри пропускании через лампу больших токов.

Проводить большое количество проб при разработке электронных, например, генераторных ламп большой мош,ности представляет большие трудности. На это расходуется много времени и труда. Довольно сложными и серьезными технологическими операциями являются такие, как изготовление анода сварка его с баллоном, откачка лампы и другие операции.

Далее, экспериментирование с таКИЛИ1 ла-ушами в начительной мере затруднено в том отношении,, что нельзя наблюдать тех явлений, которые происходят внутри лампы (искрения, местные перегревы, пробои и пр.), так как наружный анод является в этих ламиах частью их оболочки и закрывает внутренние электроды.

Предлагаемый способ исследования на макетах мощных электронных ламп с наружным анодом в отношении их характеристик при разработке образцов в значительной мере свободен от недостатков известных способов.

Это достигается в предлагаемом способе за счет того, что, согласно изобретению, при нем аноды макетных ламп помещают внутри их баллонов. Прием осуществления предлагаемого сиособа состоит в применен1П1 макетных ламп с пере.мещаемыми вдоль оси их внутренними анодами.

Возможность иомещения анодов ламп внутри их баллонов достигается при этом за счет применения

импульсного питания электродов. Как известно, при импульсных методах снятия характеристик ламп при достаточно узких и редких импульсах моидность, рассеиваемая электродами, во много раз (сотни или тысячи раз) меньше, чем при обычном снятии характеристик. В силу этого обстоятельства, внутренний анод дает возможность снять необходимые характеристики и параметры лампы, вполне выдерживая режим испытания.

Что касается адагрева анода из.- учением катода, то с ним можно не считаться ,при достаточно большой поверхности анода.

Передвиженд е анода внутри колбы можно осуш;ествить различными способами,; например, при помощи наружного iViaruHTa. Выдвигание анода но оси лампы открывает внутреннюю арматуру, что бывает полезно либо для ее визуального исследования., ;и1бо же для улучитения прогревания токами высокой частоты при помощи катущки, надетой на баллон лампы.

От операции заварки лампы можно избавиться, если арматуру лампы вместе с внутренним анодом поместить под стеклянный колпак, из которого выкачивается воздух.

П ip е д м е т изобретения

1.Сиособ исследоваиия мощных электронных лалш с наружныл анодом в отнощении их характеристик при разработке образнов, с применением макетов ламп и импульсного питания электродов при снятии характеристик макетных .яамп, отл и ч а ю щ и и с я те.м, что аноды макетных ламп помещают внутри их баллонов.

2.Прием вьшолнения способа ио п. 1, о т л и ч а ю щ и и с я применением макетных ламп с анодалпт, перемещаемыми вдоль ламп.