Микроскоп падающего света Советский патент 1979 года по МПК G02B27/28 

# r l i i fi Микроскоп падаю1йегс1 свёта работает следую . v-r -. щим образом. Свет от источника проходит через коллек тор 2, поляризатор 3 и опак-иллюминатор 4, попадает на анизотропную пластинку 5. При повороте пластинки 5 на угол ск плоскость поляризации прошедшего света повернется на угол 2а. При обратном ходе лучей, отражённы от объекта, плоскость поляризации света восстанавливается независимо от угла поворота ластинки. Благодаря введению поворотной анизотропно пластинки обеспечена возможность плавного изменения направления плоскости поляризации на исследуемом объекте на любой заданный угол без изменения положения объекта и анализатора относительно друг друга. Формула изобретения Микроскоп падающего света, содержащий объектив, поляризатор, опак-иллюминатор, анализатор и окуляр, отличающийся тем, что, с целью првыщения точности измерений азимутальных характеристик наблюдаемых объектов, устройство содержит полуволновую фазовую пластинку, установленную между опакиллюминатором и объективом перпендикулярно оптической оси микроскопа с возможностью поворота вокруг этой оси: Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Скворцов и др. Микроскопы. Л., Машиностроение, Д969. 2./ppE.Phys Lett 1971, т. 18, № 1, с. 3-4. Scott W.c:de Wit M.,,B-iVefHng-ence compensation and ТЕ MOO mode onfiancement Ina Nd : Easen.

7 P

JJF

fi-