Способ оценки качества маскировки объекта Советский патент 1947 года по МПК F41H3/00 

Предметом изобретения является способ оценки качества маскировки объекта по величине предельной дальности видения объекта. Для определения последней может быть применена панкратическая зрительная система, обладающая увеличением, меньшим единицы, и имеющая соответствующую отсчетную шкалу. Примерная форма выполнения панкратнческой 3)рительной системы, выполненной в виде бинокля, представлена на фиг. 1 и 2: на фиг. 1 дан общий вид; на фиг. 2-продольный разрез трубки бинокля.

Бинокль представляет собой телескопическую систему. Последняя состоит из объектива 1 и оборачивающей изображение системы, состоящей из двух линз 2 и и окуляра 4. Линзы 2 и 3 оборачивающей системы имеют возможность аксиально перемещаться, причем каждому их положению соответствует опреде.. ленное увеличение, большее или меньшее единицы, оптической системы бинокля.

Линзы могут перемещаться плавно при помощи многозаходного винта, вращаемого за головку 5.

Для того, чтобы можно было определять увеличение бинокля по положению в нем линз 2 и 3, его снабжают соответствующими шкалами.

Панкратический бинокль предназначен для оценки качества маскировки объектов путем рассматривания их при заданном увеличении.

Если объект рассматривается на расстоянии Д, а увеличение, да ваемое оптической системой, обозначить через Г, то объект рассматривается на эффективной дистанции.

Д ГД.

Таким образом, при наблюдении из одной точки (при одном и том же расстоянии Д) можно оценить впечатление, создаваемое маскировкой на различных расстояних, что достигается изменением увеличения Г путем соответствующего изменения положения в бинокле линз 2 и 3.

Предмет изобретения

Способ оценки качества маскировки объекта, отличающийся тем, что об указанном качестве судят по величине предельной дальности видения объекта, определяемой, например, при помощи панкратической зрительной системы, обладающей увеличением, меньшим единицы.

№ 67829

2 Фиг. 1

Фиг. 2

ssssd

J