Устройство для поверки средств измерений параметров слабых постоянных и переменных магнитных полей Советский патент 1979 года по МПК G01R35/00 G01R33/02 

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОВЕРКИ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ ПАРАМЕТРОВ СЛАБЫХ ПОСТОЯННЫХ И ПЕРЕМЕННЫХ

12 МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ Целью изобретения является повышение точности поверки средств измерений параметров слабых постоянных и переменных ма.гнитных полей. Для этого устройство, содержащее многослойный ферромагнитный экран и размещенную внутри него катушку, снабжено дополнительной катушкой, расположенной внутри упомянутой катушки, при этом обмотки катушек включены встречно, а сами катушки установлены с воздушным зазором относительно внутреннего слоя экран Сущность изобретений.поясняется чертежом. Устройство состоит из ферромагни ного экрана 1, расположенной в нем катушки 2, в которой установлена дополнительная катушка 3, обмотки катушек 4,5 включены встречно, а Ойи еами установлены так, что имеют воздушный зазор с внутренним слоем экрана. . . . , Устройство работает следующим образом, . , . . В ферромагнитном экране 1, который обеспечивает защиту от поля, зем ли и его вариаций, располагают соосно две катушки 2 и 3 разного диа.метра, их ,обмотки 4 и 5 включают встречно.. Катушки 2 и 3 устанавлива ют так, что они имеют воздушный зазор о носительно внутреннего слоя б экрана 1. Зазор выбирают такой вели чины, чтобы исключить влияние полей рассеяния катушек 2 и 3 на нама ниченность внутреннего слоя б экра.на1. В центре катушек 2 и 3 устана ливают средство измерений параметро слабых постоянного или переменного Магнитного поля так, чтобы его маг нитная ось совпада.гйа с осью катушек 2 и 3. Затем в обмотки 4 и 5 катуше 2 и 3 подают ток I из.вес1:ной величи ны.. Paj3Mepbiкатушек 2 и 3, количество их витковэ4 и 5 выбраны таким образом, чтобы индукция внешнего ма нитного поля катушек 2 и 3 была ран на нулю, а индукция внутреннего поля не равна нулю. Индукцию внутри катушек 2 и З при подаче тока I в обмотки 4 и 5 рассчитывают по юрмуле В KC, где К(, - постоянная системы из двух катушек 2 и 3.. Далее проводят градуировку средства измерений в единицах индукции, подавая в обмотки 4 и 5 катушек 2 и 3 последовательность токов 1д ; известных значений и, рассчитывая индукцию В внутри катушек 2 и 3, создаваемую токами II, по формуле Bi, If. Так как внешнее магнитное поле катушек 2 и 3 равно ну.пю, а сами катушки 2 и 3 установлены так, что Имеют воздушный зазор относительно внутреннего слоя б экрана 1, то исключается влияние катушек 2 и 3 на намагниченность внутреннего слоя 6 экрана 1. То есть величина остаточного поля внутри экрана 1 в процессе градуировки остаётся постоянной. Величину остаточного поля экрана 1 можно учесть, измерив ее перед градуировкой средства измерений другим образцовым средством измерений с . низким порогом- чувствительности. Устройство позволяет определить также и смещенный нуль средства измерений путем его поворота на 180. Формула изобретения Устройство для поверки средств измерений параметров слабых постоянных и переменных магнитных полей, содержащее многослойный ферромагнитный экран и размещенную внутри него йатушку, о т л и чаю щ е е с я. Г тем, что, с целью повышения точности поверки, оно снабжено дополнительной катушкой, расположенной внутри упомянутой катушки, при этом обмотки liaTitfleK включены встречно, а сами катушки установлены с воздушным зазором относительно внутреннего слоя экрана. . . Источники информации, принятые ВО внимание при экспертизе 1.Чернышев Е.Т. и др. Магнит- . . ные измерения. М., 1969, с. 25-26, 100. 2.Измерительная техника , 1968, № 11, с. 77-78.