Способ моделирования полос поглощения с заданными параметрами для поверки фотометрических анализаторов Советский патент 1979 года по МПК G01J1/40 

Изобретение относится к области абсорбционного спектрального анализа, а точнее к метрологическому обеспечению промышленных фотометрических-анализато ров. Известен способ моделирования полос поглощения для поверки ({ютометрических анализаторов, заключающийся в том, что излучение пропускают через эталонные об разцы LI. Однако в некоторых случаях создание и хранение подобных эталонов связано с большими техническими трудностями. Кроме того они рассчитаны на поверку анализаторов в одной точке диапазона измерений. Наиболее близким по своей техническо сущности к данному изобретению является известный способ моделирования полос поглощения с заданными параметрами для поверки ({)отометрических анализаторов, заключающийся в том, что излучение источника света пропускают через узкополос- кый оптический фильтр с заданной полосой поглощения 2 . Однако реализация этого способа связана с подбором веществ, имеющих полосы поглощения аналогичные полосам анализируемого вещества в рабочей области спектра. Кроме того реализация способов для поверки анализатора по всему диапазону требует создания большого числа специальных фильтров. Цель изобретения - обеспечение моделирования полос поглощения в широком спектральном диапазоне. Для достижения этой цели формируют световой поток, содержащий некоторые части отраженного от фильтра и прошедшего через него излучения, причем фильтр не поглощает в рабочей области спектра. С целью повышения точности поверки сформированное излучение допопнатедьно пропускают через нерезонансный оптический фильтр. 369 На фиг. 1 представлен вид коэффициента пропускания узкополосного фильтра, я фиг. 2 - вид коэффициента отражения от на фиг. 3 изображена зависимость эффективного коэффициента отражения., со- ртветсвующего распределению по спектру интенсивности света в сформированном световом потоке. Интенсивность света, прошедшего через дополнительный фильтр, представлена на фиг. 4 ( Тд ). Па фиг. 5 представлено поворотное устройство, в котором реализован предложенный способ мо делирования полос поглощения. Поверочное устройство содержит непоглошаюший узкополосный фильтр 1, переменный ослабитель 2 и отражающую поверхность 3, источник света 4, поворотное зеркало 5, собирающее зеркало б и фотоприемник 7. В качестве примера рассмотрим реализацию способа для поверки отражательного анализатора влажности типа Апакоп. Моделирование заданной полосы поглощения происходит следующим образом. Излучение от источника света 4 отражается зеркалом 5 и попадает на фильтр 1. Часть его ( Тд ) (фиг. 1), пройдя через фильтр 1, ослабляется ослабителем 2 с коэффициентом пропускания К/ до величины К,Т (л ) и попадает на фотоприемник 7. Отраженное от фильтра 1 излучение 1 - Т (л) (фиг. 2), отразившись от зеркала 6 с коэффициентом отражения тоже собирается на фотоприемнике 7, при этом его интенсивность будетК2 1 Т/Л). Результирующее на фотоприемнике будет пропорционально Т К,Т{Л) + К2,1 -Т (Л) (фиг. 3). Для учета зависимости фона от длины волны излучение пропускают дополнительно через нерезонансный оптический фильтр (на фиг. 5 не показан). Предложенный способ позволяет просто и эффективно осушестви1Ъ поверку фотометрических анализа1Х)ров по всему диапазону измерений. Особенный интерес он представляет для поверки трехволновых фотометров, для ко1хэрых в настоящее время не разработано способов поверки за исключением использования перви1ных и вторишых эталонов. 4 ормула изобретения Способ моделирования полос поглощения с заданными параметрами для поверки фотометрических анализаторов, заключающийся в том, что излучение источника света пропускают через узкополосный оптический фильтр, отлич ающий- с я тем, что, с целью обеспечения моделирования полос поглои1ения в широком спектральном диапазоне, формируют световой поток, содержащий части отраженного от непоглощающего в рабочей части спектра фильтра и прошедшего через него излучения, затем пропускают через дополнительный нерезонансшлй оптический фильтр. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Прикладная ИК-спектроскопия. Под ред. Кендалля, М., Мир, 197О, с. 226. 2.Патент США № 3922095, кл. 356-225, опублик. 1973, (прототип).

J.

PuiJ

Ml

г,Л

fiJг.2

«-Л

риг.З

//А

Фиг. 5