Устройство для измерения параметров диэлектриков в полосе частот Советский патент 1979 года по МПК G01R27/26 

1

Изобретение относится к технике радиоизмерений.

Известно устройство для измерения параметров диэлектриков в полосе частот, содержащее свип-генератор, усилитель импульсов стабилизации, делитель мощности, датчик полных сопротивлений, короткозамкнутый отрезок волновода с исследуемым образцом и унифицированный индикатор .

Недостатком этого известного устройства является сложность процесса измерения.

Известно также устройство для измерения параметров диэлектриков в полосе частот, содержащее свип-генератор, к сверхвысокочастотному выходу которого подключены последовательно соединенные развязывающий элемент и основные каналы направленных ответвителей прямой и отраженной волн, вторичные каналы которых соединены с индикатором через детекторы, и линию передачи с исследуемым диэлектриком, подключенную к выходному плечу основного канала направленного ответвителя отраженной волны 2.

Однако и это известное устройство не обеспечивает простой процесс измерения.

Цель изобретения - упрощение процесса измерения.

Для этого в устройство для измерения параметров диэлектриКбй в полосе частот, содержащее свип-генераТор, к Сверхвысокочастотному выходу которого подключены последовательно соеДйнейные развяЗЫвающий элемент и основные каналы направленных ответвителей прямой и отраженной волн, вторичные каналы которых соединены с индикатором через детекторы, и линию передачи с исследуемым диэлектриком, подключенную к выходному плечу основного канала направленного ответвителя отраженной волны, вторичные каналы которых соединены с индикатором через детекторы, и линию передачи с исследуемым диэлектриком, подключенную к выходному плечу основного канала направленного ответвителя отраженной волны, введена регулируемая по величине реактивность, установленная в месте соединения основных каналов направленных ответвителей прямой и отраженной волн, при этом линия передачи с исследуемым диэлектриком выполнена короткозамкнутой. На чертеже приведена структурная схема

предлагаемого устройства.

Устройство для измерения параметров диэлектриков в полосе частот содержит свип-геиератор 1, к сверхвысокочастотному выходу которого подключены последовательно соединенные развязывающий элемент

2 и основные каналы направленных ответвителей 3 и 4 прямой и отраженной волн, вторичные каналы которых соединены с индикатором 5 через детекторы б и 7, линию 8 передачи с исследуемым диэлектриком 9, подключенную к выходному плечу основного канала направленного ответвителя 4 отраженной волны и регулируемую по величине реактивность 10, установленную в месте соединения основных каналов направленных ответвителей 3 и 4 прямой и отраженной волн, при этом линия 8 передачи с исследуемым диэлектриком 9 выполнена короткозамкнутой.

Свип-генератор 1 состоит из блока И сверхвысокой частоты, блока 12 частотной модуляции, блока 13 амплитудной модуляции и блока 14 автоматической регулировки мощности, при этом напряжения питания на свип-генератор 1 подаются с блока 15 питания.

Устройство работает следующим образом.

СВЧ сигнал, модулированный по частоте, со свип-генератора 1 через развязывающий элемент 2, основной канал направленного ответвителя 3 прямой волны, регулируемую по величине реактивность 10, основной канал направленного ответвителя 4 отраженной волны поступает в линию 8 передачи с исследуемым диэлектриком 9, отражается от короткозамыкателя 16 линии 8 передачи и через вторичный канал направленного ответвителя 4 отраженной волны подается на детектор 7, где он детектируется и поступает на индикатор 5, где происходит его усиление и сравнение с сигналом, прошедшим через вторичный канал направленного ответвителя 3 прямой волны и детектор 6. За счет многократного отражения СВЧ энергии от регулируемой по величине реактивности 10 и короткозамыкателя 16 на

экране электронно-лучевой трубки индикатора 5 наблюдаются зоны пропускания и зоны задерживания. По частотному свечению зон пропускания при внесении исследуемого диэлектрика 9 в линию 8 передачи определяется диэлектрическая проницаемость исследуемого диэлектрика 9, а по уменьшению амплитуды - тангенс диэлектрических потерь.

Применение устройства упрощает процесс измерения по сравнению с использованием прототипа.

Формула изобретения

Устройство для измерения параметров диэлектриков в полосе частот, содержащее свип-генератор, к сверхвысокочастотному выходу которого подключены последовательно соединенные развязывающий элемент и основные каналы направленных ответвителей прямой и отраженной волн, вторичные каналы которых соединены с индикатором через детекторы, и линию передачи с исследуемым диэлектриком, подключенную к выходному плечу основного канала направленного ответвителя отраженной волны, отличающееся тем, что, с целью упрощения процесса измерения, введена регулируемая по величине реактивность, установленная в месте соединения основных каналов направленных ответвителей прямой и отраженной волн, при этом линия передачи с исследуемым диэлектриком выполнена короткозамкнутой.

Источники информации,

принятые во внимание при экспертизе

1.Бондаренко И. К. и др. Автоматизация измерений параметров СВЧ трактов. М., Советское радио, 1969, с. 241.

2.Авторское свидетельство СССР № 406171, кл. G 01R 27/26, 1971 (прототип).