Устройство для коррекции отказов дублированных релейных элементов Советский патент 1980 года по МПК G06F11/00 H05K10/00 

Изобретение откосится к цифровой технике и может быть использовано в устрой ствах, релейной защиты энергетических объектов, в устройствах автоматического управления и в управляющих вычислительных машинах. Известно устройство для коррекции О-Р казов дублированных логических элементов, содержащее резервируемые логические блоки, выходы которых с.оединены со входами восстанавливающего блока Щ . Недостаток устройства - увеличение параметра потока отказов некорректируемого типа, так например, при использовании корректирующего устройства, Bbrnojr ненного в виде схемы И, сокращается параметр потока ложных срабатываний дублированных релейных элементов, но повышается параметр потока отказов в сра батывании при использовании корректирующего устройства, выполненного в виде схемы ИЛИ - наоборот. Наиболее близкл 5 техническим решением к изобретению является устройство для коррекции отказов дублированных релейных элементов, содержащее подключенный к выходам релейных элементов через первый элемент контроля элемент 1за.держки, к выходу которого подключен блок проверки релейных элементов, и элементы И, ИЛИ, НЕ 2. Недостаток устройства состоит в том, что наличие в составе релейного элемента инерционных звеньев может приводить к заметному снижению быстродействия корректирующего устройства. Кроме того, устройство не обеспечит правильную коррекцию ошибок дублированных релейных элементов, если необходимое для их сра- батывания входное воздействие существует кратковременно, исчезая до момента завершения тестовой проверки (указанное явление характерно для релейных элементов, входящих в состав селективных измерительных органов защиты Л1ший элект ропередач ЛЭП постоянного тока, условия для срабатывания которых существуют только в течение определенного интервала времени после возникновения аварии). Цель изобретения - расширение функциональных возможностей и повышение быст родействия устройства. Поставленная цель достигается тем, что устройство для коррекции отказов ду& лированных релейных элементов содержит второй элемент контроля, к входам которого подключены выходы релейных элемен тов и- элемента задержки, а выход подклкн ;чен к одному из входов элемента ИЛИ, кр второму входу которого подключен выход элемента И, к входам которого подключены выходы, релейных элементов И через элемент НЕ выход элемента задержки, На фиг. 1 приведена блок-схема устройства при любом виде испытательного воздействия; а на фиг, 2, 3 - частные случаи блок-схем устройства, когда испь1тательное воздействие переводит исправ ный реленый элемент в сработанное и не сработанное состояние соответственно. Устройство (фиг.1) содержит дубли рованные релейные элементы 1 и 2, элемент И 3, первый элемент 4 контроля, элемент 5 задержки, второй элемент 6 контроля, блок 7 проверки релейных элементов, элемент НЕ 8 и элемент ИЛИ 9, Устройство (фиг. 2) содержит второй элемент 6 ксянтроля, выполненный на элвп ментах Ю неравнозначности и элементе 11 задержки. Устройство (фиг. 3) содержит второй элемент 6 контроля, выполненн ый на элэ ментах НЕ 12 и 13 и элементе ИЛИ 14 Устройство для коррекции отказов дубч лированных релейных элементов работает следующим образом, При отсутствии отказов в дублированных релейных элементах 1, 2 сигналы на их выходах совпадают, и первый элемент 4 контроля находится в несработавшем состоянии, так как условия срабатывания 4 где Х, Xg,X сигналь на выходах дуб лированных релейных элементов 1, 2 и элемента 4 контроля соответственно. При этом в несработавшем состоянии находатсн элемент 5 задержки и второй элемент 6 контроля и истчэчник испытательного воздействия. Если требования к срабатыванию релейных элементов нет, указанньте элементы находятся в несработавшем состоянии, что обуславливает несрабатывание элемен та И 3 и всего устройства (элемент ИЛИ 9). При появлении требования к срабатыванию релейных элементов оба они срабатывают, приводя к срабатыванию элемент И 3 и элементИЛИ 9. При вознираювении в одном из релейных элементов неисправности, приводящей к несоответствию в работе элементов,сра- батывания элемента И 3 не проходит. Возникшее несоответствие фиксируется элементом 4, чт-о приводит к срабатыванию элемента 5 задержки, срабатывание которого приводит к срабатыванию блок 7 про- верки релейных элементов, который подает сигнал тестовой проверки на входы релейных элементов 1, 2. Кроме того, при срабатывании элемента 5 задержки на выходе элемента НЕ 8 появляется сигнал соответствующий логическому О, что исключает срабатывание элемента И 3. Еоли на поданный тест правильно реагирует релейный элемент, сработавший при возникновении несоответствия, элемент 6 срабатьшает, вызывая срабатывание элемента ИЛИ 9, При этом срабатывание корректирующего устройства (срабатывание элемента ИЛИ 9) происходит сразу же после окончания теста (срабатывания элемента 6), Срабатывание корректирующего устройства произойдет независимо от того, продолжают ли существовать условия для срабатывания релейных элементов. Если же на Поданный тест правильно реагирует релейный элемент, не сработавший при возникновении несоответствия, срабать вания элемента 6 не происходит. В не сработавшем состоянии остается и уст ройство коррекции. Для случая, когда формируемое испы тательное воздайствие переводит испра&ный релейный элемент в сработанное состояние (фиг, 2), при возникновении носоответствия происходит запуск элемента 11 задержки. Если несоответствие было обусловлено отказом в срабатывании релейного элемента (исправен сработавший элемент), то несоответствие сохраняется и после окончания теста, элемент 11 задержки набирает выдержку времени и срабатывает, выдавая сигнал на срабатывание элемента ИЛИ 9. Если же несоответствие было вызвано ложным срабатыванием релейного элемента (исправен несработавший элемент), то после подачи указанного теста в сработанном состо|Янии окажутся оба релейныхэлемента, несоответствие исчезнет, и срабатьтвания элемента 11 задержки не произойдет. В случае, когда формируемое испытательное воздействие переводит исправный релейный .элемент в несработанное состоя ние (фиг. 3) при возникновении несоот ветствия из-чза отказа в срабатывании релейного элемента (исправен, сработавши элемент), после подачи указанного теста оба релейных элемента окажутся в несработавшем состоянии, что приведет к срабатыванию элемента ИЛИ 14 и элемента ИЛИ 9. Если же несоответствие было вызвано ложной работой одного из релейных элементов (исправен несработавший элемент), то несоответствие сохранится и после подачи теста, и условия для срабатывания элемента ИЛИ 14 не водникнут, Повышая быстродействие коррекции от казов в работе дублированньпс релейных элементов и расширяя возможности применения такой коррекции, предлагаемое изобретение сокрашает ущерб, обусловленный отказом, релейных элементов, самым способствует повышению эффективности функционирования устройств, в состйв которых входят указанные релейные элементы. Например, будучи примененным для коррекции отказов релейной защиты энергетических объектов указанное .ройство сокращает ущерб, обусловленный отказами реле защиты, не вызывая при этом существенного ухудшения быстродействия защиты. Формула изобретения Устройство для коррекции отказов дублированных релейных элементов, содержалщее подключенный к выходам релейных элементов через первый элемент контроля задержки, к выходу которого подключен блок проверки релейных элементов, и элементы И, ИЛИ и НЕ, отличающееся тем, что, с целью расщирения функциональных возможностей и повышения быстродействия устройства, с«о содержит второй элемент контроля, к входам котг рого подключены выходы релейных элементов и элемента задержки, а выход nopf - ключен к одному из входов элемента ИЛИ, ко второму входу которого подключен выход элемента И, к входам которого подключены выходьг релейных элементов и через элемент НЕ выход элемента задержки. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Доманидкий С. М. Построение надежных логических устройств. М.,Энергия 1971, с. 67, рис. а, 4. 2.Щербаков Н. С. Самокорректирующиеся дискретные устройства. М., Маши ностроение, .1975, с. 108-109, рис.48 (прототвп).

Выход