Способ измерения счетной характеристики фотоэлектронного приемника Советский патент 1980 года по МПК H01J39/00 G01R31/25 

Изобретение, относится к фотоэлектронным приемникам и может быть использовано при определении рабочего диапазона напряжений питания 5 приемника для установления наиболее выгодной рабочей точки его при отборе приемников с целью регистрации слабых световых потоков на уровне отдельных фотонов. .iQ

Известен способ измерения счетной характеристики фотоэлектронных приемников, состоящий в том, что при каждом напряжении питания и установленных значениях порога ампли- 4с тудной дискриминации и коэффициента передачи от приемника к дискриминатору, постоянных для всех напряжений питания, измеряют скорость счета выходных импульсов фотоэлектрон- 20 ного приемника 1,

Однако при таком способе измерения результат-зависит от установленных значений порога амплитудной дискриминации и коэффициента передачи 25 от приемника к дискриминатору, что приводит к большим ошибкам измерения.

Наиболее близким техническим решением к изобретению является ,«

способ измерения счетной .характеристики фотоэлектронного приемника, включающий задание нормирующего значения амплитуды и измерение параметра амплитудного распределения выходных импульсов приемника, коррекцию величины измеренного параметра относительно заданного значения амплитуды путем изменения коэффициента передачи от приемника к регистрирующему устройству, дискриминацию импульсов малой амплитуды и измерение скорости счета выходных импульсов приемника при неизменном пороге дискриминации 2.

Недостатком известного способа является то, что область его применения ограничена фотоэлектронными прие1 «иками, имеющими амплитудное распределение выходных импульсов с максимумом, обусловленным только одноэлектронными импульсами. Краме( того, точность измерений, проводимых по известному способу, невелика из-за -изменения формы амплитудного распределения при изменениях напряжения питания.

Цель изобретения - расширение . класса пригодных для счета фотонов

приемников и повышение точности измерений .

Указанная цель достигается тем, что в качестве параметра амплитудного распределения измеряют среднее значение амплитуды одноэлектронных импульсов,

Измерение счетной характеристики фотоэлектронного приемника, согласно изобретению, проводят на установке, состоящей из последовательно подсоединенных к выходу приемника предварительного и основного реглируемого широкополосных усилителей нагруженных на йходы амплитудного дискриминатора и многоканального амплитудного анализатора. При каждом напряжении питания с помощью анализатора измеряют среднюю амплитуду одноэлектронных импульсов и номируют ее к заранее заданному значению путем регулировки коэффициент передачи основного усилителя.

После подгонки средней амплитуды одноэлектронных импульсов измеряют скорость счета шумовых импульсов с выхода приемника, превышающих заранее заданный и постоянный при всех напряжениях питания порог амплитудной дискриминации.

Аналогичные измерения проводят при других напряжениях питания до тех пор, пока не будут определены границы плато счетнойхарактеристи-ки или установлен факт его отсутстВИЯ .

Формула изобретения

Способ измерения счетной характеристики фотоэлектронного приемника, включающий задание нормирующего значения с1мплитуды и измерение параметра амплитудного распределения выходных импульсов приемника, коррекцию величины измеренного параметра относительно заданного значения амплитуды путем изменения коэффициента передачи от приемника к регистрирующему устройству, дискриминацию импульсов малой амплитуды и измерение скорости счета выходных импульсов приемника при неизменном пороге дискриминации, отличающийся , что, с целью расширения класса пригодных для счета фотонов приемников и повышения точности измерений, в качестве параметра амплитудного распределения измеряют среднее значение ампли.туды одноэлектронных импульсов.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.. Перцев А.Н., Писаревский А.Н. Одноэлектронные характеристики ФГУ и их применение. М., Автомиздат, 1971, с. 10-13.

2. -Перцев А.Н. и др. о методике измерения счетной характеристики одноэлектронного ФЭУ. Журнал прикладной спектроскопии

т. 12,

№ 5, 1970, с. 952 (прототип).