1
Изобретение относится к области технической физики и касается способов измерения изменения азимута плоскости поляризации светового излучения,, вызываемых либо механическим воздействием на один из поляризующих эле- ментов, либо воздействием на азимут ;поляризации оптичейки активным веществом.- 10
Известен способ следящего преобразования 1, в котором через оптически активное вещество пропускают линейно поляризованное излучение с непрерывновращающейся плоскостью поля- j ризадии с дальнейшей механической обработкой измеряемого изменения азимута плоскости поляризации излучения путем поворота анализатора-компенсатора. Необходимость механического 20 привода ограничивает точность измерений по этому способу.
Наиболее близок к изобретению способ измерения величины оптической активности веществ, включающий полу-25 чение линейно поляризованного излучения, поворот плоскости поляризации оптически активньюл объектом и анешизирование положения плоскости поляризации вращающимся поляризующим эле- JQ
ментом с последующим делением излучения на два пучка, один из которых - рабочий - пропускают через исследуемое вещество, а другой является опорным. О величине оптической активности исследуемого вещества судят по разности аз между переменными.составляющими интенсивности опорного и ра.-. бочего пучков .JjiJ
Необходимость деления излучения на два пучка и наличие дополнительных Ьптического и фотоэлектронного каналов делает сложным устройство и снижает точность измерений и экономичность при реализации этого способа.
Целью изобретения является повышение точности и экономичности способа измерений изменения азимута плоскости поляризации.
Для достижен 1я указанной цели проанализированное излучение дополнительно последовательно как минимум однократно поляризуют и измеряют взаимное смещениесопряженных временных интервалов/ образующихся между моментами максимального гашения излучания.
На фиг. 1 представлена блок-схема одного из возможных устройств для реализации способа; на фиг. 2 - зависимость интенсивности излучения, падающего на фотоприемник, от поворота плоскости поляризации.
Излучение источника 1 пропускают последовательно через монохроматор 2, неподвижный поляризатор 3, измерительную кювету 4 с оптически активным веществом, вращающийся линейный поляризатор 5, неподвижный поляризатор б и направляют на фотоприемник 7, электрические сигналы с которого поступают в электронно-счетное устроство 8.
При отсутствии в рабочей кювете 4 оптически активного вещества интенсивность падающего на фотоприемник 7 излучения будет меняться по закону:
D - 3 Q сюз V сое (Р О - сА)
где JQ - интенсивность излучения
после монохроматора 2; ok - текущее значение угла между неподвижным поляризатором 3 и вращающимся поляризатором 5.
Кривая I на фиг. 2 соответствует относительному изменению интенсивности в зависимости от угласт.
При этом временные интервалы с и t между моментами максимального гашения излучения равны между собой, а их сумма TQ : т; + tj определяете я временем полного оборота вращающегося анализатора.
Оптически активное вещество, помещенное в рабочую кюветуJ вызовет поворот плоскости поляризации излучения на угол U oi . При этом интенсивность падающего на фотоприемник излучения будет меняться по закону
3«ЗдСС ().С09(00 -СЛУ
Кривая II на фиг. 2 соответствует относительному изменению интенсивности в этом случае, построенная ,цля частного значения дЦ 18 ВремеН ные интервалы тг и t. между моментами максимального гашения излучения уже различны и их разность характеризует изменение- азимута поляризации, вызванное оптически активн(лм веществом.
Для исключения влияния нестабильности вращения поляризатора 5 измеряют отношение разности этих интервалов к их сумме т. е. величину
7-. -г:
itr -о.
о
Эти операции осуществляют электронно-счетное устройство 8 показания которого могут быть отградуированы непосредственно по величине д ok.
Применение способа, устраняя необходимость применения следящего привода и дополнительного оптического канала, упрощает габариты оптической части поляриметрических приборов, позволяя выполнять оптическую часть в виде отдельных малогабаритных датчиков, а высокая разрещающая способность современных цифровых электронносчетных устройств, с их высоким быстродействием, создает возможность повышения точности и скорости измерения изменений азимута плоскости папяризованно5 о света по изложенному способу.
Формула изобретения
Способ измерения изменений азимута плоскости поляризации светового
D излучения, включающий получение линейно поляризованного излучения, поворот плоскости поляризации оптически активным объектом и анализирование положения плоскости поляризации,
5 вращающимся поляризующим элементом, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений и экономичности, проанализированное излучение дополнительно последовательд но как минимум однократно поляризуют и измеряют взаимное смещение сопряженных временных интервалов, образующихся между моментами максимального гашения излучения.
Источники информации,
5 принятые во внимание при экспертизе
1,Авторское свидетельство СССР № 65654, кл. G 01 N 21/40, 1941.
2,Авторское свидетельство СССР
W 374972, кл. G 01 N 21/40, 1973 (прототип).
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Спектральный эллипсометр | 1986 |
|
SU1369471A1 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ИЗМЕНЕНИЙ АЗИМУТА ПЛОСКОСТИ ПОЛЯРИЗАЦИИ ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ | 2004 |
|
RU2276348C1 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ОПТИЧЕСКИ АКТИВНЫХ ВЕЩЕСТВ В МУТНЫХ РАСТВОРАХ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 2006 |
|
RU2325630C1 |
Эллипсометр | 1988 |
|
SU1695145A1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОДЕРЖАНИЯ МЕТАЛЛОВ В ПРОБАХ МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОТЕРМИЧЕСКОЙ АТОМНО-АБСОРБЦИОННОЙ СПЕКТРОМЕТРИИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 2009 |
|
RU2421708C2 |
ПОЛЯРИМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОСТОЯННОЙ ВЕРДЕ ПРОЗРАЧНЫХ ВЕЩЕСТВ | 2017 |
|
RU2648014C1 |
СПЕКТРАЛЬНЫЙ ЭЛЛИПСОМЕТР | 2003 |
|
RU2247969C1 |
Способ эллипсометрической спектроскопии | 1983 |
|
SU1140009A1 |
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПРОВОДЯЩИХ ОБРАЗЦОВ | 1998 |
|
RU2148814C1 |
Двухсторонний скоростной эллипсометр | 2020 |
|
RU2749149C1 |
0,1 0.3
OJ
Авторы
Даты
1980-06-30—Публикация
1976-05-24—Подача