Способ измерения изменений азимута плоскости поляризации светового излучения Советский патент 1980 года по МПК G01N21/40 

Описание патента на изобретение SU744294A1

1

Изобретение относится к области технической физики и касается способов измерения изменения азимута плоскости поляризации светового излучения,, вызываемых либо механическим воздействием на один из поляризующих эле- ментов, либо воздействием на азимут ;поляризации оптичейки активным веществом.- 10

Известен способ следящего преобразования 1, в котором через оптически активное вещество пропускают линейно поляризованное излучение с непрерывновращающейся плоскостью поля- j ризадии с дальнейшей механической обработкой измеряемого изменения азимута плоскости поляризации излучения путем поворота анализатора-компенсатора. Необходимость механического 20 привода ограничивает точность измерений по этому способу.

Наиболее близок к изобретению способ измерения величины оптической активности веществ, включающий полу-25 чение линейно поляризованного излучения, поворот плоскости поляризации оптически активньюл объектом и анешизирование положения плоскости поляризации вращающимся поляризующим эле- JQ

ментом с последующим делением излучения на два пучка, один из которых - рабочий - пропускают через исследуемое вещество, а другой является опорным. О величине оптической активности исследуемого вещества судят по разности аз между переменными.составляющими интенсивности опорного и ра.-. бочего пучков .JjiJ

Необходимость деления излучения на два пучка и наличие дополнительных Ьптического и фотоэлектронного каналов делает сложным устройство и снижает точность измерений и экономичность при реализации этого способа.

Целью изобретения является повышение точности и экономичности способа измерений изменения азимута плоскости поляризации.

Для достижен 1я указанной цели проанализированное излучение дополнительно последовательно как минимум однократно поляризуют и измеряют взаимное смещениесопряженных временных интервалов/ образующихся между моментами максимального гашения излучания.

На фиг. 1 представлена блок-схема одного из возможных устройств для реализации способа; на фиг. 2 - зависимость интенсивности излучения, падающего на фотоприемник, от поворота плоскости поляризации.

Излучение источника 1 пропускают последовательно через монохроматор 2, неподвижный поляризатор 3, измерительную кювету 4 с оптически активным веществом, вращающийся линейный поляризатор 5, неподвижный поляризатор б и направляют на фотоприемник 7, электрические сигналы с которого поступают в электронно-счетное устроство 8.

При отсутствии в рабочей кювете 4 оптически активного вещества интенсивность падающего на фотоприемник 7 излучения будет меняться по закону:

D - 3 Q сюз V сое (Р О - сА)

где JQ - интенсивность излучения

после монохроматора 2; ok - текущее значение угла между неподвижным поляризатором 3 и вращающимся поляризатором 5.

Кривая I на фиг. 2 соответствует относительному изменению интенсивности в зависимости от угласт.

При этом временные интервалы с и t между моментами максимального гашения излучения равны между собой, а их сумма TQ : т; + tj определяете я временем полного оборота вращающегося анализатора.

Оптически активное вещество, помещенное в рабочую кюветуJ вызовет поворот плоскости поляризации излучения на угол U oi . При этом интенсивность падающего на фотоприемник излучения будет меняться по закону

3«ЗдСС ().С09(00 -СЛУ

Кривая II на фиг. 2 соответствует относительному изменению интенсивности в этом случае, построенная ,цля частного значения дЦ 18 ВремеН ные интервалы тг и t. между моментами максимального гашения излучения уже различны и их разность характеризует изменение- азимута поляризации, вызванное оптически активн(лм веществом.

Для исключения влияния нестабильности вращения поляризатора 5 измеряют отношение разности этих интервалов к их сумме т. е. величину

7-. -г:

itr -о.

о

Эти операции осуществляют электронно-счетное устройство 8 показания которого могут быть отградуированы непосредственно по величине д ok.

Применение способа, устраняя необходимость применения следящего привода и дополнительного оптического канала, упрощает габариты оптической части поляриметрических приборов, позволяя выполнять оптическую часть в виде отдельных малогабаритных датчиков, а высокая разрещающая способность современных цифровых электронносчетных устройств, с их высоким быстродействием, создает возможность повышения точности и скорости измерения изменений азимута плоскости папяризованно5 о света по изложенному способу.

Формула изобретения

Способ измерения изменений азимута плоскости поляризации светового

D излучения, включающий получение линейно поляризованного излучения, поворот плоскости поляризации оптически активным объектом и анализирование положения плоскости поляризации,

5 вращающимся поляризующим элементом, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений и экономичности, проанализированное излучение дополнительно последовательд но как минимум однократно поляризуют и измеряют взаимное смещение сопряженных временных интервалов, образующихся между моментами максимального гашения излучения.

Источники информации,

5 принятые во внимание при экспертизе

1,Авторское свидетельство СССР № 65654, кл. G 01 N 21/40, 1941.

2,Авторское свидетельство СССР

W 374972, кл. G 01 N 21/40, 1973 (прототип).

Похожие патенты SU744294A1

название год авторы номер документа
Спектральный эллипсометр 1986
  • Ковалев В.И.
SU1369471A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ИЗМЕНЕНИЙ АЗИМУТА ПЛОСКОСТИ ПОЛЯРИЗАЦИИ ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ 2004
  • Голубев Сергей Владимирович
  • Дунец Владимир Петрович
  • Козирацкий Александр Юрьевич
  • Козирацкий Юрий Леонтьевич
  • Кулешов Павел Евгеньевич
RU2276348C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ОПТИЧЕСКИ АКТИВНЫХ ВЕЩЕСТВ В МУТНЫХ РАСТВОРАХ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2006
  • Пеньковский Анатолий Иванович
RU2325630C1
Эллипсометр 1988
  • Ковалев Виталий Иванович
SU1695145A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОДЕРЖАНИЯ МЕТАЛЛОВ В ПРОБАХ МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОТЕРМИЧЕСКОЙ АТОМНО-АБСОРБЦИОННОЙ СПЕКТРОМЕТРИИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2009
  • Евсеев Олег Владимирович
  • Михновец Павел Владимирович
RU2421708C2
ПОЛЯРИМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОСТОЯННОЙ ВЕРДЕ ПРОЗРАЧНЫХ ВЕЩЕСТВ 2017
  • Пеньковский Анатолий Иванович
RU2648014C1
СПЕКТРАЛЬНЫЙ ЭЛЛИПСОМЕТР 2003
  • Дулин С.А.
  • Рыхлицкий С.В.
RU2247969C1
Способ эллипсометрической спектроскопии 1983
  • Котенев Владимир Анатольевич
  • Фокин Михаил Николаевич
SU1140009A1
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПРОВОДЯЩИХ ОБРАЗЦОВ 1998
  • Никитин А.К.
RU2148814C1
Двухсторонний скоростной эллипсометр 2020
  • Ковалев Владимир Витальевич
  • Ковалев Виталий Иванович
  • Ковалев Сергей Витальевич
RU2749149C1

Иллюстрации к изобретению SU 744 294 A1

Реферат патента 1980 года Способ измерения изменений азимута плоскости поляризации светового излучения

Формула изобретения SU 744 294 A1

0,1 0.3

OJ

SU 744 294 A1

Авторы

Аксенов Анатолий Семенович

Фролов Альберт Константинович

Даты

1980-06-30Публикация

1976-05-24Подача