Феррозондовый дефектоскоп Советский патент 1980 года по МПК G01N27/84 

Описание патента на изобретение SU781689A1

1

Изобретение относится к устройствам неразрушающего контроля и может быть использованодля оценки структурного состояния изделий, например деталей подшипников.. S

Известен феррозондовый дефектоскоп, содержащий источник намагничивающего тока для намагничивания объекта контроля, феррозонды, .генератор для их возбуждения и последовательно 10 соединенные усилитель гармоники тока возбуждения феррозонда, детектор, селективный усилитель, настроенный на удвоенную частоту тока намагничивания, и индикаторное уст- 15 ррйство И.

Однако устройство обладает недостаточной чувствительностью из-за того, что дефектоскоп реагирует на амплитуду удвоенной частоты намагни- 20 чивгшядего тока.

Наиболее близким.по технической сущности к изобретению является феррозондовый дефектоскоп, содержащий намагничивающий блок для намагничи- 25 вания изделия, феррозонды, высокочастотный генератор для их возбуждения, последовательно I соединенные усилите нь второй гармоники тока возбуждения ррозондов, детектор, селективный 3@

- aariy-y -v: ;.-,.-,.--; . - .усилитель высшей гармонической составлюящей намагничивающего тока и амплитудно-фазовый анализатор 2.

Недостатком известного утсройства является низкая точность контроля изделий небольших размеров, напрИ7 мер деталей подшипников. Это. связано со значительным влиянием мешающих факторов на результаты контроля.

Цель изобретения - повышение точности.

Цель достигается тем, что дефектоскоп Снабжен выпрямительным (преобразователем максимального значения, подключенным к детектору, и детектр ром отношения амплитуды гармоники к максимальному значению огибаквдей, входы которого связаны с селективным усилителем высшей гармонической составляющей намагничивающего тока и выпрямительным преобразователем максимального значения, а выход с амплитудно-фазовым анализатором.

На чертеже изображена блок-схема предлагаемого феррозондового дефектоскопа.

Он содержит намагничивающий блок 1 для намагничивания изделия 2, феррозтжды 3, высокочастотный генератор 4 для возбуждения феррозонда и последовательно соединенные усилитель 5 второй гармоники тока возбуждения феррозонда, детектор б, селекхИЕНый усилитель 7, настроенный на третью гармонику намагничивающего тока, детектор 8 отношения Амплитуды гармоники и максимальнЬго значени, амплитудно-фазовый анёшизатор 9, а также выпрямительный преобразователь 10 максимального значения, включенный между детектором 6 и вторым входом детектора 8 отношений.-Работает дефектоскоп следуюи им образом.

Контролируемое изделие 2 намагничивается блоком намагничивания 1 низкочастотным синусоидальным магнитным полем. Сигнал с выхода феррозонда 3 поступает через усилитель 5 второй гармоники тока возбуждения феррозонда на детектор 6. На выходе детектора б выделяется огибающая модулированного сигнала феррозонда, содержащая гармоники, кратные частОтё ягаМатничивающего поля. Амплитуд и фаза гармоник зависит от свойств объекта контроля1; С выхода детекто ра 6 сигнал поступает на селективный усилитель 7, предназначенный для вьтдёлёния третьей гармоники, и выпрямительный преобразователь 10, предназначенный для получения сигнала Шстойнного тОка, пропорционального максимальному значению ЭДС огибающей. Сигналы с выходов усилителя 7 и выпрямительного преобразователя 10 поступают в детектор 8 отношений и далее на амплитудно-фазовый анализатор 9. ,

Контролируемый параметр пропорцио налён отношению амплитуды третьей гармоники прлй к максимальному значнию поля. Последнее, в свою очередь прбйорцй ОнальнО Отношению амплитуды третьей гармоники намагниченности к максимальной намагниченности контролируемого изделия. Мешающие фактор (нестабильность положения

объекта контроля, колебания его размеров) аналогичным образом влияюТ как на амплитуду третьей гармоники, так и на максимальное значение поля. В то же время контролируемый фактор (температура закалки) на указанные параметры влияет по-разному. С ростом температуры закалки амплитуда 3-ей гармоники намагниченности увеличивается, а максимальная намагниченность уменьшается (или остается неизменной).

В этой связи увеличивается отношение сигнал/помеха, а следовательно и точность контроля.

Формула изобретения

Феррозондовый дефектоскоп, содержащий намагничивающий блок для намагничивания изделия, феррозонды, высокочастотный генератор для их возб дения, последовательно соединенные усилитель второй гармоники, тока возбуждения феррозондов, детектор, селективный усилитель высшей гармонической составляющей намагничивающего тока и амплитудно-фазовый анализатор, отличающийся тем, что, с целью повышения точности он снабжен выпрямительным преобразователем максимального значения, подключенным к детектору, и детектором отношения амплитуды гармоники к максимальному значению огибающей, входал которого связаны с селективным усили5 высшей гармонической составляю щей намагничивающего тока и выпрямительным преобразователем максимального значения, а выход - с амплитудноФазовым анализатором.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР № 345428, G 01 N 27/86, 1970.

2. Авторское свидетельство СССР 5 № 515985, G.Ol N 27/82, 1976 (прот - ип) .

Похожие патенты SU781689A1

название год авторы номер документа
Феррозондовый дефектоскоп 1980
  • Франкфурт Владимир Ишиевич
SU868541A1
Феррозондовый дефектоскоп 1974
  • Домашевский Борис Наумович
  • Галаджян Ваган Ашотович
  • Грейсер Анатолий Изяславович
  • Колесников Виктор Иванович
  • Есин Николай Николаевич
SU515985A2
Феррозондовый дефектоскоп 1977
  • Таранушич Анатолий Андреевич
  • Скорик Борис Семенович
  • Есин Николай Николаевич
  • Галаджян Ваган Ашотович
SU682813A2
Феррозондовый дефектоскоп 1986
  • Колыхалов Владимир Константинович
  • Симонов Николай Петрович
  • Хоруженко Сергей Николаевич
  • Гриценко Александр Сергеевич
SU1337755A1
Способ электромагнитного контроля качества термической обработки ферромагнитных изделий и устройство для его осуществления 1985
  • Франкфурт Владимир Ишиевич
SU1326984A1
Феррозондовый дефектоскоп 1976
  • Есин Николай Николаевич
  • Таранушич Анатолий Андреевич
SU599202A1
Феррозондовый дефектоскоп 1977
  • Колесников Виктор Иванович
  • Гаврилов Василий Васильевич
  • Скорик Борис Семенович
SU739387A1
СПОСОБ МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ 2014
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Николаев Юрий Львович
  • Чернова Александра Валентиновна
  • Юрченко Павел Владимирович
RU2566418C1
Способ магнитной дефектоскопии 1987
  • Колыхалов Владимир Константинович
  • Симонов Николай Петрович
  • Хоруженко Сергей Николаевич
SU1569693A1
Феррозондовый дефектоскоп 1984
  • Домашевский Борис Наумович
  • Колыхалов Владимир Константинович
  • Трахтенберг Лев Исаакович
  • Шкатов Петр Николаевич
SU1508138A1

Иллюстрации к изобретению SU 781 689 A1

Реферат патента 1980 года Феррозондовый дефектоскоп

Формула изобретения SU 781 689 A1

SU 781 689 A1

Авторы

Франкфурт Владимир Ишиевич

Даты

1980-11-23Публикация

1979-01-25Подача