Датчик для измерения электрофизических параметров цилиндрических образцов Советский патент 1980 года по МПК G01R27/26 

Описание патента на изобретение SU788039A1

ческогр образца 4, расположенной в зазоре 3 внутреннего проводника 2/ Высокая диэлектрическая проницаемость полупроводников (710) привод к втягиванию электрического поля в область цилиндрического образца 4 |И, следовательно, к высокому коэффициенту включения. Перемещая исследуемый цилиндричес кий образец 4 вдоль оси коаксиального- резонатора 1, аналогичным образо измеряют параметры в его локальных участках, определяемых зазором 3 и, таким образом, получают распределение электрофизических параметров по оси цилиндрического образца 4. .Датчиком достигается пространственное разрешение (порядка 1 мм). За счет исключения потерь -на излучение расширяется диапазон измерени удельного сопротивления от Ю -Ом-см до 10® Ом-см. Формула изобретения Датчик для измерения электрофизических параметров цилиндрических образцов, содержащий коаксиальный резонатор, внутренний проводник которого выполнен пустотелым и снабжен, зазором, о т ли ч а ющ и и с я тем, что, с целью расширения диапазона измеряемых электрофизических параметров материалов, зазор расположен в средней части внутреннего проводника. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1, Авторское свидетельство СССР № 398896, кл. G 01 R 27/2..

Похожие патенты SU788039A1

название год авторы номер документа
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ МАТЕРИАЛОВ 2008
  • Усанов Дмитрий Александрович
  • Горбатов Сергей Сергеевич
  • Сорокин Алексей Николаевич
  • Кваско Владимир Юрьевич
RU2373545C1
Датчик электрофизических параметров полупроводников 1982
  • Ахманаев Виктор Борисович
  • Данилов Геннадий Николаевич
  • Детинко Михаил Владимирович
  • Медведев Юрий Васильевич
  • Петров Алексей Сергеевич
SU1045310A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ УРОВНЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ЖИДКОСТИ В ЕМКОСТИ 2011
  • Совлуков Александр Сергеевич
RU2473052C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВ БЕСКОНТАКТНЫМ СВЧ МЕТОДОМ 2010
  • Владимиров Валерий Михайлович
  • Марков Владимир Витальевич
  • Мартыновский Владимир Николаевич
  • Шепов Владимир Николаевич
RU2430383C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ФИЗИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ЖИДКОСТИ В ЕМКОСТИ 2013
  • Жиров Михаил Вениаминович
  • Воробьева Алла Викторовна
  • Совлуков Александр Сергеевич
  • Гончаров Андрей Витальевич
  • Жирова Вера Владимировна
RU2534747C1
ДАТЧИК ДАВЛЕНИЯ 2018
  • Совлуков Александр Сергеевич
RU2690971C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ УРОВНЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ЖИДКОСТИ В ЕМКОСТИ 2022
  • Совлуков Александр Сергеевич
RU2794447C1
Датчик электрофизических параметров полупроводников 1983
  • Медведев Юрий Васильевич
  • Петров Алексей Сергеевич
  • Скрыльников Александр Аркадьевич
  • Катанухин Владимир Константинович
SU1148006A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ УРОВНЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ЖИДКОСТИ В РЕЗЕРВУАРЕ 2021
  • Совлуков Александр Сергеевич
RU2778284C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ФИЗИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ЖИДКОСТИ 2016
  • Совлуков Александр Сергеевич
RU2626458C1

Иллюстрации к изобретению SU 788 039 A1

Реферат патента 1980 года Датчик для измерения электрофизических параметров цилиндрических образцов

Формула изобретения SU 788 039 A1

Лт etHtpamof a

ff femfmopy

SU 788 039 A1

Авторы

Берзин Владимир Иванович

Катанухин Владимир Константинович

Медведев Юрий Васильевич

Петров Алексей Сергеевич

Даты

1980-12-15Публикация

1978-06-08Подача