Способ регистрации плотности мощности ИК излучения Советский патент 1982 года по МПК G01J1/58 

теля. Освещение УФ излучением вызывает возбуждение кристаллофосфор.а и его свечение в соответствии с законом Стокса. Возбуждение осуществляют в течение времани, достаточного для касыщения. Затем прекращают возбуждение кристаллофосфора и освещают его исследуемым ИК излучением. По прошествии времени, достаточного для регистрации, осуществляют дополнительное освещение УФ излучением, Ю длительность и интенсивность которого должна удовлетворять соотношению 1. Повышение яркости свечения в момент кратковременного воздействия дополнительной УФ подсветки определяется увеличением концентрации свободных электронов за счет их оптического высвобождения с Со центров. Яркость свечения увеличивается на величину Д/, которая слагается из двух членов .% + р.; OjOj ,w объемная плотность ионизации; вероятность оптического высвобождения электронов из ловушек;Р - коэффициент излучательной рекомбинации;6i - вероятность захвата электронов. Схема, поясняющая предлагаемый метод, приведена на чертеже. Она содержит объект 1, оптическую систему 2, прозрачную в ИК диапазоне, источник 3 подсвечивающего ИК излучения, источник 4 УФ возбуждения, экран 5 с нанесенным на него слоем люминофора на осиове ZnS-Си, Со, фиксирующее устройство 6, например фотоаппарат, и заслонку 7, непрозрачную для УФ излучения. Данная схема работает следующим образом. Экран 5 освещают излучением источника 4, затем перекрывают излучение заслонкой 7 и проектируют на экран ИК изображение объекта 1. Открывают заслонку 7 и производят фотографиров ание экрана 5 фотоаппаратом 6. Проводят регистрацию по предлагаемому способу на экранах, изготовленных из чристаллофосфора на основе ZnS-Си, Со с концентрациями активаторов г/г и Ссо 3-10- гг, оптимальными к туишщему действию ИК лучей в диапазоне 0,7 ,7 мкм. При изготовлении экранов порошковый люминофор (размер зерен 10 мкм) заливают раствором органического стекла в растворителе с добавкой пластификатора. УФ возбуждение осуществляют лампой ПРК-4 с фильтрами УФС-6 и БС-7 (К 365 нм). Эту же лампу используют для дополнительного освещения кристаллофосфора после экспонирования ИК налу2ения. Результаты съемки фотометрируют а микрофотометре типа ИФО-451. В каестве источника ИК излучения использут лазер ЛГ-126 (Я 1,15 мкм). Время ервоначального возбуждения кристаллоосфора УФ излучением 2 мин. (при лотности мощности УФ излучения 10 Bj/CM). Длительность экспонироваия КК излучения от 0,5 с до 30 мин., длиельность дополнительной УФ засветки I с. Фотографирование полученного распредееиии яркости на кристаллофосфоре производят одновременно с дополнительным УФ освещением. Сравнение результатов обработки фотопленок без дополнительной УФ подсветки и с дополнительной УФ подсветкой показало следующее. При одинаковом контрасте негативов с дополнительной УФ подсветкой выдержка при фотографировании уменьшается от 100 до 2000 раз. Для дальних стадий затухания свечения кристаллофосфора (при длительном воздействии регистрируемого ИК излучения малой мощности 10 вт/см, необходимой для накопления (интегрирования), получаемый контраст (при сокращении выдержки от 100 до 2000 раз) увеличивается. Посторонние засветки влияют меньше, так как время экспозиции существенно меньше (в 100-2000 раз) при дополнительной УФ подсветке. Таким образом, предлагаемый способ позволяет расширить диапазон регистрируемых плотностей мощности ИК излучения в сторону уменьшения. Введение дополнительной УФ подсветки позволяет регистрировать изображение более слабых „цлей при уменьшении влияния посторонних засветок за счет меньшей экспозиции при фоторегистрации, .,, Формула изобретения Способ регистрации плотности мощности ИК излучения, основанный на последонательном во времени освещении кристаллофосфора на основе ZnS-Си, Со ультрафиолетовым и регистрируемым ИК излучениями, и фиксации полученного распределения яркости свечения люминофора, отличающийся тем, что, с целью расширения диапазона регистрируемой плотности мощности ИК излучения в сторону уменьшения, после освещения кристаллофосфора PJK; излз чением его дополнительно освещают ультрафиолетовым излучением, длительность А/ и интенсивность / которого выбирают таким образом, чтобы число высвобожденных электронов было больше концентрации свободных электронов Л/, но значительно меньше величины светосуммы 5, запасенной в люминофоре: .

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1.Патент США № 2551650, кл. 250, 71, опублик. 195.1.

2.В. Л. Левшин и др. Применение крн-сталлофосфоров Для регистрации электрома-Енитных излучений. Люминесценция и нелинейная оптика. Труды ордена Ленина фи зического института им. П. Н. Лебедева АН СССР, т. 59, 1972, «Наука, с. 64- 123 (прототип).