Способ определения полной разности хода при измерении параметров двупреломления кристаллов Советский патент 1980 года по МПК G01N21/23 

равлению наолюдения, интенсивность рассеянного света Максимальна. При линейной поляризации с вектором Е, направленным по направлению наблюдения - интенсивность рассеянного света минимальна. При прохождении поляризационного света через исследуемы р слой с двупреломлением поляризационные характеристики света испытывают преобразование от точки к точке по толщине слоя. Таким, образом, от точки к точке изменяется интенсивность рассеянного света. Причем период изменения в образцах с чистым двупреломлением соответствует разности хода в один порядок. Соотношение между максимумом .и минимумом интенсивности рассеянного света определяется величиной угла между направлением регист рации рассеянного света и главными осями тензора диэлектрической проницаемости, а величина интенсивности на входе в исследуемый слой - состоя нием поляризации света на входе. На чертеже приведена зависимость интенсивности рассеянного света в слое толщины h от координаты Z, совпадающей с направлением просвечив ния. Расстояние между минимумами функции Зр,.,;, (Z) соответствует разности хода в один порядок, В случае,, когда на входе исследуе мого слоя реализуют линейнр-поляризо ванную волну, вектор напряженности электрического поля Е которой совпадает с направлением регистрации рассеянного света, первый минимум имеет координату Z .р.. Таким образом, число минимумов ин тенсивности рассеянного света по тол щине слоя за исключением первого, со падающего с входной поверхностью сло равно целому числу порядков разности хода в слое. Дробная разность хода определяется в монохроме при сквозном просвечивании, истинная она или дополнительная устанавливается с помощью способа, основанного на регист рации рассеянного света. Использование предлагаемого спосо ба определения полной разности хода наиболее целесообразно в компенсационном метойе решения объемной задачи фотомеханики, так как в данном присутствует система регистр ции рассеянного света в направле11ИИ, перпендикулярном проходящему через модель лучу света. Предлагаемый способ позволяет избежать сложных измерений дисперсий двупреломления и оптической активности, что существенно снижает трудоемкость решения с помощью поляризацион но-оптического метода конкретных инженерных и научных задач по исследованию распределения механических напряжений в деталях, узлах или конструкциях. Способ найдет применение в лабораториях по поляризационно-оптическому методу исследования механических напряжений. Лормула изобретения 1.Способ определения полной разности хода при измерении параметров двупреломления кристаллов, заключающийся в измерении дробной разности хода и целого числа порядков, о т личающийся тем, что, с целью повышения точности измерений и проведения измерения в одном монохроме, производят фотоэлектрическую регистрацию рассеянного света в направлениях, перпендикулярных проходящему через исследуемый слой лучу света, фиксируют число экстремумов интенсивности рассеянного света по толщине слоя и определяют целое число порядков на основа1нии числа экстремумов рассеянного света. 2.Способ по п. 1, отличающийся тем, что при фиксировании числа экстремумов интенсивности расг сеянного света по толщине слоя на входе исследуемого слоя создают: линейно-поляризованную волну, вектор напряженности электрического поля Е которой совпадает с направлением регистрации рассеянного света и образует угол в 45®, с направлением главных осей в слое. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Александров А.Я.,Ахметзянов М.Х, Поляризационно-оптические методы механики деформируемого тела, М., . Наука , 1973, с. 11, 2. Эдельштейн Е. И. О методе.компенсации Сенармона. - Сб. Исследования по упругости и пластичности, в.2, Ленинград. Изд-во ЛГУ, 1963, с, 11 (прототип) .