В основном авт. св. № 49426 описано устройство для определения леоднородностей в твердых, жидких и газообразных средах посредством ультразвуковых колеб-аний.
Предлагаемый ультразвуковой микроскоп является дальнейшим развитием указанного устройства и позволяет наблюдать в увеличенном масштабе иредметы малых размеров, находя)цихся в твердых, жидких, газообразных упругих средах как прозрачных, так и непрО13рачных.
Принципиальная схема ультразвукового микроскопа, изображенная на чертеже, поясняет его устройство и действие.
Узкий пучок ультразвуковых лучей / от кварцевой пластинки 2, распространяясь в упругой среде 5, направляется на исследуемый объект 4. Отраженный ультразвуковой луч 5 попадает на акустическую линзу 6, фокус которой сосредоточен на поверхности пьезоэлектрической кварцевой пластинки 7, или всякой другой пластинки, выделяющей электрические заряды под действием упругих деформаций.
Кварцевая пластинка 7 является дном катодной трубки. Внутренняя поверхность этой пластинки покрыта сеткой фоточувствительной мозаики. Мозаика должна быть чувствительна ко вторичной электронной эмиссии, образующейся под действием падающего на нее катодпо го луча. Катодный луч 8 в электронной трубке 9 путем соответствующей развертки обходит всю поверхность приемной пластинки. Вторичная эмиссия, под действием электронного луча 8 собирается на аноде 10. Вторичная эмиссия электронного тока меняется под действием зарядов, образующихся на внутренней поверхности пластиккп под действием ультразвуковых колебаний.
Изменение электронного тока вторичной эмисси электронной трубки 9 с анода 10 подводится к сетке усилителя //. Напряжение с выхода усил1 те.1я подводится к катодЕня трубке 12 приемника //Л Если ) катодных, лучеГ трубок 2 и 9 синхронны, то на экране катодис;; трубк;; /2 будут фиксироваться очертания контура наблюдаемоо объекта в увеличенном масштабе. Разрешающая способность микроскопа будет зависеть от длимы волны ультразвука и от диаметра сечения электрсиного луча 8: чем меныне длина волны ультразвука и диаметр луча, тем вын1е разрешающая способность микроскопа.
Кварцевая пластинка 7 одновременно может служить и излучателем ультразвука и прпемннком, т ,е. может заменить пластинку 2. В этом случае наблюдаемый предмет должен освещаться импульсами, длителыюсть которых и частота сшмасованы.
П 1) е д м е т и з о б р е т е и и я
. У.тьтразвуково микроскоп по авт, ев № 49426, отличающийся тем, что для наблюдения в непрозрачной упругой среде в увеличенном масштабе предметов н неоднородностей малых размеров с помощью ультразвуковых колебаний прпемр ик ультразвуковых колебаний,, отраженных неоднородностями рассматриваемого тела, соединен чере;4 усилитель с като;шо1 | трубкой, is которой переданный из приемника и усиленный электронный поток, -возникаюш.нй в результате воздействия па кварцевую пласт П у ультразвуковых колебаний н катодного луча, вызывает изменения интенсивности свечения экрана.
2, Форма выполнения ультразвукового микроскопа по и. 1, отличающаяся тем, что при облучении исследуемого объекта импульсами пьезоэлектрическая кварцевая и.тастина приемника служит излучателем и приемником.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Устройство для определения неоднородностей в твердых, жидких и газообразных средах, посредством ультразвуковых колебаний | 1935 |
|
SU49426A1 |
Ультразвуковой микроскоп-дефектоскоп | 1951 |
|
SU99083A1 |
Способ исследования тел упругими или электромагнитными волнами | 1934 |
|
SU48894A1 |
Устройство для определения неоднородностей в твердых | 1937 |
|
SU60503A1 |
Способ непрерывного контроля различных физико-химических процессов | 1945 |
|
SU70636A1 |
Устройство для обнаружения и регистрации скрытых дефектов в металлических изделиях | 1939 |
|
SU58423A1 |
Устройство для модуляции света | 1935 |
|
SU48540A1 |
Устройство для нивелирования | 1933 |
|
SU33305A1 |
Сканирующий акустический микроскоп | 1979 |
|
SU832449A1 |
Способ индикации акустических давлений | 1948 |
|
SU76451A1 |
Авторы
Даты
1949-01-01—Публикация
1948-07-10—Подача