Устройство для измерения вибраций Советский патент 1981 года по МПК G01B11/00 

Описание патента на изобретение SU811072A1

кальное покрытие отражающих штрихов решетки 2 обращено в сторону объектива 4. Шероховатый объект 5 исследования помещается в задней фокальной плоскости объектива 4, решетка 2 - в передней. В состав устройства также входят второй объектив 6, диафрагма 7, интерференционный светофильтр 8 на длину волны излучения источника 1 излучения, фотоприемник 9 и регистрирующая система 10.

Устройство работает следующим образом. Параллельный нучок света от источника 1 падает на дифракционную решетку 2, расположенную в передней фокальной плоскости объектива 4. В задней фокальной плоскости объектива 4, где расположена рассеивающая поверхность объекта 5, получается распределение освещенности, представляющее собой спектр Фурье решетки 2. При гармонической решетке этот спектр, как известно, имеет три составляющие О и -f-1 дифракционные порядки. Для прямоугольной решетки спектр Фурье имеет много порядков. В этом случае высшие дифракционные максимумы могут быть перекрыты с помощью диафрагмы, расположенной вблизи исследуемого объекта (на чертеже не показано). Таким образом, на рассеивающей поверхности удается реализовать распределение освещенности в виде трех световых пятен («трехлучевое освеoienne), размеры и расстояние между центрами которых можно изменять, варьируя фокусное расстояние объектива, ширину входного пучка света и период решетки. (Можно применять также двухлучевое освещение, перекрыв диафрагмой один из 1-ых дифракционных порядков). Для рассматрнваемой геометрии устройства при регистрации вибраций шероховатого тела световое поле, рассеянное объектом, образует в плоскости решетки 2 пятнистую структуру, изрезанную системой интерференционных полос. Период интерференционных полос совпадает с периодом решетки, а их фаза в каждом пятне случайна. Таким образом, в устройстве осуществляется автоматическое согласование системы интерференционных полос с пространственным фильтром, в качестве которого выступает дифракционная решетка 2.

Слабые поперечные гармонические возмущения рассеивающей поверхности, длина волны которых гораздо больше расстояния между соседними порядками в спектре дифракционной решетки, вызывают колебательное движение системы интерференционных полос относительно штрихов решетки. Указанное явление приводит к модуляции светового потока, отрал енного решеткой 2 в сторону объектива 6, который формирует изображение решетки в плоскости диафрагмы 7, расположенной в непосредственной близости от светофильтра 8 и фотоприемника 9. Фотоприемник 9 осуществляет преобразование изменений светового потока в эквивалентные изменения фототока. Дифракционная решетка 2 приводится с помощью вибратора 3 в колебательное движение, частота и амплитуда которого известна. При этом выходной сигнал фо.топриемника для предлагаемого устройства имеет вид

U(() c(cosQf + - cos,Л, (1) лл/

где С - неизвестная заранее постоянная, зависящая от характера объекта и качества настройки устройства; а - амплитуда относительного поперечного смещения точек исследуемой поверхности, соответствующих координатам 0-го и 1-го порядка в спектре решетки; К - длина волны излучения источника; b - амплитуда колебаний решетки; Л -период решетки; Q - частота колебаний объекта; шо - частота колебаний решетки. Приведенная формула справедлива при

колебаниях объекта и решетки с малыми амплитудами

«1, «1.

Если эти условия не выполнены, сигнал и(t) (1) выражается через функции Бесселя. Выделив обычными радиотехническими средствами сигналы частотой Q и озо и измерив их амплитуды, можно исключить неизвестную постоянную С, что позволяет производить абсолютные измерения величины а. Пусть отнощение амплитуд гармонических составляющих на частоте сигнала Q и на частоте соо равно А. Тогда

. -,б

.А.

а

Таким образом, выполнение решетки с чередующимися отражающими и пропускающими штрихами в сочетании с вибратором в устройстве обеспечивает повышение точности измерения вибраций.

Формула изобретения

Устройство для измерения вибраций, содержащее последовательно установленные монохроматический источник излучения и

объектив, последовательно установленные диафрагму, светофильтр, фотонриемник и регистрирующую систему, второй объектив и решетку, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, оно

снабжено вибратором, жестко соединенным с решеткой, выполненной с чередующимися отражающими и пропускающими штрихами, и установленный между источником излучения и первым объективом отражающим покрытием к объективу, а второй объектив размещен в ходе otpaJkeHHafo от решетки излучения перед диафрагмой.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.Applied, optics, vol. 16, Mb 7, p. 1849- 1856, 1977.

2.«Оптика и спектроскопия, том 46, Ёып. 3, с. 586-592, 1979 (прототип).

Похожие патенты SU811072A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения вибраций 1980
  • Анчуткин Владимир Степанович
  • Шмальгаузен Виктор Иванович
SU939934A2
Устройство для измерения углового перемещения объекта 1981
  • Анчуткин Владимир Степанович
SU958852A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КООРДИНАТ БЛИКУЮЩЕГО ОБЪЕКТА 1983
  • Молебный Василий Васильевич
  • Протасов Владимир Георгиевич
SU1841110A1
Устройство для измерения параметров колебаний объекта 1989
  • Морозов Николай Викторович
  • Солодов Вадим Викторович
SU1651106A1
МНОГОКАНАЛЬНЫЙ КОНФОКАЛЬНЫЙ СПЕКТРОАНАЛИЗАТОР ИЗОБРАЖЕНИЙ 2019
  • Шульгин Владимир Алексеевич
  • Пахомов Геннадий Владимирович
  • Овчинников Олег Владимирович
  • Смирнов Михаил Сергеевич
RU2723890C1
СПЕКТРАЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО 1996
  • Спирин Е.А.
  • Захаров И.С.
RU2094758C1
УСТРОЙСТВО НЕПРЕРЫВНОГО КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ШЕСТИГРАННОГО ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКОГО СТЕРЖНЯ ВО ВРЕМЯ ВЫТЯЖКИ 1992
  • Арефьев А.А.
  • Фотиев Ю.А.
  • Борзов А.Г.
RU2020410C1
Дифракционный интерферометр 1989
  • Четкарева Лидия Эммануиловна
SU1818547A1
СПОСОБ МОДУЛЯЦИИ ИНТЕНСИВНОСТИ ИЗЛУЧЕНИЯ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 1999
  • Захаров И.С.
  • Спирин Е.А.
  • Рыков Э.И.
RU2168155C2
ИНТЕРФЕРОМЕТР С ФАЗОВОЙ ДИФРАКЦИОННОЙ РЕШЕТКОЙ 1970
SU272603A1

Реферат патента 1981 года Устройство для измерения вибраций

Формула изобретения SU 811 072 A1

SU 811 072 A1

Авторы

Анчуткин Владимир Степанович

Шмальгаузен Виктор Иванович

Даты

1981-03-07Публикация

1979-04-04Подача