Способ контроля формы поверхностиОб'ЕКТА Советский патент 1981 года по МПК G01B11/25 G01B9/21 

(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ФОРГ1Ы ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА

Поставленная цель достигается за счет того, что контурные линии регистрируют непосредственно на контролируемом объекте.

На чертеже изображена принципиальная схема устройства, осуществляющего способ контроля формы поверхности объекта.

Устройство содержит лазер 1, линзу 2, искусственную голограмму 3.

Способ осуществляется следующим образом.

Луч света от лазера 1, расширенный линзой 2, попадает на искусственную голограмму 3. При восстановлении искусственной голограммы, формируемой с использованием двух точечных источников света, за ней возникает пространственная интерференционная картина, которая затем изменяется при введении исследуемого объекта 4. Если перед экспонированием объект покрыть фотоэмульсионным слоем, то на нем зафиксируются контурные линии, образованные при наложении интерференционного поля на поверхность объекта.

Предлагаемый способ применим для контроля как диффузно отражающих объектов, так и зеркально отражающих, может применяться также для контроля поверхностей в процессе их обработки. При этом, так как полосы формируются непосредственно на обрабатываемой поверхности, сразу видно, какие участки поверхности

необходимо подвергать дальнейшей обработке. Кроме того, повышается точность контроля, так как в способе отсутствуют ошибки, связанные с неопределенностью положения фотоаппарата. Предлагаемый способ эффективен при контроле форм поверхностей в процессе их обработки.

Формула изобретения

Способ контроля формы поверхности объекта, заключающийся в том, что формируют с помощью искусственной голограммы пространственное интерференционное поле, помещают в это поле объект и регистрируют контурные линии, возникающие при наложении интерференционного поля на объект, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля и возможности контроля зеркально отражающих поверхностей , контурные линии регистрируют на контролируемом объекте.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.Островский to.И. и др. Голографическая интерферометрия. М., Наука, 1977, с. 277-288.

2.Вахутка А.Г. и др. Измерение контуров объектов методом голографической интерферометрии. Экспрессинформация , Контрольно-измерительная техника, 1974, № 39, с, 6-11 (прототип).