Способ изучения актов взаимодействия элементарных частиц посредством пузырьковой камеры Советский патент 1983 года по МПК G01T5/00 

00

ю

сх

00 С5

со

Изобретение относится к методикеи технике физического эксперимента в области физики элементарных частиц, выполняемого в пучках элементарных частиц посредством пузырьковых камер.

, Известен способ, который включает освещение объема пузырьковой камеры дважды с целью получения двух последовательных снимков объема камеры и операцию вычитания информации последующего снимка из информации предыдущего снимка для селекции искомых событий.

Недостатком данного способа явля.ется большая сложность и трудоемкость обработки снимков и плохое разрешение событий.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является способ изучения актов взаимодействия элементарных заряженных частиц посредством пузырьковой камеры, включающий облучение пузырьковой камеры, освещение ее объема, регистрацию изображений следов частиц на фоточувствительном материале, просмотр, а также отбор следов путем сдвига траектории каждой последующей частицы относительно предыдущей, например посредством отключения электромагнитов, установленных на пути частиц, и путем сопоставления местоположения следа частицы и момента отключения соответствующего электромагнита.

OcHOBHfcjM недостатком данного способа является невозможность его применения при облучении пузырьковой камеры нейтральными частицами.

Целью изобретения является повышение эффективности способа для изучения нейтральных частиц.

Это достигается тем, что по способу изучения актов взаимодействия элементарных частиц посредством пузырьковой камеры, включающему облучение пузырьковой камеры, освещение ее объема, регистрацию изображений следов Частиц на фоточувствительном материале, просмотр, а также отбор следов, освещение объема камеры производят по зонам в заданной последовательности в период следочувствительности камеры, при этом каждую зону освещают только один раз, а отбор событий производят Б процессе просмотра полученных снимков путем сопоставления наличия и отсутствия участков изображения следа в отдельных зонах с моментами освещения этих зон.

Момент прохождения сквозь камеру нейтральной частицы устанавливается по характеру вторичных частиц, ВЕллетавших из точки взаимодействия нейтральной частицы с ядром-мишенью. Данный способ применим и в случае

облучения заряженными частицами, . и в случае облучения камеры нейтральными частицами.

Сущность предлагаемого способа заключается н следующем. Пузырьковую камеру за время одного цикла ее чувствительности к ионизирующему излучению облучают группой частиц, растянутых во времени в пределах интервала чувствительности камеры, при этом регистрируют момент прохождения каждой частицы посредством различных внешних детекторов. Камеру в пределах интервала ее чувствительности освещают группой потоков света от различных источников разномоментно и по зонам объема камеры и полное изображение объема камеры фиксируют на одном снимке. След частицы, прошедшей сквозь объём камеры до .момента первого освещения камеры, окажется зафиксированным во всех зонах прохождения камеры. След частицы, прошедшей сквозь объем камеры после освещения камеры несколько раз, окажется зафиксированньм только в отдельных зонах камеры. Таким образом, по налчию и отсутствию участков следа одной частицы в зонах ее прохождения устанавливают момент П1Х хождения частицы через объем камеры. Следовательно, такой способ регистрации следов частиц в пузырьковой камере дает возможность поставить в соответствие расположение следа в камере с моментом ее прохоходения через камеры и информацией об этой частице, получаемой от других детекторов

Реализация данного способа возможна посредством применения известных приемов; Замена одного широкоугольного осветителя с одним источником света на осветитель, составленный из группы узкоугольных осветителей с собственными источниками света и отдельньп 1И схемами питания и поджига импульсных ламп является известным и удобным решением поставленной задачи. В таком случае возможно осуществить любую последовательность поджига импульсных ламп и освещения зон камеры независимо от расположения этих зон по объему камеры, при, этом момент поджига той или иной лампы может быть связан с моментом прохождения соответствующей частицы через камеру.

Реализация способа на стадии просмотра снимков и их отбора не предъявляет новых требований к применяющейся в настоящее время аппаратуре .

Возможности данного способа определяются главным образом двумя факторами: временем чувствительности камеры и временем роста пузырьков до фотографируемого размера.Время

СПОСОБ ИЗУЧЕНИЯ АКТОВ ВЗЛИМОДЕПСТВИЯ ЭЛЕМЕНТАРНЫХ ЧАСТИЦ ПОСРЕДСТВОМ ПУЗЫРЬКОВОЙ КАМЕРЫ, включающий облучение пузырьковой камеры, осве1цение ее объема, регистрацию изображений следов частиц на фоточувствительном материале,просмотр, а также отбор следов искомого события, отличающий- с я тем, что, с целью повышения эффективности способа для изучения нейтральных частиц, освещение объема камеры производят по зонам в. заданной последовательности в период следочувствительности камеры, при этом каждую зону освещают только один раз, а отбор событий производят в процессе просмотра полученных снимков путем сопоставления наличия-и отсутствия участков изображения следа в отдельных зонах с моментами освещения этих зон.