трод с электропроводящим основанием, соединенный с усилителем, выход которого подключен к измерительному прибору, времязадающий прибор и блок анализатора уровня Г27.
Цель изобретения - увеличение быстродействия устройства и повышение точности измерений.
Поставленная цель достигается тем что в устройстве для измерения распределения электрического потенциала на фотоэлектрическом слое под де йстрием оптического излучения, содержащем держатель образца, выполненный и электропроводящего материала, механизм перемещения образца, оптически Прозрачный сигнальный электрод с электропроводящим основанием, соединенный с усилителем, выход которого подключен к измерительному прибору, Времярегистрирующий прибор и блок анализатора уровня, между усилителем и сигнальным электродом включен измеритель заряда, а к выходу усилителя дополнительно подключены держатель образца н вход блока анализатор уровня, выход которого подключен к механизму перемещения образца и времярёгистрирующему прибору.
Кроме того, боковая поверхность сигнального электрода выполнена светонепроницаемой.
На фиг.1 изображена блок-схема устройства для измерения распределения кинетики электрического потенциала фотопроводимости; на фиг.2 - процесс измерения кинетики электрического потенциала фотопроводимости и примерная картина .его распределения.
Устройство содержит.(фиг.1) цилиндрический прозрачный сигнальный злектрод 1 GO светонепроницаемой боковой поверхностью, нижнее основание Которого выполнено Электропроводящим исследуе ий слой с проводящей подложкой 2 (держателем образца), измеритель 3 заряда, усилитель 4 напряжения, регистрирующий прибор 5, блок б анализатора уровня, механизм 7 перемещения, зремярогистрирующий прибор а.
Устройство работает следующим образом. .
Исследуемый слой ,с проводящей подложкой 2. прейзарительно заряженный до определенного потенциала, помещается под сигьалькым электродом 1,. который выполнен в виде светонепроницаемого стержня, например цилиндра определенного диаметра со светонепроницаемой боковой поверхностью. Одно основание электрода с которое ближе расположено к исследуемому образцу, выполнено проводящим. В торец второго основания подается пучок света определенной длины волны, интенсивности и длительности. Пучок света фокусируется на исследуемом образце на площади, равной площади электрода.
Проводящее основание сигнального электрода 1 подключено на вход измерителя 3 .заряда, на выходе которого получаем напряжение, пропорциональное заряду,.индуцированному на проводящем основании сигнального электрода 1. С выхода измерителя 3 заряда напряжение подается на вход усилителя 4 напряжения, затем усиленное напряжение подается на вход амплитудно-регистрирующего прибора 5 , проводящую подложку 2 исследуемого слоя и на вход- блока 6 анализатора уровня. При достижении на выходе усилителя 4 напряжения, равного первоначальному поверхностному потенциалу, слоя, заряд на сигнальном электроде 1 компенсируется и напряженность электрического поля в слое восстанавливается . Регистрирующий прибор 5 регистрирует напряжение на выходе усилителя 4, величина которого равна потенциалу слоя. Затем в торец сигнального электрода 1 подается импульс света необходимой интенсивности и длины волны и из блока б анализатора уровня выдается импульс, который поступает на вход времярегистрирующего прибора 8. Под действием импульса света электрический потенциал слоя уменьшается, тем самым на проводящем слое сигнального электрода 1 происходит уменьшение индуцированного заряда. Уменьшается потенциал на выходе измерителя 3 заряда и тем самым на проводящей подложке 2 исследуемого слоя. Изменение потенциала слоя показывает регистрирующий прибор 5. При достижении потенциалом слоя заранее заданного уровня блок 6 анализатора уровня .выдает второй короткий импульс, Времярегистрирующий прибор регистрирует интервал времени между этими двумя импульсами. После этого прекращается подача света в торец сигнального электрода 1, включается механизм 7 перемещения, который передвигает исследуемый образец на заданное расстояние, т.е. на новую заряженную площадь поверхности иссле-дуемого слоя. Далее весь цикл повторяется заново.
На фиг.2 показан пример процесса измерения изменения электрического потенциала фотозарядки электрофотографического слоя. На фиг.2а показан Потенциальный рельеф электрофотографического слоя до измерения (после его зарядки, например, коронным электризатором). На фиг.26 показан процесс изменения потенциала от начального значения уровня (в данном случае.до уровня, равного половине начального) темнового потенциала. На фиг.2в изображен график изменения времени полуспада потенциала с шагом измерения примерно 1 мм, это при диаметре сигнального электрода 1 мм.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Устройство для измерения распределения поверхностного электрического потенциала на полупроводниковом слое | 1981 |
|
SU1046714A1 |
Способ измерения инерционности электрофотографических слоев | 1980 |
|
SU892341A1 |
Устройство для измерения электрического потенциала заряженной поверхности | 1982 |
|
SU1045171A1 |
Устройство для измерения распределения электрического потенциала | 1982 |
|
SU1149191A1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ВЫСОКООМНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВ | 2008 |
|
RU2383081C1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНТАКТНОЙ РАЗНОСТИ ПОТЕНЦИАЛОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 2011 |
|
RU2471198C1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРЕОБРАЗОВАНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЯ | 1999 |
|
RU2160513C2 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАБОТЫ ВЫХОДА ЭЛЕКТРОНА | 2024 |
|
RU2821217C1 |
Анализатор ортогональных составляющих спектра электрических сигналов | 1979 |
|
SU917118A1 |
Устройство для бесконтактного измерения электрического потенциала заряженной поверхности | 1983 |
|
SU1138765A1 |
Авторы
Даты
1981-06-30—Публикация
1978-09-18—Подача