Ультразвуковой широкополосный искатель Советский патент 1981 года по МПК G01N29/04 

1

Изобретение относится к неразрушающему контролю, в частности к ультразвуковой дефектоскопии, и может быть использовано в ультразвуковой j структурометрии и при контроле крупнозернистых материалов.

Известны ультразвуковые широкополосные искатели к ультразвуковым дефектоскопам, в корпусе которых зак- |Q :реплены демпфер и.пьезозлемент с нане сенными на него электродами 1

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является ультразвуковой широкополосный искатель, 15 содержащий корпус, в котором разме-. щен демпфер и закрепленный на нем пьезоэлемент переменной толщины, одна из излучающих поверхностей которого выполнена плоской, а вторая - 2и сферически вогкутой, и электроды,нанесенные на пьез-оэлемент 2 .

Недостаток данного искателя заключается в неравномерности частотной характеристики, что снижает точность контроля, а также в небольшом сроке службы из-за неоднородности электрического поля по плотности и направленности в пьезоэлементе.

Цель изобретения - повышение точности контроля и увеличение срока гглужбы.

Указанная цель достигается тем, что электрод, расположенный со сферически вогнутой стороне пьезоэлемента выполнен плос()сим, а полость, образованная между ним и сферически вогнутой поверхностью пьезоэлемента, заполнена материалом, обладающим диэлектрической проницаемостью, равной диэлектрической проницаемости пьезоэлеиента.

В качестве такого материала может быть использована измельченная пьезокерамика.

На фиг. 1 изображен ультразьуковой широкополосный искатель, общий вид, на фиг. 2 - распределение электрического поля (пунктирные линии) и направление поляризации.(сплошные линии); на фиг. 3 - зависимость напряжения и, прикладываемого -кучасткам пьезопластины (изображено пунктирной линией) и угла Ч между силовыми линиями электрического поля и направлением поля по длине пьезоэлемента I.

Ультразвуковой шкрокополосньлй искатель содержит корпус 1, в кетовом размещен демпфер 2, закрепленный на