Оптический магнитографическийдЕфЕКТОСКОп Советский патент 1981 года по МПК G01R33/12 

1

Изобретение относится к дефектоскопии, в частности к дефектоскопам, для контроля качества сварных соединений, и может быть использовано в отраслях производства, связанных с применением сварки.

Известны дефектоскопы, содержащие взаимосвязанные намагничивающее устройство с магнитной лентой, считывающее устройство, связанный с ним блок синхронизации, индикатор, кинескоп, обеспечивающий визуализацию считываемой информации, и блок масштабно-временного преобразования 1.

Недостатком указанных устройств является невозможность точного воспроизведения исследуемых полей.

Известно также устройство, содержащее лазерный источник поляризованного света и датчик в виде магнитно поляризуемого вещества, в котором наблюдается ядерный магнитный резонанс t

Недостатком такого устройства является практическая невозможность осуществить количественную оценку и локашьный анализ исследуемых магнитных полей.

Цель изобретения - повышение разрешающей способности.

Для достижения этой цели в оптический магнитографический дефектоскоп, содержащий источник поляризованного света, модулятор, оптический блок и приемник, введены последовательно соединенные с выходом приемника частотный разделительный блок и блок сравнения, а модулятор выполнен в виде полого цилиндра, в основании и боковой поверхности которого выполнено п отверстий.

На фиг.1 изображена схема устройства; на фиг.2 - конструкция модулятора.

Устройство содержит когерентный монохроматический источник 1 света, разделитель 2 поляризованного пучка, расположенный внутри модулятора 3. Модулятор 3 выполнен в виде полого цилиндра с одним основанием. В основании и боковой поверхности цилиндра проделаны отверстия 4, причем частоты нанесения их на основание и боковую поверхность различны.

За модулятором 3 установлены магнитный носитель 5 и оптический блок, содержащий, систему зеркал 6-8, анализатор 9 и приемник 10 поляризованного света, соединенный с частотными разделительным блоком 11 и блоком 12 сравнения. Принцип работы дефектоскопа заключается в следующем. Пучок поляризованного света от источника 1, например от лазера, попадает йа разделитель 2 (пластинку где он делится на два луча, каждый и которых с помощью модулятора 3,вращающегося вокруг оси 0-0, прерывают с разными, но определенными для каж дого луча, частотами. Разные частоты подачи лучей обеспечиваются разными частотами нанесения отверстий 4 на основании и боковой поверхности модулятора 3. После разделения и прерывания пер вый луч с помснцью системы зеркал 6-8 непосредственно направляют на приемник 1Q. Второй луч подвергают действию магнитного поля магнитного носителя 5, после чего он проходит анализатор 9 и поступает в тот же приемник 10. На выходе приемника 10 получают сигнал, представляющий со-, бой суперпозицию двух сигналов раз.ных частот, один из которых несет ко личественную информацию о магнитном поле дефекта. С помощью разделительнрго блока 11, установленного на выходе приемника 10, эти два сигнала отделяют друг от друга и берут их отношения (блок 12 сравнения). Полученная величина не зависит от неста.бильности работы источника поляризованного света и от нестабильности импульсной подачи сигнала на приемник, вызванной изменением во времени скорости Вращения фигуры. Предложенный оптический магнитографический дефектоскоп обеспечивает локальность исследования излучаемого поля, повышает разрешающую способность устройства и осуществляет количественную оценку полей дефектов. Формула изобретения Оптический магнитографический дефектоскоп, содержащий источник поляризованного света, модулятор, оптический блок и приемник, отличающийся тем, что, с целью повышения разрешающей способности в него введены последователльно соединенные с выходом приемника частотный разделительный блок и блок сравнения, а модулятор выполнен в виде полого цилиндра, в основании и боковой поверхности которого выполнено И отверстий. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе1.Авторское свидетельство СССР № 231186, кл.С 11 В 11/00, 1968 2.Авторское свидетельство СССР 476593, кл.С 11 В 11/00, .1975.