Способ контроля выравниванияфОТОплЕНОК и уСТРОйСТВО для ЕгООСущЕСТВлЕНия Советский патент 1981 года по МПК G03B43/00 

Описание патента на изобретение SU847255A1

Изобретение относится к кинофототехнике, в частности к аэрофотоаппаратуре . Известны устройство и способ кон роля выравнивания пленки по светотеням, образуемым при освещении пле ки наклонным пучком лучей U}Известен способ контроля выравнивания фотопленок и устройство для его осуществления, в котором тестобъект, содержащий одиночный штрих, освещается двумя источниками света. Время экспонирования регулируется затвором. На пленке обпазуется два изображения штриха тест-объекта, расстояние между изображениями зависит от величины неровностей пленки (расстояние между фокальной плоскостью и пленкой). После проявления пленки измеряют расстояуше между двумя изображениями штриха и 1ычисляют величину неровностей пленки Г2 Недостатком известного устройства и способа контроля выравнивания пленки является невысокая точность определения величины неровностей и большая трудоемкость, т.е. требуется замерить расстояние между двумя изображениями штриха и произ-г вести расчет величины неровностей пленки. Цель изобретения - снижение трудоемкости определения величины неровностей пленки, повышение точности. Указанная цель достигается тем, что в способе контроля выравнивания фотопленок, заключающемся в фотографировании тест-объекта на пленку, проявлении пленки и определении величины .неровностей по изображению тест-объекта на пленке, изображение квадрата на пленке сравнивают с эталоном, а величину неровности определяют по совпадению изображения на пленке с изображением штрихов в одном из рядов эталона. 38 Такой способ осзпдествляется устройством конструкции для контроля выравнивания фотопленок, содержащем тест-объект, расположенный в фокальной плоскости объектива фотоаппарата и два точечных источника света, расположенные на фиксированном расстоянии относительно тест-объекта, которое снабжено эталоном с выполненными на нем рядами штрихов, причем, каждый ряд содержит заданное положение штрихов, соответствующее определенному расстоянию пленки от фокальной плоскости, а тест-объект выполнен в виде миры, содержащей квадрат с однонаправленными штрихами. Кроме того, hfflpa выполнена в виде набора квадратов с однонаправленными штрихами. Причем, ширина штриха от квадрата к квадрату возрастает На фиг. 1 изображена принципиальная схема устройства для контроля выравнивания пленки в квадратном аэрофотоаппарате; на фиг. 2 - то же в панорамном аэрофотоаппарате; на фиг. 3 - разрез А-А на фиг. 2; на фиг. 4 - графические построетшя изоб ражения миры, освещенной двумя источниками света; на фиг. 5 - эталон изображений квадрата миры в различiftix плоскостях; на фиг. 6 - мира; на фиг. 7 - одиночный квадрат миры. Устройство для контроля выравнивания пленки к кадровом аэрофотоаппа рате содержит миру I с квадратами 2 содержащими однонаправленные штрихи 3, установленную в фокальной плоскос ти 4 аэрофотоаппарата (не показан) на выравнивающем стекле 5 перед аэро фотопленкой 6. Два источника света установлены на фиксированном расстоя нии друг от друга и от фокальной пло кости 4 объектива фотоаппарата (не показаны) . Между источниками света 7 и фокальной плоскостью 4 объектива фотоаппарата (не показаны) установлен затвор 8. Ширина штриха 3 миры от квадрата 2 к квадрату 2 возраста в зависимости от требуемой точности опредеТГения величины неровностей плен 6, а минимальная ширина штриха, соотве ствующая минимальной величине неровностей пленки 6, определяется зависимостью т, Р л, Kinin L + тлп где а - расстояние между источниками света; - расстояние от источников света до фокальной плоскости объектива; минимальное значение величины неровностей пленки, которое необходимо определить. Кроме того, устройство снабжено эталоном 9 со штрихами 10 для определения величины неровностей пленки 6. Когда квадрат миры 1 освещается двумя источниками света 7, за плоскостью миры происходит сложение световых потоков, прошедших через щели от двух источников 7. На различном расстояния от миры 1 квадрата карти 1а освещенности меняется, причем, только в плоскостях 11, соответствующих определенному ряду )2 штрихов 10 эталона 9, картина освещенности представляет собой чередование четких штрихов одинаковой шириш. Постоянная квадрата 2, от которой зависит расстояние между плоскостями 11, соответствующей определенному ряду 12 эталона 9, определяется зависимостью „ . р. - Л 1 а - Р где - ширина штриха соответствующего квадрата. При срабатывании затвора 8 мира 1 освещается двумя источниками света 7 и на пленке 6 фиксируется изображение миры 1, После проявления пленки 6 производят расшифровку изображения не показана) миры 15 для чего сравнивают изображение (не показано) квадрата 2 с эталоном 9, и величину неровности гшенки 6. Устройство для определения величины неровносте пленки 6 панорамного фотоаппарата установлено на качающейся ферме 3 между объективом I4 и экспозиционной щелью 15, перемещающейся вдоль выравнивающего барабана 16 с неподвижной в процессе фотографирования пленкой 6. Мира 1 установлена в экспозиционной щели 15 аппарата (не показана). Два мнимых источника света изображения 17 создаются с помощью стробоскопической лампы 18з двух диафрагм 19 и наклонных зеркал 20.. . Ферма 13, качаясь вокруг оси 21, перемещается вдоль выравнивающего барабана 16 с пленкой 6, При этом, мира освещается импульсами света стробоскопической лампы 18 и на плен ку 6 периодически впечатывается изоб ражение (не показано) миры I, освещенной двумя источниками света от стробоскопической лампы 18. После пр явления пленки 6 определе1ше величины ее неровностей производят аналогично, как в кадровом аппарате. Контроль выравнивания пленки осуществляется следуюшсим способом. Мира 1 фотографируется на пленку 6, затем пленка проявляется и по изображению определяется величина не ровностей пленки 6. Изображение квадрата на пленке зависит от того, на каком расстоянии от фокальной пло кости находится пленка в момент фото графирования, т.е. от величины неров ностей пленки, сравнивают с эталоном 9и определяют номер ряда 12 штрихов 10на эталоне 9, штрихи 10 которого совпадают с изображением (не показан штрихов 3 миры 1. Величину неровностей пленки определяют по формуле S Е,. п, где B-J постоянная квадрата, п - номер ряда штрихов эталона. Использование устройства и способа определения величины невыравнивания пленки позволяет повысить точность, значительно снизить трудоемкость определения величины неровностей пленки за счет исключения операции измерения. Кроме того, предлагаемое устройство можно использовать для определения величины неровностей пленки в панорамных аппаратах Формула изобретения I . Способ контроля выравнивания фотопленок, заключающийся в фотографировании тест-объекта на пленку. проявлении пленки в целях определения величины неровностей по изображению тест-объекта на пленке, о тличающийся тем, что, с целью снижения трудоемкости определения величины неровностей, изображение квадрата на пленке сравнивают с эталоном, а величину неровности определяют по совпадению изображения на пленке с изображением штрихов в одном из рядов эталона, 2.Устройство для осуществления способа контроля выравнивания фотопленок по п. t, содержащее тестобъект, расположенный в фокальной плоскости объектива фотоаппарата, и два точечные; источника света, расположенные на фиксированном расстояиии относительно тест-объекта, отличающееся тем, что она снабжено эталоном с выполненными на нем рядами штрихов, причем каждый ряд содержит заданное положение штрихов, соответствующее определенному расстоянию пленки от фокальной плоскости, а тест-объект выполнен в виде миры, содержащей квадрат с однонаправленными штрихами. 3.Устройство по п. 2, о т л ичающееся тем, что, с целью повышения точности определения расстояния пленки от фокальной плоскости, мира выполнена в виде набора квадратов с однонаправленными штрихами, причем, ширина штриха (уг квадрата к квадрату возрастает. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1 . Авторское свидетельство СССР№ 106527, кл.С 03 В 43/00, 1956г. 2. Инструкция по эксплуатации устройства для контроля выравнивания . пленки в фотоаппаратах. Красногорский механический завод, 1979 (прототип) .

f 2

Похожие патенты SU847255A1

название год авторы номер документа
Способ контроля точности системы автоматической фокусировки объектива съемочного аппарата и устройство для его осуществления 1983
  • Пилипович Владимир Антонович
  • Миткин Руслан Борисович
  • Коротков Валерий Павлович
  • Волков Юрий Тимофеевич
SU1345080A1
Способ определения положения плоскости наводки зеркального фотоаппарата 1982
  • Парняков Юрий Серафимович
  • Гордейчик Николай Петрович
  • Исаев Вилен Тимофеевич
SU1191872A1
Устройство для юстировки кинофотокамер 1987
  • Матюхин Григорий Михайлович
  • Искачкин Николай Андреевич
SU1490667A1
Устройство для проверки фотографической разрешающей способности высокоскоростных камер 1987
  • Кожухов Илья Иванович
  • Белова Маргарита Петровна
SU1444695A1
Устройство для контроля работы видоискателя - дальномера фотоаппарата 1988
  • Тареев Анатолий Михайлович
SU1610470A1
Устройство для определения показателя преломления 1986
  • Черных Игорь Валентинович
  • Предко Константин Григорьевич
SU1467464A1
Устройство для юстировки фотосъемочных камер 1979
  • Козиков Николай Андреевич
  • Кращин Михаил Дмитриевич
  • Харитонов Лев Сергеевич
SU888056A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТРУКТУРЫ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА 2009
  • Тихонов Алексей Александрович
  • Листов Валерий Евгеньевич
  • Козлов Игорь Олегович
RU2419152C1
Устройство для юстировки оптической системы высокоскоростной камеры 1984
  • Кожухов Илья Иванович
SU1215080A1
Способ аэрофотосъемки и устройство для его осуществления 1977
  • Кигель Натан Владимирович
SU686002A1

Иллюстрации к изобретению SU 847 255 A1

Реферат патента 1981 года Способ контроля выравниванияфОТОплЕНОК и уСТРОйСТВО для ЕгООСущЕСТВлЕНия

Формула изобретения SU 847 255 A1

fe.« ,2

mm

ошшг

000

х

иг.6

SU 847 255 A1

Авторы

Кобозев Евгений Константинович

Веселова Нелля Кирилловна

Даты

1981-07-15Публикация

1979-09-03Подача