Электромагнитный дефектоскоп для контроля протяженных объектов Советский патент 1981 года по МПК G01N27/90 

(54) ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП ДЛЯ КОНТРОЛЯ Изобретение относится к неразрушапщему контролю и может быть исполь для дефектоскопии электропроводящих протяженных объектов. Известен электромагнитный дефекто скоп для контроля протяженных объектов с устройством для отстройки от краев контролируемого объекта, содер жсшщй измерительный преобразователь соединенный G его выходом ; измерительный блок, установленный вблизи измерительного преобразователя сигнализатор положения края объекта, соединенный с его выходом логический блок и оконечный блок l. Недостаток известного дефектоскопа заключается в низкой надежности контроля зоны краев контролируемого объе|кта. Наиболее близок к Предлагаемому по технической сущности электромагнитный дефектоскоп для контроля про тяженных объектов, содержащий после довательно соединенные генератор, проходной дифференциальный вихреток вый,преобразователь, амплитудно-фаЭ.ОВЫЙ детектор, подключенный своим опорным входом к генератору и форми рователь строб-импульса,подключенный ПРОТЯЖЕННЫХ ОБЪЕКТОВ своим прямым выходом к первому входу логической схемы И 2. Однако и этот дефектоскоп не обеспечивает необходимой нсщежности контроля, так как сигналы от дефектов на краях объекта суммируются с сигнгшами от концов, что приводит к недобраковке. Цель изобретения - повышение надежности контроля. Поставленная цель достигается тем, что дефектоскоп снабжен последовательно соединенными повторителем,подключенным своим входом к выходу амплитудно-фазового детектора, первым и вторым ключами, соединенными своими управляющими входами с инверсным и прямым выходами формирователя стробимпульса, соответственно, а своими выходами - соответственно через конденсатор и резистор с нулевой шиной, дифференциальным усилителем, соединенным своим прямым входом с выходом амплитудно-фазового детектора, а инверсным входом - с выходом второго ключа, и амплитудным селектором, соединенным своим входом с выходом дифференцисшьного усилителя, а своим выходом - со вторым входом логической схемы И. На фиг. 1 изображена функциональ ная схема дефектоскопа; на фиг. 2 временные диаграммы, поясняющие его работу. Дефектоскоп содержит последовате но соединенные генератор 1, проходн дифференциальный вихретоковый преоб зователь 2, амплитудно-фазовый дете тор 3, подключенный своим опорным входом к генератору 1, формировател $ строб-импульса, логическую схему И, формирователь 4 строб-импульсов подключен своим прямым выходом к первому входу логической схемы 5 И, соединенной своим вторым входом с амплитудным селектором 6, последовательно соединенные повторитель 7, подключенный своим входом к выходу амплитудно- фазового детектора 3, первый ключ 8 и второй ключ 9, соединенные своими управляющими входами с прямым и инверсным выходами формирователя 4 стробимпульса, соответственно, дифференциальный усилитель 10, соединенный своим прямым и инверсным входами соответственно с выходом амплитудно фазового детектора 3 и второго ключа 9, а своим выходом - со входом амплитудного селектора 6. Выходы первого и второго ключей 8 и 9 соединены, соответственно, через конденсатор 11 и резистор 12 с нуле вой шиной. Диаграммы 13-16 поясняют работу устройства при контроле бездефектного изделия, а диаграммы 17-20 при контроле изделия с точечным дефектом у начала. Диаграммы 13 и 17 изображают сигнал от начала изделия на выходе амплитудно-фазового детек тора 3, диаграммы 14 и 18 - стробимпульс контроль на прямом выходе формирователя 4, диаграммы 15 .и 19 импульс на инвертирующем входе дифференциального усилителя 10, диагра мы 16 и 20 - выходной сигнал дифференциального усилителя 10, Дефектоскоп работает следующим образом. При введении контролируемого изделия в дифференциальный преобразователь 2, база которого меньше радиуса измерительной , на выход амплитудно-фазового детектора 3 формируется сигнал 13 от начал издел 1я, длительность которого t, ; определяемая по уровню Удорсрабатыва ния амплитудного селектора 6, в несколько раз превышает длительность сигналов от точечных дефектов. Уровень срабатывания амплитудного селектора 6 выбирается из условия не обходимой чувствительности к дефектам. Задний фронт t2 сигнала 13, определяемый от точки перегиба (точ ки экстремума первой производной сигнала 13), по форме близок к экспоненте. Сигналом 13 от начала изделия через повторитель 7 и открытый первый ключ 8, управляемый формирователем 4, заряжается конденсатор 11. Постоянная времени цепи заряда конденсатора 11 много меньше длительности t импульса 13, поэтому напряжение на конденсаторе 11 повторяет выходной сигнал амплитудно-фазового детектора 3. Начало строб-импульса формируется формирователем 4 в момент дости.жения Bjoporo экстремума первой производной сигнала 13 от начала изделия (диаграмма 14). Строб-импульс контроль закрывает первый ключ 8 и открывает второй ключ 9, при этом начинается разряд конденсатора 11 через резистор 12. Постоянная времени цепи разряда конденсатора 11 выбирается из условия равенства моментов окончания разряда конденсатора 11 и сигнала 13 от начала изделия. Напряжение разряда конденсатора 11, представляющее собой экспоненту (диаграмма 15), поступает на инвертирующий вход дифференциального усилителя 10 и вычитается от сигналь 13, поступающего на второй вход дифференциального усилителя 10. Сигнал 13 от начала изделия проходит на выход дифференциального усилителя 10 с укороченным задним фронтом (диаграмма 16) и вызывает с рабатывание амплитудного селектора 6, выходной импульс которого не проходит на выход логической схемы 5. И совпадения, так как стробимпульс контроль поступает на ее второй вход в момент окончания сигнала 16. Если на начале изделия расположен точечный дефект, то задний фронт сигнала от начала изделия будет искажен (диаграмма 17) и сигнал от дефекта отчетливо проявится на выходе дифференциального усилителя 10 (диаграмма 20), будет зарегистрирован амплитудным селектором 6 и пройдет на выход логической схели 5 И, на втсчрой вход которой поступает строб-импульс контроль 18. Таким образом в предлагаемом дефектоскопе увеличивается выявляемость точечных дефектов в зоне начала изделия, этим повышается надежность контроля, формула изобретения Электромагнитный дефектоскоп для контроля протяженных объектов, содержащий последовательно соединенные генератор, проходной дифференциальный вихретоковый преобразователь, амплитудно-фазовый детектор, подключенный своим опорным входом- к генератору и формирователь строб-импульса , подключенный своим прямым выходом к