Способ контроля криволинейных поверхностей Советский патент 1950 года по МПК G01B11/30 G01B9/04 

Предметом изобретения является способ контроля кризолг1неиных поверхностей с использованием двойного микроскопа.

Известны способы контроля криг;::;лпнейиь;х позер.кнэстеи с использованием двойного микроскопа, однако они не обеспечивают возможности измерения поверхностей сложной сонфнгурашш Еследст,ие -1е ;одвнжности экрана.

Предлагаемый способ отличается от известных подобных способов тем, что в качестве экрана применена фотопластл.нка, укрепляемая па подвижном столе микроскопа. Исследуемое изделие устанавливается на подвижном столе и перемещается вместе с сЬотопластг1::кой в направлении, перпендикулярном к плоскости распсложсння объективоз микроскопа, закрепленного неподвижно. В результате этого на фотопластинке воспроизводится кривая линия, соответствующая профилю нссле.тхемой поверхности. Возможность фотозапнс ; профиля поверхностей, имеющих сложную конфигурацию, обеспечивается переме иен ;ем изделия и экрана в направлении, перпендикулярном к плоскости падения и отражения луча.

На фиг. 1 схематически изображено устройство, обс:Спеч112ак1И,ее применение нового способа контроля криволинейных поверхностей; на фиг. 2 - полученная кривая.

На подвижном столе / закреплена контролируемая деталь 2, имеющая поверхность сложной конфигурации. На стойке 3 стола / смонтирована фотопластинка, служащая экраном 4. При помощи источника 5 света на контролируемую поверхность детали 2 проектируют малое круглое отверстие 6 д,войного микроскопа, установленного неподвижно по отношению к столу /. После этого деталь 2 перемещают вместе с установленным на столе 1 экраном 4 и проектируют на экран полученное изображение через второе отверстие 7 микроскопа. Деталь с экраном перемещают в направлении, перпенднку.тярном к плоскости падения и отражения луча.

Предмет изобретения

Способ контроля криволинейных поверхностей с использованием двойного микроскопа, отличающийся тем, что, с целью контроля

поверхностей со сложной конфигурацией, на контролируемую поверхность детали, закрепленной на подвижном столе, проектируют малое круглое отверстие и перемещают деталь вместе с установленным ий столе экраном в направлении, перпендикулярном к плоскости падения я отражения луча