Оптико-электронная приставка к коллиматору для измерения спектрального коэффициента пропускания объективов Советский патент 1981 года по МПК G01M11/02 

ем и с нанесенным зеркальным покрытием в виде треугольника, поперечный размер которого на расстоянии половины его высоты соизмерим с диаметром аберрационного пятна объектива, ое5ращенным зеркальным покрытием к пО лупрозрачному зеркалу,и установленной в центре кривизны и перпендикулярно главной оптической оси сферического зеркала с возможностью продольного перемещения и поворота в своей плоскости.

На чертеже изображена оптическая схема приставки.

Приставка содержит фотоприемник 1, установленный в фокусе вспомогательного объектива 2, введенное в полимированнЕлй поток полупрозрачное зеркало 3, пообеим сторонам которого расположены вспомогательный объектив 2 iT плоское зеркало опЭрного канала 4 также по обе стороны от полупрозрачногр зеркала 3 размещены апертурная диафрагма 5, отверстие которой соответствует световому диаметру поверяемы объектов,,и обращенное к полупрозрачному зеркалу сферическое зеркало б, в центре кривизны и перпендикулярно главной оптической оси которого установлена пластина 7 с прорезью и зеркальной полосой, обращенной к полупрозрачному зеркалу 3, при этом пластина может быть выполнена в виде поворотного диска или круга и установлена с возможностью перемещения и поворота на в своей плоскости; светонепроницаемые шторки 8 поочередно перекрывающие опорннгй и измерительный каналы 9 - место размещения поверяемого объектива, Пунктиром обозначена пластина при повороте ее на 90 град. Стрелкой показано возможное перемещение пластины.

В режиме измерения коэффициента пропускания приставка работает сле-( дующим образом.

Коллимированный поток излучения после апертурной диафраггФт 5 разлеляется полупрозрачным зеркалом 3 на два канала: опорный и измерительный, поочередно перекрываемые шторками 8. Поток излучения измерительного канала прдходит полупрозрачное зеркало 3 поверяемый объектив 9, прорезь пластины 7 и попадает на сферическое зеркало. 6, отразившись от которого, вновь проходит прорезь, объектив, отражается от полупрозрачного зеркала и фокусируется вспомогательным j объективом 2 на фотоприемник 1, вызы вая сигнал, величина которого составляет УОБ .

Поток излучения опорного канала отражается от полупрозрачного зеркала 3, попадает на плоское зеркало 4, отразившись от которого, вновь проходит полупрозрачное зеркало 3 и вспомогательным объективом 2 фокусируется на фотоприемник 1, вызывая сигнал Up .

Коэффициент пропускания объектива }, В ТОМ числе и спектральный, определяется, как отношение |U(j6

.o«r

При этом предполагается, что световая характеристика фотоприемника линейна а коэффициенты отражения зеркал опорного и измерительного каналов равны между собой.

В режиме измерения размеров аберрационного пятна приставка работает следующим образом.

После определения , пластина 7 в измерительном канале смещается таким образом, что прорезь сменяется зеркальной полосой.При этом излучение будет отражаться не от сферического зеркала, а непосредственно от зеркальной полосы (которая расположена в центре кривизны сферического зеркала и в фокусе поверяемого объектива .

Если не учитывать различие в характере падения излучения на поверхность сферического зеркала (по нормали и на зеркальную полосу пластины (под углом, равным задней апертуре объектива , в этом случае , сохранит своё значение, т.е. сигнал . (измерительного канала будет прежним. (Коэффициент отражения пластины также равен коэффициенту отражения плоского и сферического зеркала). Смещая пластину в своей плоскости к основанию треугольной полосы будет фиксироваться момент уменьшения сигналаUgj,что имеет место, где поперечный размер зеркальной полосы стал равным, а затем меньшим аберрационного пятна объектива. Для измерения второго, взаимно перпендикулярного размера пятна, пластина разворачивается на 90 градусов и смещением пластины также фиксируется момент равенства поперечного размера полосы аберрационному пятну.

Таким образом, зная геометрические размеры полосы, можно с достаточной точностью (например для выбора чувствительной площадки фотоприемника, который будет работать совместно с объективом) установить предельные размеры аберрационного пятна.

Использование изобретения позволит в условиях производства, с наименьшими затратами времени и средств определить важнейшие характеристик объективов: спектральный коэффициент пропускания,размеры и форму аберрационного пятна, величину заднего фокального отреза. Особенно важно то, что испытание объективов можно проводить в любом диапазоне спектра: видимом, инфракрасном и ультрафиолето-, вом.

Формула изобретения

Оптико-электронная приставка к коллиматору для измерения спектрального коэффициента пропускания объективов по авт.св. 587355,о т л и чающаяся тем, что, с целью получения информации о размерах аберрационного пятна объектива, она снабжена пластиной с отверстием и с нане сенным зеркальным покрытием в виде треугольника, поперечный размер которого на расстоянии половины его йысоты соизмерим с диаметром аберраци онного пятна объектива, обращенным зеркальным покрытием к полупрозрачнО.му зеркалу и установленной в центре кривизны и перпендикулярно главной оптической оси сферического зеркала с возможностью продольного перемеце |НИЯ и поворота в своей плоскости.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР В 587355, кл. 01М 11/02, 05.07.76 (прототип.