Постоянный магнит для шлихового анализа Советский патент 1950 года по МПК H01F7/02 

Известные магршты. применяющиеся для производства шлихового анализа, сложепы в 1;зготовленин. имеют значнтельиьп вес н nenpiicnoеоблены для отбора сильномагнитпых фракии. того, при пользовании этими магьптами необ. производить для ка:кдо;1 отбпраемон фракции перерегулировку на 1ря кепписти MnriiHTHCTO поля в рабочем зазоре мапштпьгм шуитом, что ;;ызьми1ет большие затрать; времени.

Описываемы магнит для ил хового анализа из -отог ле1;П1 ; 1 13 стали иесложе в изготон., облл.дает 1е:; ;аЧ ггсмь : 1:Ч iec(M, удобен в работе и нозво.тяет произ юдить отбор ак cii.iiiiidмаг 1 тных, Taiv и всех слабомагн гг Пз1х .

На чертеже ноказаи Honepe4ii i:i разрез .

CfJCrOlIT из двух 1ЛаСТИ1 ОК -4 Л, СОеДИНС : 1Х nL-peN l 4 -:ой 6. Загиут;ле края 7 и 8 пласт П1ок образу от меж 1ол оспые 3a3t)pi.i различной .. Ilапряжен К)сть маг 11 тного поля 5 .зазО|1ах регулируется при 1о:.;ОН1н магнитного 9. нредстазля О 11его ередвижную желез|1 к; Г ласти1 у .) с 9 осред1П е. 15ыст ;; / .чеВОЙ боковой СТОрО 1Ы ЛПЮГОИОЛЮСНО. B: yTiK-n ;5; ;

нолостг. 2 занол ;еиа немагн 1Т П 1м матер алол. i aiipHN ep залита серой.

Слабомаг,)е фракц и отбираются с маги1;т; ых ioлей межпол осиых за-.оро верхнего . Так как ип.рииа зазоров верхнего и ижпего неодинакопа, то 111теис 1виость поля в них так же различна.

Следо ателы10, п из зазоро 1з; лекается более маг1 итпа5 фракщгя, 5 дру1ом-менее .

Средиемагпитмая фракция отбирается е маг П Тного чюля, ил1е1О цегося в в;)1емке 9 железной 3. llaKOiiOu, сильномагиитные фракцн В1)стуном / iaгнитa, ничси;;,;:. мп-:;-:;полюено.