Устройство для измерения диэлектрических характеристик веществ Советский патент 1981 года по МПК G01R27/26 G01R27/22 

Описание патента на изобретение SU890271A1

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля диэлектрических параметров жидких и твердых веществ, диэлектрические потери в которых могут изменяться в широких пределах.

Известен резонансный диэлькометр, в котором ячейка и градзирова1шый ь:онденсатор переменной емкости включены в задающий LCконтур генератора, в этот же контур включен щунгирующий диод с источником опорного напряжения. Изменение емкости ячейки после введения в нее образда определяется по- щкале градуированного конденсатора,после уменьшения емкости которого восстанавливается прежняя частота генератора. А проводимость, эквивалентная потерям в исследуемом образце, отсчитьшается по шкале измерителя тока, протекающего через шунтирующий диод 1 .

Недостатком известного устройства является то, что при измереш1и проводимостей в широком диапазоне опорное напряжение необхо димо регулировать в широких пределах. При этом значительно изменяются амплитуда коле.баний на измерительном контуре и ток через

диод, кроме того генераторным методам в принципе присуща погрешность измерения диэлектрической проницаемости при наличии потерь в исследуемом образце.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является диэлькометр, спдержацип CNncocTHyro ячейку и градуированный измерительный конденсатор, переключатель, колебательный LC-контур, состоящий из катушки индуктивности и вспомогательного конден10сатора переменной емкости, питающий генератор, амплитудный детектор устройство управления настройкой измерительного контура и резонанс (блок автоматической подстройки частоты) и блок измерения потерь, содержащий

15 ключ, запоминающее устройство, вычитатель и устройство вычисления отношения двух напряжений. В этом устройстве диэлектрическая проницаемость определяется по. шкале измерительного конденсатора, периодически замеща20ющего в колебательном контуре ячейку с исследуемым веществом, а проводимость q, эквивалентную диэлектрическим потерям по от- носительному изменению напряжения на измерительном контуре после введе1шя в ячейку исследуемого вещества , 2 . Существенным недостатком, описанного диэлькометра является узкий динамический диапазон измеряемых проводимостей. Целью изобретения является расширение диапазона измерения диэлектрических потерь. Поставленная цель достигается тем, что в устройство для измерения диэлектрических характеристик веществ, содержащее питающий генератор, соединенный с первым вьшодом одного из двухполюсников связи, измерительный контур, состоящий из катушки индуктивности и вспомогательного конденсатора переменной eiviKocTH, емкостную ячейку и измерительный конденсатор, одни обкладки которых че,рез переключатель соединены с измерительным контуром, другие обкладки соединены с общей щиной, амплитудный детектор, включенный параллельно измерительному контуру, а выход амплитудного детектора соединен со входом блока измерения потерь и со входом блока автоматической подстройки частоты, выходы последнего соответственно соединены с управляющим входом переключателя и управляющим входом блока измерения потерь введены другой двухполюсник связи, дополнительная катушка индуктивности, два дополнительных переключателя и логический блок, причем первый вьшод другого двухполюсника связи: соединен с выходом питающего генератора, а вт рые . выводы одного и другого двухполюсников связи соответственно соединены с вьгоодами первого дополнительного переключателя, подвижный вьшод которого соединен с измерительным LC-контуром и подвижным выводом второго дополнительного переключателя, а вьгооды последнего соответственно соединены с первыми вьшодами дополнительной катушки индуктивности и катушки индуктивности, вторые вьтоды которых соединены с общей шиной, управляющие входы дополнительных переключателей соединены с выходом логического блока, вход которого соединен с выходом блока измерения потерь Двухполюсники связи выполнены в виде последовательно включенных резистора и конденсатора. На чертеже представлена принщтиальная электрическая схема устройства для измерения диэлектрических характеристик веществ. Устройство содержит питающий генератор 1 измерительный LC-контур, состоящий из основ ной катущки индуктивности 2 и вспомогатель ного конденсатора переменной емкости 3, переключатель 4, попеременно подключе1шый в измерительный LC-контур измерительный конденсатор 5 и емкостную ячейку 6, амплитудньш детектор 7., Выход амплитудного детектор .4 связан со входом блока автоматической подстройки частоты 8 и блоком измерения потерь 9, содержащим ключ 10, блок вычисления отношения двух напряжений 11, вычитатель 12 и запоминающее устройство 13. Выход блока вычисления отношения двух напряжений 11 является вь1ходом устройства и соеданен со входом логического блока 14. Выход логичес- кого блока 14 соединен с управляющими входами переключателей 15 и 16, коммутирующие контакты которых соединены с измерительным LC-контуром. Каждый из коммутируемых контактов переключателя 15 связан с первыми выводами основной и дополнительной катущек индуктивности 2 и 17, а каждый из коммутируемых контактов переютючателя 16 связан с первым полюсом одного из двухполюсников связи 18 и 19. Вторые полюса двухполюсников связи связаны с выходом питающего генератора 1. Двухполюсники связи состоят из последовательно включенных резистора и конденсатора связи. Параметры двухполюсников связи основной и дополнительной катушек индуктивности 2, 17 связаны между собой следующими соотнощениями:R2 kR,;(1) Х2 kx,;(2) (. --) где k - козффищ1ент, определяющий отношение диапазонов измеряемых диэлектрических характеристик веществ; Ri,R2 - сопротивления резисторов двухполюсников связи 18 и 19, включающие и внутреннее сопротивление питающего генератора I; 1 С , емкости конденсаторов двухполюсНИКОВ связи 18 и 19; LI, La - величина индуктивности основной и дополнительной катушек индуктивности 2, 17. Устройство работает следующим образом. В исходном состоянии измерительный LCконтур питается от питающего генератора 1 через двухполюсник связи 18, обеспечивающий требуемую чувствительность при максимальных диэлектрических потерях в исследуемом веществе Qj(,- В контур включена катушка индуктивности 2(Li).

Блок автоматической подстройки частоты 8 по сигналу с амплитудного детектора 7 настраивает контур в резонанс или вспомогательным конденсатором переменной емкости 3 при подключенной емкостной ячейке 6, или измерительным конденсатором 5, когда он подключается в измерительный LC-контур вместо емкостной ячейки 6. В результате емкость измерительного конденсатора 5 устанавливается равной величине емкости емкостной ячейки 6 и по его шкале определяется диэлектрическая проницаемость (е) вещества, заполняющего ячейку.

В блоке измере1шя потерь 8 напряжение с амплитудного детектора 7 постоянно поступает на первые входы вычитателя 12 блОка вычисления отнощения двух напряжений 11, а при замкнутом ключе 10, что соответствует подключению в измерительный LC-контур измерительного конденсатора 6, еще и на вход запоминающего устройства 13, откуда поступает на второй вход вычитателя 12. Таким -образом, при подключенном к измерительному LC-контуру измерительного конденсатора 5 на оба входа . вычитателя 12 поступает напряжение UQ, равное амплитуде напряжения на измерительном LC-контуре при незаполненной емкостной ячейке 6, а при подключенной к измерительному LC-контуру заполненной емкостной ячейки 6 на первые входы вычитателя 12 и блока вычисления отнощения двух напряжений 11 поступает напряжение в то время, как на второй вход вычислителя 12 с запоминающего блока 13 поступает напряжение UQ и на второй вход блока вычисления отношения т1вух напряжений 11 - разность Ди УО - и..

Отношение напряжений выходе блока вычисления отношения двух напряжений пропорционально проводимости q, эквивалентной активным потерям в исследуемом веществе, заполняющем емкостную ячейку 6.

Если показания блока вычисления отношения двух напряжений в заданное число k раз меньще основного диапазона измеряемых проводимостей исследуемого вещества q,jjy,gу,логический блок 14 переключателями 15 и 16 подключает к измерительному LC-контуру дополнительную катушку индуктивности 17 и двухполюсник связи ((R2C2) 19, соответствующие более узкому диапазону измеряемых проводимостей исследуемого вещества. Это позволяет повысить точность и чувствительность устройства при измерении проводимостей меньших значений

cni Формула изобретения

1.Устройство для измерения диэлектрических характеристик веществ, содержащее питающий генератор, соединенный с первым выводом одного из двухполюсников связи, изме рительный LC-контур, состоящий из основной катун1ки индуктивности и вспомогательного конденсатора переменной емкости, емкостную ячейку и измерительный конденсатор, одни обкладки которых через переключатель соединены с измерительным LC-контуром, другие обкладки соединены с общей шиной, амплитудный детектор включетп 1Й параллельно из$ мерительному LC-контуру, а выход амплитудного детектора соединен со входом блока измерения потерь и со входом блока автоматической подстройки частоты, выходы последнего соответственно соединены с управляющим

входом переключателя и управляющим входом блока измерения потерь, отличающееся тем, что, с целью расширения диапазона измерения диэлектрических потерь, в него введены другой двухполюсник связи дополнительная катушка индуктивности, два дополнительных переключателя в логический блок, причем первый вьшод другого двзосполюсника связи соединен с выходом питающего генератора, а вторые вьшоды одного и другого двухполюсников связи соответственно соединены с вьшодами первого дополнительного переключателя, подвижный вывод которого соединен с измерительным LC-контуром и с подвижным выводом второго дополнительного переключателя, а выводы последнего соответственно соединены с первыми выводами основной и дополнительной катущек индуктивности, вторые выводы которых соединены с общей шиной, управляющие входы дополнительных переключателей соединены с выходом логического блока, вход которого соединен с выходом блока измерения потерь.

2.Устройство по п. 1, о т л и ч а ю щ ее с я тем, что двухполюсники связи выполнены в виде последовательно включенных peзистора и конденсатора.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Измерительная техника, 1972, N 7, с. 58-60.

2.Авторское свидетельство СССР по заявке № 2635863/18-21, кл. G 01 R 27/26,.

5 30.11.78 (прототип).

Похожие патенты SU890271A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения диэлектрических характеристик 1989
  • Подгорный Юрий Владимирович
SU1659910A1
Устройство для измерения диэлек-ТРичЕСКиХ пАРАМЕТРОВ ВЕщЕСТВ 1979
  • Подгорный Юрий Владимирович
  • Терлецкая Любовь Алексеевна
SU808983A1
Устройство для измерения диэлектрических характеристик веществ 1986
  • Подгорный Юрий Владимирович
  • Шахматов Александр Александрович
  • Тертычный Александр Захарович
SU1337826A1
Стенд для измерения частотных характеристик свойств веществ 1982
  • Арш Эмануэль Израилевич
  • Сивцов Дмитрий Павлович
  • Флоров Александр Константинович
SU1114981A1
Диэлькометр 1982
  • Подгорный Юрий Владимирович
  • Терлецкая Любовь Алексеевна
SU1040435A1
"Устройство для измерения влажности 1979
  • Подгорный Юрий Владимирович
  • Клюев Юрий Васильевич
  • Аверин Анатолий Иванович
SU822082A1
Устройство для измерения диэлектрических параметров 1985
  • Подгорный Юрий Владимирович
  • Немаров Александр Васильевич
SU1277019A1
Диэлькометрический анализатор 1981
  • Подгорный Юрий Владимирович
  • Глазырин Геннадий Петрович
SU1023255A2
Устройство для измерения диэлектрической проницаемости материалов 1977
  • Подгорный Юрий Владимирович
  • Немаров Александр Васильевич
SU691743A1
Устройство для измерения диэлектрических параметров материалов 1984
  • Подгорный Юрий Владимирович
  • Немаров Александр Васильевич
  • Терлецкая Любовь Алексеевна
  • Штраль Игорь Янович
SU1205069A1

Иллюстрации к изобретению SU 890 271 A1

Реферат патента 1981 года Устройство для измерения диэлектрических характеристик веществ

Формула изобретения SU 890 271 A1

SU 890 271 A1

Авторы

Подгорный Юрий Владимирович

Даты

1981-12-15Публикация

1980-02-25Подача