Устройство для измерения длин волн оптического излучения Советский патент 1993 года по МПК G01B9/02 

Описание патента на изобретение SU906233A1

i k;r лнлегиная иепь достигается тем --;:с и уст oiV/icrBo дополнительно введе i-ibs две 11оглошаюи1ие диасЬрагмы, при этом шестилуиепал и одна из поглощаю 1ИИХ д -афрагм установлены соответственно ма пнутренней у e eшнeй поверх ностях выходного окна первой ячейки, а другая диафрагма - на внутренней ; ;Ойг::;х; iocrv: Быхс)Дпого окна второй ;- чСЙкИ , На Фи г, представлена функцио-«ал;з1--;ая схема устройства для измереЬ1ия длин аолн оптического излучения; hii, 2 - используемые в устройстУсгрс)йст8о содержит интерферометр а6ои-Перо 1, объектив 2, две оптико ; хустическиз ячейки 3 и , установ-чсчныв в Ячейках конденсаторные мик,)офг)чы J и 6, подключенный к микрофо -;вм мнкпополюсный двухканальный уси-ivii-erib 7, измеритель отношений выход iaix напряжений 8, шестилучевую диафИ две поглои(аюшие диафрагмы том л-1афра: мг 9 установлена снчей позерх-к;сти выходного РОЙ ячейч --. ,{;;.г;Г)ра гна 10 уса -сз BHatuMan поверх юсти это :. ок;-а i а г;-;/-;;- гк;; г ощающеГО экрана и установ ;|-:-;- -к; знутренней поверх ноет и выход : ,- ; ::-: ; ОПОЙ пиай и , Т:,::-, а :ycTvikJec4;-ie ячейки запол.-. -:НР гг/-:- -,м газом и изолированы V, / тугв. а диафпа мь зыполнечы :-ч,5-:г -.-е;.; псвзохностей окон ячеек,, Л:/;айрагна 3 имеет такую форму (см J), что изменение поглощенной |;а ;-ie0 энергии злучения соответстеу av у З- енению диаметра колец второго порядка интерференционной картинь ; Форме диафраг; ы определяется по форщирина диафрагмы; ра ди у с 1 н т е рфе р е н ц ио н но г о колоца, соответствующего излучению с измеряемой длиной волны А ; dfi максимальное значе маке ние диаметров кодыда ,.- го порядка интерференцииj f - фoкyct r)e расстояние используемого объектива; I: - порядок интерференции (в данном случае г, 2) . Г 3,1. Диафрагма 10 имеет вид кольца с ,мии - гмокс .с i Mav:c .,максимальное значение диаметра кольца п-го порядка интерференции (п выбирается произвольно и зависит от размера окон ячеек) . Лиафрагм.ой 10 определяется величина энергии излучения, поглощаемой экраном 11, т.е. величина опорного сигнала . Устройство работает следующим образом. Интерференционная картина в виде концентрических колец объективом 2 проектируется на диафрагму 9. Устройство по юстировочному газовому лазеру непрерывного действия устанавливается таким образом, чтобы оси диафрагм 9 и 10 совпадали с центром концентрических колец картины. В этом случае энергия нулевого, первого и частично второго интерференционных максимумов поглощается черненой поверхностью диафрагмы 9 и трансформируется в импульс давления газа в первой ячейке, который регистрируется кондел саторным микрофоном 5. Диафраг,мой 10 обрезается оставшаяся часть энергии второго интерференционного максимума и энергия тех колец, порядок которых бoльuJe п. На экране 11 г1О лощается энергия максимумов с 3 го по п порядок интерференции, которая также трансформируется в импудьс дав,11ения во второй ячейка; и является источником опорного сигнала, регистрируемого конденсаторным микрофоном 6, Обработка сигналов, поступающих с конденсаторных микрофоноЕ) и усиленных в двухканадьном усилителе, производится с помощью измерителя отношений и устройства индикации. Устройство позволяет оперативно измерить длину водны излучения ддя широкого класса перестраиваемых по частоте лазеров, является более простым в юстировке (один оптический канал вместо двух) и более простым по конструкции. По сравнению с базовыми устройствами для измерения длины волны излу- .чения ,(содержащ| ми интерферометр, ; объектив, фотокамеру и измерительный ;

микроскоп) предлагаемое устройство позволяет измерять длину волны излучения в реальном масштабе времени, обладает гораздо большей спектральной иирокополосностью, при его применении отпадает необходимость использовать дополнительную измерительную и вычислительную технику.

I

Похожие патенты SU906233A1

название год авторы номер документа
Способ определения поля скоростей перемещений поверхности объекта 1986
  • Деревщиков Виталий Александрович
SU1384941A1
Способ внутриволноводной терагерцовой интерферометрии и сапфировая ячейка для его реализации 2018
  • Катыба Глеб Михайлович
  • Шикунова Ирина Алексеевна
  • Долганова Ирина Николаевна
  • Курлов Владимир Николаевич
  • Зайцев Кирилл Игоревич
RU2690319C1
Устройство для определения скоростей перемещения поверхности деформируемого объекта 1984
  • Деревщиков Виталий Александрович
SU1231401A1
Интереферометр для контроля формы вогнутых эллиптических поверхностей 1986
  • Комраков Борис Михайлович
  • Гусев Михаил Евсеевич
SU1370453A1
Учебный прибор по оптике 1987
  • Амстиславский Яков Ефимович
SU1481843A1
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МНОГОЛУЧЕВОЙ СВЕТОФИЛЬТР (ВАРИАНТЫ) 2012
  • Чесноков Владимир Владимирович
  • Чесноков Дмитрий Владимирович
  • Михайлова Дарья Сергеевна
  • Сырнева Александра Сергеевна
RU2491584C1
Способ определения оптической толщины сканирующего интерферометра Фабри-Перо и устройство для его осуществления 1982
  • Евдокимов Юрий Владимирович
  • Кравчинский Леонид Лейбович
  • Штенгер Михаил Борисович
SU1075074A1
Измеритель разности двух давлений 1991
  • Багдасаров Завен Егишевич
  • Гришин Юрий Алексеевич
  • Королев Борис Константинович
  • Лаврентьев Валентин Александрович
  • Сергеев Владимир Филиппович
  • Таран Владлен Абрамович
SU1812451A1
Пространственный фильтр 1979
  • Рубинов Юрий Александрович
  • Мазуренко Юрий Тарасович
SU800941A1
СПОСОБ МНОГОКАНАЛЬНОГО ИЗМЕРЕНИЯ СМЕЩЕНИЯ ДЛИНЫ ВОЛНЫ СВЕТА С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ИНТЕРФЕРОМЕТРА ФАБРИ-ПЕРО 2014
  • Бражников Павел Петрович
RU2549557C1

Реферат патента 1993 года Устройство для измерения длин волн оптического излучения

Формула изобретения SU 906 233 A1

SU 906 233 A1

Авторы

Макогон М.М.

Пономарев Ю.Н.

Тихомиров Б.А.

Даты

1993-02-15Публикация

1980-06-24Подача