(5) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ ДИЭЛЕКТРИКОВ
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Устройство для контроля толщины диэлектриков | 1981 |
|
SU974102A1 |
Устройство для обнаружения жидкойфАзы B гАзОВОМ пОТОКЕ | 1979 |
|
SU807144A1 |
Устройство для измерения линейной плотности волокнистых материалов | 1990 |
|
SU1796052A3 |
Емкостной датчик | 1981 |
|
SU972378A1 |
ЕМКОСТНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАМЕТРА ВОЛОКНА | 1990 |
|
RU2006788C1 |
Устройство для измерения омического и поляризационного сопротивлений при электрохимических исследованиях | 1980 |
|
SU1012154A1 |
Устройство для контроля жидких диэлектриков | 1990 |
|
SU1774285A1 |
Устройство для измерения диаметра электропроводящих нитей | 1979 |
|
SU926516A1 |
Способ бесконтактного измерения пара-METPOB элЕКТРОпРОВОдящиХ ТЕл | 1979 |
|
SU823834A1 |
Емкостный первичный преобразователь диаметра проволоки | 1988 |
|
SU1516755A1 |
I
Изобретение относится к контроль но-измерительной технике и может быть использовано для контроля толщины изделий из диэлектриков.
Известно устройство для измерения толщины диэлектрического материала, содержащее плоский измерительный конденсатор, включенный в качестве плеча в трансформаторный мост. В соседнее плечо моста включен подстроечный конденсатор, предназначенный для балансировки схемы lНедостатком устройства является невысокая чувствительность, обусловленная тем, что рабочим является только одно плечо моста.
Наиболее близким по технической сущности к изобретению является устройство для контроля толщины диэлектриков, содержащее трансформаторный мост с включенным в него трехэлёктродным конденсатором, в котором равные по размерам измерительные электроды размещены по одну сторону.
ОТ общего электрода под углом к середине его плоскости f2j.
Недостатком устройства является его ограниченные функциональные возможности, обусловленные тем, что устройство позволяет контролировать лишь малые по размерам дефекты контролируемого объекта, размещаемого в процессе измерений в межэлектродном пространстве.
10
Целью изобретения является расширение .функциональных возможностей, т.е. обеспечение не только обнаружения отк.лонения в толщине, но и измерение толщины материалов.
ts
Поставленная цель достигается тем, что измерительные электроды расположены под одинаковыми углами к краям плоскости общего электрода, а
20 один из-них предназначен для размещения на его поверхности контродируемого изделия в процессе измерения.
3
Нэ чертеже приведена принципиальная схема устройства.
Устройство содержит трансформаторный мост 1 с обмотками 2 и 3 и включенным в него трехэлектродным конденсатором с общим электродом k и измерительными электродами 5 и 6. Контролируемое диэлектрическое изделие 7 располагается на поверхности одного из измерительных электродов 5 В измерительную диагональ моста индикатор 8. Схема питается от источника переменного напряжения.
Устройство работает следующим образом.
При изменении толщины контролируемого изделия 7 из диэлектриков, например при увеличении толщины,возникают разные по знаку приращения емкостей между измерительными электродами 5 и 6 и общим электродом ч. Вследствие эффекта затягивания силовых линий в область с большей диэлектрической проницаемостью, емкость, образованная электродами и 5, увеличивается, а емкость, образованная электродами и 6, уменьшается. Так как указанные емкости включены в соседние плечи моста, то их приращения суммируются,
Предлагаемое устройство позволяет не только обнаруживать отклоне384
ния в толщине контролируемых диэлектриков, но и эффективно измерять толщину материалов.что расширяет функциональные возможности устройства.
Формула изобретения
Устройство для контроля толщины диэлектриков, содержащее трансформаторный мост с включенным в него трехэлектродным конденсатором, в котором равные по размерам измерительные электроды размещены по одну сторону от общего электрода под углом к нему; отличающеес тем, что, с целью расширения его функциональных возможностей,измерительные электроды расположены под одинаковыми углами к краям плоскост общего электрода, а один из них предназначен для размещения на его поверхности контролируемого изделия в процессе измерения.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
Авторы
Даты
1982-03-07—Публикация
1979-11-28—Подача