(5) СПЕКТРОФЛУОРИМЕТР
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Спектрофлуориметр | 1985 |
|
SU1366923A1 |
СПЕКТРОМЕТР | 2007 |
|
RU2347212C2 |
СПЕКТРАЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО | 1996 |
|
RU2094758C1 |
УСТРОЙСТВО И СПОСОБ ДЛЯ ОПТИЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ ЦЕННЫХ ДОКУМЕНТОВ | 2007 |
|
RU2409862C2 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОВЕРКИ ЛЮМИНЕСЦИРУЮЩИХ ЦЕННЫХ ДОКУМЕНТОВ | 2009 |
|
RU2428742C2 |
Монохроматор с дифракционной решеткой | 1979 |
|
SU842428A1 |
СПОСОБ МОДУЛЯЦИИ ИНТЕНСИВНОСТИ ИЗЛУЧЕНИЯ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ | 1999 |
|
RU2168155C2 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОВЕРКИ ЛЮМИНЕСЦИРУЮЩИХ ЦЕННЫХ ДОКУМЕНТОВ | 2012 |
|
RU2491641C1 |
ДИФРАКЦИОННЫЙ ПОЛИХРОМАТОР СО СКРЕЩЕННОЙ ДИСПЕРСИЕЙ | 2015 |
|
RU2611712C2 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОВЕРКИ ЛЮМИНЕСЦИРУЮЩИХ ЦЕННЫХ ДОКУМЕНТОВ | 2011 |
|
RU2451339C1 |
I
Изобретение относится к спектральному приборостроению и может использовано в приборах для люминесцентного анализа.
Известны спектрофлуориметры, содержащие источник излучения, оптические тракты для выделения длины волны излучения возбуждения и излучения флуоресценции при помощи дифракционной решетки и приемно-регистрирующее устройство 1 .
Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является спектрофлуориметр, содержащий источник излучения, оптический тракт для выделения длины волны излучения возбуждения при помощи первой дифракционной решетки, держатель исследуемого образца, поворотное зеркало, оптический тракт для выделения длины волны излучения флуоресценции при помощи второй дифракционной решетки, имеющей общую ось вращения с первой дифракционной решеткой 2.
, Недостатком указанного спектрофлуориметра является невозможность проведения люминесцентных (флуоресцентных) исследований мылых участков люминесцирующих пленок на непрозрачных подложках сложной конфигурации, что обусловлено наличием угла между направлением излучения возбуждения и направлением, по которому измеряется излучение флуоресценции от образtoца.
Цель изобретения - расширение области применения спектрофлуориметра.
Поставленная цель достигается тем, что в спектрофлуориметре, содержащем
15 расположенные по ходу луча источник излучения, оптический тракт для выделения длины волны излучения возбуж дения при помощи первой Дифракционной решетки, держатель исследуемого
20 образца, поворотное зеркало, оптический тракт для выделения, длины волны излучения флуоресценции при помощи второй дифракционной решетки. имеющей общую ось вращения с первой дифракционной решеткой, оптические оси тракта для выделения длины волны излучения возбуждения и тракта для выделения длины волны излучения флуоресценции расположены таким образом, что угол дифракции для длины волны излучения возбуждения является одновременно углом падения излучения флуоресценции на первой дифракционной решетке. На чертеже представлена схема предлагаемого спектрофлуориметра. Спектрофлуориметр содержит источник 1 излучения, фокусирующую систе му 2 тракта возбуждения, щель 3 вход ную тракта воздуждения, коллиматор-, ный объектив k тракта возбуждения, дифракционную решетку 5 (показан частный случай положения дифракционных решеток при нулевом угле разворота друг относительно друга), камерный объектив 6 тракта возбуждения и коллиматорный оэъектив 6 тракта флуоресценции, выходную щель 7 тракта возбуждения и входную щель 7 трак та флуоресценции, фокусирующую систему тракта возбуждения и тракта флу оресценции 8,. исследуемую люминесцирующую пленку 9 непрозрачную подлож ку (образец) в держателе 10, отражающие грани углового зеркала 11 и 12, камерный объектив 13 тракта флуоресценции, выходную щель I тракта флуоресценции, приемнорегистрирующее устройство 15. Предлагаемый спекУрофлуориметр работает следующим образом. Излучение источника 1 через фокусирующую систему 2, входную щель 3 и коллиматорный объектив k направляется на дифракционную решетку 5 под углом падения «fg, где дифрагируется. Излучение длины волны возбуждения под углом дифракции /ерg проходит .объектив 6, щель 7 и фокусируется системой на люминесцирующей пленке 9 которая находится .в углублении непрозрачной подложки, закрепленной в держателе 10. Так как оптические оси тракта возбуждения и флуоресценции совмещены, то излучение флуоресценции от пленки 9 через фокусирующую систему 8, щель 7 и объектив 6 направляется на дифракционную решетку под углом падения в где дифраг руется. Дифрагированное излучение ре гистрируемой длины волны флуоресценции под углом дифракции 4,, направляется на угловое зеркало 11-12. При этом на угловое зеркало направляет-, ся также излучение с длиной волны, отличной от регистрируемой длины волны, которое дифрагировалось на дифракционной решетке под тем углом, что и излучение регистрируемой длины волны флуоресценции, т.е. „ Излучение с этими двумя длинами волны направляются гранями углового зеркала 11 и -12 на дифракционную решетку под углом падения. Здесь излучение, отличное от регистрируемой длины волны, .6п:ределяется под углом дифракции , la излучение регистрируемой длины волны флуоресценции под углом дирфакции через объектив 13 и щель Н попадает на приемно-регистрирующее устройство 15. Использование предлагаемого спектрофлуориметра позволяет осуществлять люминесцентные (флуоресцентные) ис следования малых участков люминесцирующих пленок на непрозрачных подложках сложной конфигурации, например, имеющих бугристую или пористую структуру, вмятины, глубокие щели и т.д. Формула изобретения Спектрофлуориметр, содержащий расположенные по ходу луча источник излучения, оптический тракт для выделения длины волны излучения возбуждения при помощи первой дифракционной решетки, держатель исследуемого образца, поворотное зеркало, оптический тракт для выделения длины волны излучения флуоресценции при помощи второй дифракционной решетки, имеющей общую ось вращения с первой дифракционной решеткой, отличающ и и с я тем, что, с целью расширения области применения, оптические оси тракта для выделения длины волны излучения возбуждения и тракта для выделения длины волны излучения флуоресценции расположены таким образом, что угол дифракции для длины волны излучения возбуждения является одновременно углом падения излучения флуоресценции на первой дифракционной решетке. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Патент США ff 022529, кл. G 01 J , опублик. 1977. 2.Патент Франции № , кл. G 01 J 3/00, опублик. 1977.
Авторы
Даты
1982-04-23—Публикация
1980-06-26—Подача