ного светового потока вычисляют величину напряжений. На чертеже показана схема согласно которой реализуется предлагаемый способ Схема включает источник света 1, поляриаатор 2, четвертьволновую пластину 3 установленную до измеряемого образца 4, вторую четвертьволновую пластину 5, установленную после измеряемого образца, анализатор 6, фотодатчик 7 и регистрирующий блок 8. Измерение остаточных напряжений про изводится следуюшим образом. Световой поток от источника света 1 проходит через поляризатор2,измеряемый образец 4, анализатор 6, попадает на фотодатчик 7 и регистрируется блоком 8. Интенсивность светового потока И-, в этом случае зависит от ориентации напря жений в образце и их величины 3 K-sin4ol-Sin, (1) где oL - угол между направлением напря жений и плоскостью поляризации; -- - разность хода обыкновенного и необкновенного лучей, пропорциональная остаточным напряжениям в образце. Затем синхронно в световой поток вво дят четвертьволновые пластины 3 и 4. Световой поток г зависит только от величины напряжений в образце VK-s 4 Причем ) f(P-P)/5h,(3) л л с - коэффициент оптической чувствительности;с5 - толщина ленты стекла; X - длина световой волны; р| рЧ главные напряжения в сте.кле; У1Пр показатели преломления обыкновенного Инербьжновенного луче дп -двулучепреломление. При подставке (3) в (1) и (2) полу3., K-Sin lct-Sin(), J.K«Sin {p-p.). По величине модулированного светового потока 0л определяется количественная величина остаточных напряжений ( р - р) для данного образца . ЭлектричеЬкий сигнал, пропорциональный световому потоку D/2 формируется фотодиодом 7 и регистрируется блоком 8. Отношение сигналов K-Sin ZoL-Sin Оп - K-si.lвычисляется по показаниям регистрирующего блока 8 и определяет угол между направлением напряжений и плоскостью поляризации. Применение способа в системе автоматического контроля технологических параметров стекла позволит получить коли-, чественную информацию о величине и направлении напряжений в стекле. Использование такой информации в системах автоматического регулирования процессом отжига стекла дает возможность оптимизировать упомянутый процесс, .повысить качество стекла и снизить процент брака стекла, возникающий по причине остаточных напряжений в стекле. Формула изобретения Способ измерения остаточных напряжений в стекле, включающий просвечивание стекла монохроматическим линейнонполяризованным светом, совмещение плоскостей колебаний обыкновенного и необыкновенного лучей, отличающийся тем, что, с целью повыщения точности измерения и определения направления напряжений, во время просвечивания стекла световой поток модулируют двумя четвертьволновыми пластинами, расположенными до и после стекла по ходу луча, а после совмещения щюскостей лучей преобразуют световые потоки модулированного и немо- дулированного света в электрические сигналы, определяют их амплитуды, сравнивают их и по отнощению амплитуд, вычисляют угол между направлением напряжений и плоскостью колебаний поляризованного света, а по величине амплитуды сигнала от модулированного светового потока- вычисляют величину напряжений. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельство СССР № 844592, кл. С 03 В 25/01, 1979. 2.Дюрелли А, Райли У. Введение в фотомеханику. М., Мир, 1970, с. 100106.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Устройство для измерения остаточных напряжений в стекле | 1980 |
|
SU948905A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДВУЛУЧЕПРЕЛОМЛЕНИЯ | 1985 |
|
SU1365898A1 |
МУЛЬТИСТАНДАРТНЫЕ ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ СТЕРЕООЧКИ | 2011 |
|
RU2488150C1 |
Устройство для измерения остаточных напряжений в стекле | 1990 |
|
SU1772087A1 |
ИЗМЕРИТЕЛЬ ТОКА ОПТИЧЕСКИЙ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ | 2021 |
|
RU2767166C1 |
Способ калибровки измерений напряженности магнитного поля и дифференциальной лучевой скорости | 1984 |
|
SU1245895A1 |
Автоколлиматор | 1984 |
|
SU1174886A1 |
СПОСОБ И УСТАНОВКА ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОСТАТОЧНЫХ НАПРЯЖЕНИЙ В МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛАХ ПОЛЯРИЗАЦИОННО-ОПТИЧЕСКИМ МЕТОДОМ | 2002 |
|
RU2240501C2 |
Устройство для контроля толщины кристаллических пластин в процессе доводки | 1987 |
|
SU1479823A2 |
Способ измерения оптического поглощения высокопрозрачных материалов и устройство для его осуществления (его варианты) | 1983 |
|
SU1182879A1 |
f /,/
X/ f
8
Авторы
Даты
1982-08-07—Публикация
1980-09-15—Подача