Устройство для поверки штриховых мер Советский патент 1982 года по МПК G01B9/04 

Изобретение относится к измерительной техцике и может быть использовано для поверки и аттестации штриховых мер.

Известно устройство для поверки штриховых мер длины, содержащеепредметный стол для разметиенйя поверяемой и образцовой штриховых мер, визирный и отсчетный микроскопы с осветителями 1.

Недостатком известного устройства является низкая точность поверки вследствие периодического переключения осветителей.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является устройство для поверки штриховых мер, содержащее оптически связанные осветительны блок, плоское зеркало, образцовую меру и микроскоп, образующие эталонную ветвь, оптически свйзанные осветительный блок, плоское зеркало, поверяемую меру и микроскоп, образукдаие рабочую ветвь, предметный столик с приводом , предназначенный для установки образцовой и рабочей мер и установленный с возможностью переме1аения в плоскости, перпендикулярной к оптическим осям обеих ветвей, и электрически соединенные схему обработки, входы которой связаны с выходами обоих микроскопов регистратор и блок управления, выходы которого связаны соответственно с входами схемы обработки и регистратора .

Однако известное устройство отличается недостаточной точностью поверки из-за того, что меняется спектральный состав светового излучения лам-.

10 почек.осветителей из-за непостоянства теплового состояния нитей накала, а также из-за погрешности от теплового воздействия осветителей фотоэлектрических микроскопов на тепловое сос15тояние штриховых мер.

Целью изобретения является повыше-, ние точности поверки.

Указанная цель достигается тем, что устройство снабжено двумя узлами

20 из обтюратора и заслонки с приводом, последовательно установленными соответственно в рабочей и эталонной ветвях между осветительным блоком и плоским зеркалом, а приводы заслонокс

25 электрически связаны с приводом предметного столика и блоком управления. На чертеже представлена оптическая схема устройства.

Устройство для поверки штриховых

30 мер содержит оптически связанные осветительный блок 1, плоское зеркало 2, образцовую меру 3, микроскоп 4, осветительный блок 5, плоское зеркало 6, рабочую меру 7, микроскоп 8, предметный столик 9 с приводом 10, электрически соединенные схему 11 обработки, входы КОТОРОЙ связаны с выходами микроскопов 4 и 8, регистратор 12 и блок 13 управления, выходы которого связаны соответственно с входами схемы 11 обработки и регистратора 12, два обтюратора 14 и 15, две заслонки 16 и 17 с приводами 18 и 19, электрически.связанными с приводом 10 и блоком 13 управления. Устройство работает следующим образом. Поверка штриховых мер длины осуществляется методом продольного компарирования. При этом поверяемая Т и образцовая 3 меры размещаются на предметном столике 9пЪ одной оси , вдоль линии измерения. Положение .предметного столика 9 с размещенными на нем мерами 3 и 7 при открытых з-аслонках 16 и 17 юстируется с положением оптических осей микроскопов 4 и 8, затем заслонки 16 и 17закрывают. Привод 10 предметного столика работает по программе,соглас но крторой при остановках столика 9 заслонки 16 и 17 открываются, а при его движении - закрываются Во время остановок столика 9, когда заслонки 16 и 17 открыты, световой поток от осветителей 1 и 2 через непрерывно вращающиеся.обтюраторы 14 и 15 падаю на зеркала 2 и 6 каждого микроскопа 4 и 8, отражается от них и освещает штрихи поверяемой и образцовой мер и 3. Сигналы с выходов микроскопов 4 и 8 поступают в схему 11 обработ ки . После завершения измерения разности длин с выхода схемы. 11 обработ ки подается сигнал в блок 13 управления. С выхода блока 13 управления подается команда к приводггм lOj 18и 19. С перемещением предметного столика 9 заслонки 16 и 18 закрывают доступ прерывистого светового потока к мерам 3 и 7. После перемещения сто лика 9 на шаг меры от выходов блока 43 управления одновременно подаются команды на приводы 10, 18 и 19, а та же к регистратору 12; При этом,столик 9 останавливается, заслонки 17 и 16 открывают доступ светового потока, а регистратор 12 готовится к регистрации очередной разности длин между соответствующими штрихами мер 3 И 7. В такой последовательности происходит поверка каждого подразделения (штриха) поверяемой штриховой меры длины. Таким образом, дополнение осветительных блоков, обтюратором и заслонкой повышает точность поверки штриховых мер длины путем сокращения времени .теплового воздействия осветителей на тепловое состояние штриховых мер. Формула изобретения Устройство для поверки штриховых мер, содержащее оптически связанные осветительный блок, плоское зеркало, образцовую меру и микроскоп, образующие эталонную ветвь, оптически связанные осветительный блок, плоское зеркало, поверяемую меру и микроскоп, образующие рабочую ветвь, предметный столик с приводом, предназначенный для установки образцовой и рабочей мер и установленный с возможностью перемещения вплоскости, перпендикулярной к оптическим осям обеих ветвей и/электрически соединенную схему обработки, входь которой связаны с выходами обоих микроскйпов, регистратор и блок управления, выходы которого связаны соответственно с входами схемы обработки и регистратрра, отличающееся тем, : что, с целью повышения -точности поверки, оно снабжено двумя узлами из обтюратора и заслонки с приводом,последовательно установленными соответственно в рабочей и эталонной ветвях между осветительным блоком и плоским зеркалом,а приводы заслонок электрически связаны с приводом предметного столика и бло-; ком управления. , Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Берндт- Г. Основы и приборы технических линейных измерений. М.-Л., Машиностроение, 5, с. 92-95. 2.Федотов А.И. Автоматизация делительных работ. Л., Машиностроение, 1969j с. 233-238 (прототип).