Способ определения чистоты поверхности методом сравнения исследуемой поверхности с образцом Советский патент 1954 года по МПК G01B11/30 G01B9/04 

Существующие приборы, служащие для опраделения чистоты поверхности методом визуального срав1нени1Я с образцами, чистота поверхности которых аттестована, основаны на применении оптических систем, с помощью которых наблюдатель может рассматривать однаврем1енно. путем наблюдения в 0|ДИ1Н окуляр, увеличенные изображения сравниваемых поверхностей. Но с помощью таких приборов невоэможно осуществить сравнение весьма чистых поверхностей, поскольку глаз наблюдателя, даже с помощью такого прибора, не отличит поверхность более низкого от по;Верхност1Н более высокого класса.

Сущность изобретения состоит в там, что предлагается сопоставлять не сами поверхности, а изображения интерференционных картин сравниваемых поверхностей.

На фиг. 1 дана схама прибора |для осуществления пр1едлагаемого способа определения чистоты поверхности; на фиг. 2-поле зрения окуляра.

Две одинаковые адикроинтерференционные системы Линника образуют на поБерхностях образца а и контролируемой детали б интерференционные картины, изображения которых 1сводятся через систему призм в поше зрения окуляра.

Сопоставляемые детали-а-образец чистоты и б-подлежащая контролю деталь-устанавливаются в приборе, состоящем из источников света в, эталонных зеркал г, кубиков с полусеребряной гранью д, объективов е, ромбоидальных призм ж, окулярвой приамы з и окуляра и.

Предмет изобретения

1. Способ определения ч истоты поверхности методом сравнения исследуамой поверхности с образцом, отличающийся тем, что, с целью

сравиения поверхностей более iBbicoKHX классов, адноврвменно сопоставляют изображения интерференционных картин сравниваемых поверхноотей.

2. Дш1я осуществления способа по п. 1 применение двух микроинтерференционных систем Л ИН1ника и оптической системы, сводящей изображения в один окуляр.

Фиг. 12