Способ обнаружения короткозамкнутых витков в индуктивных элементах Советский патент 1983 года по МПК G01R31/06 

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для обнаружения короткозамкнутых витков в индуктивных элементах.

Известен способ обнаружения короткозамкнутых витков в индуктивных элементах путем подачи на катушку импульсов напряжения (тока ),измерения значения потребляемого из сети тока в начальный момент чарез 0,05 с от момента включения и установившегося тока - через 1-5 с и определения наличия короткозсомкнутых витков по разности токов. Способ основан на использовании эффекта уменьшения потока, создаваемого короткозамкнутым витком, при увеличении его сопротивления от нагревания током короткозамкнутого замыкания

Недостатком способа является недостоверность обнаружения короткозамкнутых витков в индуктивных элементах магнитрпровода и невозможность прогнозирования появления короткозамкнутого витка при эксплуатации . проверяемого элемента из-за критичности режима отсчета начального момента.

Наиболее близким по технической . сущности к предлагаемому является способ обнаружения к&роткозамкнутых витков в индуктивных элементах путем подачи тока в элемент периодического размыкания цепи тока, что эквивалентно подаче последовательности импульсов тока и оценке наличия корот козамкнутых витков на экране элек10тронно-лучевой трубки (ЭЛТ) по амплитуде и длительности затухающих колебаний Г2..

Недостатком известного способа яв15ляется недостаточная достоверность обнаружения короткозамкнутых витков из-за трудности разделения изменений амплитуды и длительности затухающих колебаний или от наличия корот20козамкнутых витков, или от наличия значительной собственной емкости эле мента. Кроме того,способ позволяет зафиксировать голькоявно выраженные,гальванически замкнутые короткозамкну

25 тые витки без выявления ослабленной межвитковой изоляции.

Цель изобретения - повышение достоверности обнаружения и прогнозирования возможности появления коротко30замкнутых витков. Поставленная цель достигается тем, что согласно способу обнаруже ния короткоэамкнутых витков в индуктивных элементах путем подачи переменного тока в индуктивный элемент и индикации наличия короткозамкнутых витков на экране ЭЛТ, индуктивный элемент ориентируют на горловине или вблизи ЭЛТ таким образом, чтобы магнитный доток его был перпендикулярен лучу трубки, а в моменты перехода током в элементе нулевого уровн на модулирующий электрод ( катод7 ЭЛТ подают импульсял подсвета, создающие на экране яркостные метки, по расстоянию между которыми определяют наличие или возможность появления ко ооткозамкиутых витков. На фиг. 1 приведена блок-схема устройства, реализующего предлагаемы способ, на фиг. 2 - диаграммы магнитных потоков, токов и напряжений, поясняющие сущность способа. Устройство содержит электроннолучевую трубку (ЭЛТ) 1, ис: ьатываемый индуктивный элемент 2, источник 3 испытательного сигнала, измерительны резистор 4, блок 5 сравнения, формирователь б маркерных импульсов. Испытывае1 ый индуктивный элемент 2 ориентируют на горловине или вблизи ЭЛТ 1 таким образом, чтобы основной магнитный поток элемента был перпендикулярен лучу ЭЛТ. От источника 3 испытательного сигнала в цепи индуктивного элемента 2 и соответ ственно через измерительный, резистор 4 протекает ток, например, трапецеидальной формы (фиг. 2, эпюра /. В моменты прохождения током нулевого уровня на выходе блока 5 сравнеНИН имеет место перепад напряжения (фиг. 2, эпюра М), при этом формирователь 6 маркерных импульсов вырабатывает короткие импульсы (фиг. 2, эпюра III), поступающие на модулирующий вход ЭЛТ 1. Таким образом, на экране ЭЛТ высвечиваются яркостные метки, соответствующие нулевому значению тока в индуктивном элементе 2, причем одна - во время положитель ного перепада тока в индуктивном эле менте -2 (фиг. 2, момент времени t ) а вторая - во время отрицательного перепада тока (фиг. 2/ момент времени t). При отсутствии в индуктивном элементе 2 короткозамкнутых витков магнитный поток элемента/ воздействующий на положение луча ЭЛТ, совпадает по фазе с током в индуктивном элементе (фиг.-2, эпюра IV). В этом случае (фиг. 2, эпюра IV) маркерные импульсы поступают на вхол ЭЛТ в моменты, когда магнитный поток отсутствует и, таким образом, яркостные метки на экране ЭЛТ в моменты времени t и t. полностью совпадают (сливаются в одну).При наличии в индуктивном элементе короткозамкнутых витков величина магнитного потока элемента уже не совпадает по форме и фазе с током (фиг. 2, эпюра V). При этом в моменты подачи импульсов подсвета (моменты времени t и t) магнитный поток индуктивного элемента 2 не равен нулю (фиг. 2, эпюра V, точки А и Б) и имеет место отклонение луча ЭЛТ. В моменты времени t и t (фиг. 2, эпюра V) кривая магнитного потока имеет значения А и Б противоположного направления. В результате этого на экране ЭЛТ наблюдаются две яркостные метки, местоположение одной из которых определяется величиной и направлением магнитного потока в точке А, а второй - соответствующей величиной и направлением потока в точке Б. Раздвоение яркостных меток определяется визугшьно оператором или автоматически, с использованием, например, фотоматриц. Путем выбора достаточно большой скорости изменения тока в индук-. тивном элементе можно достичь значительного расстояния между яркостными метками, тем самым повысить степень достоверности обнаружения и .прогнозирования возможности появления короткозамкнутых витков, например из-за ослабления межвитковой изоляции . Предлагаемый способ позволяет повысить достоверность контроля за счет индикации наличия и прогнозирования появления короткозамкнутых витков в момент воздействия на проверяемый индуктивный элемент высокого испытательного напряжения вне зависимости от наличия или отсутствия магнитопровода в элементе и величины собственной емкости. Способ эффективен при проверке наличия короткозамкнутых витков в индуктивных элементах, предназначенных для работы в условиях высоких импульсных или пер еменных напряжений, таких как о.тклоняющие системы телевизионных приемников. Предлагаемый спосвб позволяет повысить качество выпускаемых индуктивных элементов и, благодаря прогнозированию появления короткозамкнутых витков, увеличить их эксплуата ционную надежность. Формула изобретения Способ обнаружения короткозамкнуТЫХ витков в индуктивных элементах путем подачи в элемент переменного тока и индикации наличия короткозамкнутых витков на экране электронно-лучевой трубки, отличающ и и с я тем, что, с целью повышения достоверности обнаружения и прогнозирования возможности появления короткоэамкнутых витков, индуктивный элемент ориентирует на горловине или вблизи электронно-лучевой трубки так чтобы магнитный поток элемента был перпендикулярен лучу трубки, а в моменты перехода током в элементе нулевого уровня на модулирук)1ци11 электрод (или катод) трубки подают.импульсы подсвета, со

дающие на экране яркостные метки, по расстоянию между которыми определяют наличие или возможность появления короткоэамкнулых витков.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.Авторское свидетельство СССР 280648, кл. G 01 ft 31/06, 1968.

2.Авторское свидетельство СССР 154331, кл. G 01 R 31/06, 1962

(прототип).

фие/

I