Устройство для измерения характеристики преобразования сканистора Советский патент 1983 года по МПК G01J1/16 

Изобретение относится к измеритедьной технике и может быть использовано для измерения характеристик преобразования сканисторов.

Известно устройсхво для контроля полупроводниковых преобразователей ij.

Однако это устройство не позволяет измерять характеристику преобразования координаточувствитёльных фотоэлектрических преобразователей (сканисторов) .

Наиболее близким к данному изоб ретению является устройство для измерения характеристики преобразования сканистора, содержащее источник света, оптическую систему, микрометрический винт, измерительный вольтметр и источник напряжения смещения, подключенный к контактам делительной шины сканистора 2.

В известном устройстве невысока точность измерения характеристики преобразования сканистора, так какустройство не позволяет учесть влияние на нее т.оков эмиттера и коллектора, сканистора. Кроме того, при изме.рении характеристики преобразования .сканистора освещенность на нем создается в полоске и точность снятия измерения непосредственно связана с

шириной этой-полоски, что увеличивает погрешность.

Целью изобретения является повышение точности измерения характеристики преобразования сканистора.

Указанная цель достигается тем, что в устройство, содержащее источник света, оптическую систему, микрометрический винт, измерительный -в.ольт10метр и источник напряжения смещения, подключенный к контактам делительной шины сканистора, дополнительно введены непрозрачная шторка, установленная с возможностью перемещения микромет15рическим винтом, источник опорного напряжения и сопротивление нагрузки, при этом один вывод источника опорного напряжения подсоединен к одному из контактов делительной шины ска20нистора, сопротивление нагрузки подключено между другим выводом источника опорного напряжения и коллектором сканистора, а измерительный вольтметр подсоединен к сопротивлению на25грузки.

На чертеже представлена схема предложенного устройства.

Устройство включает в себя источник света 1 и оптическую систему 2, 30 непрозрачную шторку 3, соединенную с микрометрическим винтом 4, источник напряжения смещения 5, подключенный к контактам делительной шины сканистора 6, источник опорного напряжения 7, сопротивление нагрузки 8 и измерительный вольтметр 9. Устройство работает следующим образом. Сканистор 6 освещается параллельным пучком света, сформированным оптической системой 2, расположенной между источником света непрозрачной шторкой 3. В исходном сос тоянии непрозрачная шторка 3 перекры вает сканистор, и параллельный пучок света не попадает на фоточувствитель ную поверхность сканистора. Напряжение от источника напряжения смещения 5 распределяется вдоль делительной шины сканистора б в соответствии с неоднородностью ее сопротивления, Опорное напряжение от источника опор ного напряжения 7, поступающее на кол лектор сканистора 6 через сопротивле ние нагрузки 8, смещает линию нулево го потенциала в один из краев сканис тора б. Таким образом, ко всей струк туре сканистора 6 прикладывается запирающее напряжение, которое создает ся источниками 5 и 7. До тех пор, пока непрозрачная шторка 3 полностью перекрывает параллельный пучок света через сопротивление нагрузки 8 проте кает темновой ток сканистора б, создавая на нем падение напряжения.Это напряжение регистрируется измерительным вольтметром 9. Вращением микрометрического винта 4 непрозрачная шторка 3 передвигается, и параллельный световой пучок света освещает часть сканистора б, в результате чего появляется фототок, зависящий от величины освещенности и от распределения потенциала вдоль делительной шины сканистора б. Этот фототок совместно с темновыми токами эмиттерного и коллекторного переходов создает на сопротивлении нагрузки 8 падение напряжения, регистрируемое измерительным вольтметром 9. Последовательно перемещая непрозрачную шторку 3 вдоль сканистора б, снимают характеристику преобразования сканистора. Введение перемещаемой непрозрачной шторки, имеющей возможность перемещения микрометрическим винтом, источника опорного напряжения и сопротивления нагрузки позволяет учесть влияние токов ЭАШТтера и ко 1лектора сканистора на характеристику преобразования и, следовательно, повысить точность измерения характеристики преобразования., сканистора. Формула изобретения Устройство для измерения характеристики преобразования сканистора, содержащее источник света, оптическую систему, микрометрический винт, измерительньй вольтметр и источник напряжения смещения, подключенный к контактам делительной шины сканистора, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения характеристики преобразования сканиотора, в него дополнитель- но введены непрозрачная шторка, установленная с возможностью перемещения микрометрическим винтом, источник опорного напряжения и сопротивление нагрузки, при этом один вывод источника опорного напряжения подсоединен к Одному из контактов делительной шины сканистора, сопротивление нагрузки подключено между другим выводом источника опорного напряжения и коллектором сканистора, а измерительный вольтметр подсоединен к сопротивлению нагрузки. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР № 529433, кл. G 01 R 31/26, 1972. 2, Лященко Л.С. и др. Характеристики и параметры отклонения твердотельных развертываквдих устройств сканчсторов. -В кн.: Полупроводниковые приборы и их применение. Под ред. .Федорова. Вып. 28. .М., Советское радио, 1974, с. 219 (прототип.).