СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СВОЙСТВ ЦВЕТА ПОВЕРХНОСТИ Российский патент 2004 года по МПК G01J3/46 

Текст описания в факсимильном виде (см. графическую часть)в

Изобретение относится к колориметрии. В способе измеряемую поверхность освещают заданными и спектрально различимыми видами излучения света, причем дневной свет считают эталонным видом излучения. При этом компоненты матрицы цвета вычисляют, используя измеренные спектральные плотности светового потока, рассеянного от измеряемой поверхности, с их нормировкой к спектральной плотности светового потока от эталонного вида излучения света, а также к нормируемой величине измеренной освещенности поверхности от эталонного вида излучения света и к нормируемому измеряемому телесному углу для светового потока, рассеянного измеряемой поверхностью. Техническим результатом изобретения является его многообразное применение. 1 ил.

Способ измерения свойств цвета поверхности, при котором измеряемую поверхность освещают заданными и спектрально различимыми видами излучения света, измеряют спектральные плотности светового потока, рассеянного измеряемой поверхностью, вычисляют компоненты матрицы цвета, по которым судят о свойствах цвета измеряемой поверхности и при вычислении которых используют спектральную плотность светового потока от эталонного источника, отличающийся тем, что, с целью идентификации свойств цвета измеряемой поверхности по характеристикам природной цветопередачи, дополнительно измеряют величину освещенности Е измеряемой поверхности дневным светом или светом, близким по своему спектральному составу к дневному, который считают эталонным видом излучения света, компоненты матрицы цвета N_n(λ) вычисляют из ниже приведенной системы уравнений, используя измеренные спектральные плотности светового потока N_n,изм(λ), рассеянного от измеряемой поверхности, с их нормировкой к спектральной плотности светового потока от эталонного вида излучения света N₀(λ), а также к нормируемой величине измеренной освещенности измеряемой поверхности от эталонного вида излучения света и к нормируемому измеренному телесному углу видимости поверхности:

N_n(λ)=N_n,изм(λ)·К₁(λ)·К₂·К₃,

где n - виды излучения света, падающие на измеряемую поверхность (n=l,2,...N);

λ - длина волны света;

λ₀ - нормируемая длина волны света;

N_n,изм(λ) - измеренная спектральная плотность светового потока, рассеянного от измеряемой поверхности, для n-видов излучения света;

K₁(λ)=N₀(λ₀)/N₀(λ) - относительный коэффициент нормирования для измеряемой спектральной плотности эталонного светового потока;

N₀(λ) и N₀(λ₀) - спектральная плотность светового потока эталонного излучения света, освещающего измеряемую поверхность, и ее значение при нормируемой длине волны света λ₀;

К₂=(E₀/E) - коэффициент нормирования для освещенности измеряемой поверхности эталонным видом излучения света;

Е - величина освещенности и нормируемая величина освещенности Е₀;

К₃=(Ω₀/Ω) - коэффициент нормирования телесного угла видимости измеряемой поверхности, где Ω - телесный угол видимости самой поверхности при измерении рассеянного от нее светового потока и Ω₀ - нормируемый телесный угол.