Изобретение относится к области опто- и наноэлектроники и может быть использовано в качестве источников излучения в оптоэлектронике, оптике и в других областях промышленности.
Известны конструкции инжекционных светоизлучающих устройств, изготовленных на основе прямозонных соединений элементов третьей и пятой групп периодической системы элементов А3В5. Конструкция излучающего устройства состоит из подложки n-типа, на которой эпитаксиально выращивается планарная область p-типа. К p- и n-областям подводятся омические контакты. Поверхность, через которую выводится излучение, может иметь плоскую, полусферическую, параболическую форму (Берг А., Дин П. Светодиоды. - М.: Мир, 1979).
Принцип действия указанных устройств основан на излучательной рекомбинации избыточных неосновных носителей заряда в области p-n перехода и в прилегающих к ней p- и n-областях (Гаман В.И. Физика полупроводниковых приборов. Томск: Изд-во НТЛ, 2000). При приложении положительного потенциала к p-области и отрицательного к n-области электроны и дырки начинают дрейфовое движение навстречу друг другу. Электроны, проникая в p-область, рекомбинируют с дырками, а дырки, проникая в n-область, рекомбинируют с электронами (активная область). В результате их рекомбинации выделяется энергия, примерно равная ширине запрещенной зоны Eg, в виде электромагнитного излучения частоты ν
Более точное значение энергии кванта света определяется выражением
где fp и fn - квазиуровни Ферми в p- и n-областях соответственно.
Недостатками этих устройств является высокая стоимость используемых материалов и невозможность создания на их основе излучателей в монолитных оптоэлектронных схемах.
Известна конструкция планарного светоизлучающего устройства (Фотоника/под ред. М.Балкански, П.Лалемана. - М.: Мир, 1987), выбранная в качестве прототипа, состоящая из двух слоев полупроводника фосфида галлия (GaP) p- и n-типа, образующих p-n переход. На верхнем слое p-типа, через который выводится излучение, изготовлен омический контакт, на нижнем слое n-типа изготовлен второй контакт. Формирование p-области проводится ионной имплантацией n-области.
Недостатками известной конструкции являются:
- высокая стоимость светоизлучающего устройства на основе соединений А3В5;
- невозможность создания интегральных монолитных оптоэлектронных схем, включающих излучатели на соединениях галлия и схемы обработки сигналов на кремнии, приводит к необходимости создания гибридной сборки, что уменьшает надежность оптоэлектронных устройств и сужает область их применения.
Задачей изобретения является создание инжекционного светоизлучающего устройства менее дорогостоящего, более надежного и с более широкой областью применения.
Поставленная задача достигается тем, что инжекционное светоизлучающее устройство, имеющее слои, образующие p-n переходы, состоит из последовательности гетероэпитаксиальных слоев диэлектрика и нанокристаллического кремния, выращенных на кремниевой подложке, каждый слой кремния состоит из p- и n-типа областей с резкими границами раздела, на противоположных краях устройства расположены омические контакты.
Сущность изобретения поясняется чертежами, где на фиг.1 представлена конструкция инжекционного светоизлучающего устройства на кремнии, а на фиг.2 приведена схема уровней энергии носителей заряда в квантовой яме.
Устройство (фиг.1) содержит кремниевую подложку 1, на которой сформированы диэлектрические слои 2, между которыми расположены наноразмерные нанокристаллические слои кремния p-типа 3 и n-типа 4. На краях гетероэпитаксиальных слоев находятся омические контакты 5, сформированные путем нанесения слоев металлизации на торцы многослойной системы и поверхности первого слоя фторида кальция с последующей пайкой проводов.
Принцип действия предлагаемого изобретения состоит в излучательной рекомбинация электронно-дырочных пар в области p-n перехода (см. фиг.1) и прилегающих к нему p- и n-областях при включении светоизлучающего устройства в прямом направлении. В отличие от зонной структуры объемного кремния энергетическая диаграмма наноразмерного слоя кремния имеет более сложную структуру, состоящую из набора минизон в зоне проводимости и в валентной зоне, уровни энергии дна (зона проводимости) Еe1, Еe2 и потолка (валентная зона) Еh1, Еh2, Еh3 подзон размерного квантования показаны на фиг.2.
Энергия электронного межзонного перехода Een→Ehm (фиг.2) равна
где в рамках модели потенциальной ямы с бесконечно-высокими вертикальными стенками
Здесь mn, mp - эффективные массы электрона и дырки соответственно, n, m - номера уровней размерного квантования подзон в зоне проводимости и валентной зоне соответственно. Ширина запрещенной зоны кремния Eg=1.12 эВ при T=300 К, величина ΔЕn,m может иметь значения, сравнимые с Eg, a соответствующее рекомбинационное излучение будет в ближнем инфракрасном и видимом диапазонах. С помощью омических контактов создается продольное электрическое поле, которое вызывает перенос носителей заряда в плоскости квантовой ямы в активную область p-n перехода. Квантовое ограничение носителей заряда в нанокристаллическом кремнии приводит к увеличению вероятности излучательной рекомбинации электронно-дырочных пар (Ioannou-Sougleridis V., Nassiopoulou A.G. Quisse T. Electroluminescence from silicon nanocrystals in Si/CaF2 superlattices//Applied Physics Letters. 2001. V.79. N.13. - P.2076-2078). Диэлектрические слои служат каналами вывода излучения из устройства.
Заявляемая конструкция может быть получена различными методами, например:
- процессом последовательно наращиваемых молекулярно-лучевой эпитаксией слоев фторида кальция и кремния необходимой толщины;
- процессом многократного окисления кремния и нанесения поликристаллического кремния;
- любым другим методом получения слоев кремния и диэлектрических слоев на нем.
Таким образом:
- использование кремния в качестве полупроводникового материала для инжекционного светоизлучающего устройства позволит существенно понизить себестоимость устройства по сравнению с более дорогостоящими материалами на основе соединений галлия;
- возможность на этой основе создать интегральные монолитные оптоэлектронные устройства позволит расширить область применения и увеличить надежность таких схем по сравнению с используемыми гибридными сборками.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
ОПТОЭЛЕКТРОННОЕ УСТРОЙСТВО | 2016 |
|
RU2642132C1 |
Излучающее в инфракрасном диапазоне спектра электролюминесцентное устройство в интегральном исполнении с кремниевой подложкой | 2022 |
|
RU2795611C1 |
ПОЛУПРОВОДНИКОВАЯ ГЕТЕРОЭПИТАКСИАЛЬНАЯ СТРУКТУРА ДЛЯ ФОТОПРИЕМНОЙ ЯЧЕЙКИ | 1991 |
|
RU2034369C1 |
ИМПУЛЬСНЫЙ ИНЖЕКЦИОННЫЙ ЛАЗЕР | 2006 |
|
RU2361343C2 |
ОПТОЭЛЕКТРОННЫЙ МАТЕРИАЛ, УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ИСПОЛЬЗОВАНИЯ И СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОПТОЭЛЕКТРОННОГО МАТЕРИАЛА | 1997 |
|
RU2152106C1 |
ПОЛУПРОВОДНИКОВАЯ ГЕТЕРОЭПИТАКСИАЛЬНАЯ СТРУКТУРА ДЛЯ ФОТОПРИЕМНОЙ ЯЧЕЙКИ | 1993 |
|
RU2065224C1 |
ГЕТЕРОСТРУКТУРА GaPAsN СВЕТОДИОДА И ФОТОПРИЕМНИКА НА ПОДЛОЖКЕ Si И СПОСОБ ЕЕ ИЗГОТОВЛЕНИЯ | 2016 |
|
RU2650606C2 |
ТОНКОПЛЕНОЧНЫЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ИНЖЕКЦИОННЫЙ ЛАЗЕР НА ОСНОВЕ МНОГОПРОХОДНОЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ГЕТЕРОСТРУКТУРЫ (ВАРИАНТЫ) | 2006 |
|
RU2351047C2 |
Мезаструктурный фотодиод на основе гетероэпитаксиальной структуры InGaAs/AlInAs/InP | 2016 |
|
RU2627146C1 |
ЛАЗЕР-ТИРИСТОР | 2013 |
|
RU2557359C2 |
Изобретение относится к области опто- и наноэлектроники и может быть использовано в качестве источников излучения в оптоэлектронике, оптике и в других областях промышленности. Инжекционное светоизлучающее устройство имеет слои, образующие p-n переходы, состоит из последовательности гетероэпитаксиальных слоев диэлектрика и нанокристаллического кремния, выращенных на кремниевой подложке, каждый слой кремния состоит из p- и n-типа областей с резкими границами раздела, на противоположных краях устройства расположены омические контакты. Техническим результатом является создание инжекционного светоизлучающего устройства, менее дорогостоящего, более надежного и с более широкой областью применения. 2 ил.
Инжекционное светоизлучающее устройство, имеющее слои, образующие p-n переходы, отличающееся тем, что состоит из последовательности гетероэпитаксиальных слоев диэлектрика и нанокристаллического кремния, выращенных на кремниевой подложке, каждый слой кремния состоит из p- и n-типа областей с резкими границами раздела, на противоположных краях устройства расположены омические контакты.
Гарман В.И | |||
Физика полупроводниковых приборов | |||
Томск: Изд-во НТЛ, 2000 Берг А., Дин Н., Светодиоды | |||
- М: Мир, 1979 | |||
МАСШТАБИРУЕМОЕ ИНТЕГРИРОВАННОЕ УСТРОЙСТВО ОБРАБОТКИ ДАННЫХ | 1999 |
|
RU2201015C2 |
Светоизлучающий прибор | 1977 |
|
SU773795A1 |
ОПТОЭЛЕКТРОННЫЙ МАТЕРИАЛ, УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ИСПОЛЬЗОВАНИЯ И СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОПТОЭЛЕКТРОННОГО МАТЕРИАЛА | 1997 |
|
RU2152106C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ГЕТЕРОСТРУКТУРЫ | 2003 |
|
RU2244984C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ СВЕТОДИОДНЫХ СТРУКТУР | 1987 |
|
RU1517657C |
US 5793115, 11.08.1998. |
Авторы
Даты
2007-06-10—Публикация
2005-07-07—Подача