СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНФИГУРИРОВАНИЯ НАБОРА ПАРАМЕТРОВ ТЕСТИРОВАНИЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ОПТИЧЕСКОГО ВРЕМЕННОГО РЕФЛЕКТОМЕТРА (OTDR) Российский патент 2017 года по МПК H04B10/71 

Область техники

Настоящее изобретение относится к области связи, а именно, к способу и устройству для конфигурирования набора параметров тестирования, выполняемого с использованием оптического временного рефлектометра (optical time domain reflectometer, OTDR).

Предпосылки создания изобретения

Оптическая распределительная сеть (optical distribution network, ODN) пассивной оптической сети (passive optical network (PON) представляет собой сеть, имеющую структуру типа «точка-много точек», которая значительно более сложна, чем оптическая сеть типа «точка-точка». Это особенно верно в случае применения технологии «оптическое волокно до квартиры» (fibre to the home, FTTH), когда оптоволоконные кабели прокладывают в тысячи квартир и вероятность отказа волокна является значительно более высокой.

Чтобы преодолеть проблему с отказами оптоволокна в оптической сети в случае применения технологии FTTH, операторы периодически применяют оптические временные рефлектометры (OTDR) на OLT (оптическом линейном терминале) и измеряют характеристики сети ODN, благодаря чему возможна локализация отказов оптоволокна.

Устройство OTDR представляет собой специализированный инструмент, который имеет множество параметров тестирования и показателей качества. Для различных оптических каналов и различных целей тестирования, при выполнении тестирования различных сетей ODN PON с помощью OTDR-рефлектометра, необходимо выбирать подходящие параметры тестирования. Например, в случае отказа в оконечном сегменте («ветви») сети и в случае отказа в магистральном сегменте («стволе») необходимо использовать различные параметры тестирования. Однако в случае сети ODN PON с большим количеством оптоволоконных кабелей и большой неоднородностью ручной выбор параметров измерений является очень сложным.

Сущность изобретения

В вариантах осуществления настоящего изобретения предложены способ и устройство для конфигурирования параметров OTDR-тестирования, которые предназначены для по меньшей мере частичного решения проблемы, имеющейся на существующем уровне техники и связанной со сложностью ручного выбора одного или более параметров измерений.

В соответствии с одним из аспектов вариантов осуществления настоящего изобретения предложен способ конфигурирования параметров OTDR-тестирования.

Способ конфигурирования параметров OTDR-тестирования в соответствии с одним из вариантов осуществления настоящего изобретения включает: после OTDR-тестирования, получение, при помощи системы администрирования оптоволоконной сети (fibre management system, FMS), соответствующей информации об оптической распределительной сети (ODN), согласно результатам тестирования, возвращенным OTDR-рефлектометром; и конфигурирование, при помощи системы FMS, набора параметров тестирования, необходимого для одного или более последующих испытаний с использованием OTDR, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения упомянутая соответствующая информация включает по меньшей мере одно из следующего: длину магистрального сегмента, длину оконечного сегмента, потери в магистральном сегменте и потери, вносимые оптическим сплиттером (разветвителем).

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения необходимый набор параметров тестирования включает одно или более из следующего: набор параметров тестирования для локализации отказа в магистральном сегменте, набор параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте, типовой набор параметров тестирования.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения каждый из наборов - набор параметров тестирования для локализации отказа в магистральном сегменте, набор параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте и типовой набор параметров тестирования - включает в себя: минимальную длительность импульса, время тестирования и интервал тестирования.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения конфигурирование, при помощи системы FMS, набора параметров тестирования для локализации отказа в магистральном сегменте в соответствии с упомянутой соответствующей информацией включает: согласно потерям в магистральном сегменте, определение динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи OTDR-рефлектометра; определение и конфигурирование минимальной длительности импульса, при которой OTDR-рефлектометр удовлетворяет этому динамическому диапазону; согласно длине магистрального сегмента, определение и конфигурирование интервала тестирования; и, согласно потерям в магистральном сегменте, определение и конфигурирование времени тестирования.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения конфигурирование, при помощи системы FMS, набора параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте в соответствии с упомянутой соответствующей информацией включает: согласно потерям в магистральном сегменте, длине оконечного сегмента, коэффициенту затухания оптоволокна и потерям, вносимым оптическим сплиттером, определение теоретических расчетных потерь в отказавшем оконечном сегменте; согласно теоретическим расчетным потерям в отказавшем оконечном сегменте, определение динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи OTDR-рефлектометра; определение и конфигурирование минимальной длительности импульса, при которой OTDR-рефлектометр удовлетворяет этому динамическому диапазону; согласно длине магистрального сегмента и оконечного сегмента, определение и конфигурирование интервала тестирования; и согласно теоретическим расчетным потерям в отказавшем оконечном сегменте, определение и конфигурирование времени тестирования.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения конфигурирование, при помощи системы FMS, набора параметров текущего тестирования, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией включает: согласно потерям в магистральном сегменте, длине оконечного сегмента, коэффициенту затухания оптоволокна и потерям, вносимым оптическим сплиттером, определение теоретических расчетных потерь в сети ODN; согласно теоретическим расчетным потерям в сети ODN, определение динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи OTDR-тестирования; определение и конфигурирование минимальной длительности импульса, при которой OTDR-рефлектометр удовлетворяет этому динамическому диапазону; согласно длине магистрального сегмента и оконечного сегмента, определение и конфигурирование интервала тестирования; и согласно теоретическим расчетным потерям в сети ODN, определение и конфигурирование времени тестирования.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения, после конфигурирования, при помощи системы FMS, набора параметров тестирования, необходимых для одного или более последующих испытаний с использованием OTDR, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией, способ также включает: коррекцию, при помощи системы FMS, необходимого набора параметров тестирования в соответствии с одним или более параметрами измерений, поддерживаемыми в настоящий момент OTDR-рефлектометром; и конфигурирование, при помощи системы FMS, скорректированного набора параметров тестирования для одного или более испытаний с использованием OTDR.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения после конфигурирования, при помощи системы FMS, скорректированного набора параметров тестирования, необходимого для одного или более испытаний с использованием OTDR, способ также включает: прием, системой FMS, результата тестирования от OTDR-рефлектометра; инициирование выполнения, системой FMS, повторного получения упомянутой соответствующей информации согласно результатам тестирования и повторного конфигурирования набора параметров тестирования, необходимого для одного или более последующих испытаний с использованием OTDR, в соответствии с этой соответствующей информацией.

В соответствии с одним из аспектов вариантов осуществления настоящего изобретения предложено устройство для конфигурирования параметров OTDR-тестирования.

Устройство для конфигурирования параметров OTDR-тестирования в соответствии с другим вариантом осуществления настоящего изобретения включает: компонент получения, сконфигурированный для получения соответствующей информации о сети ODN согласно результатам тестирования, возвращенным OTDR-рефлектометром после OTDR-теста; и компонент конфигурирования, сконфигурированный для конфигурирования набора параметров тестирования, необходимого для одного или более последующих испытаний с использованием OTDR, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения упомянутая соответствующая информация включает по меньшей мере одно из следующего: длину магистрального сегмента, длину оконечного сегмента, потери в магистральном сегменте и потери, вносимые оптическим сплиттером.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения необходимый набор параметров тестирования включает одно или более из следующего: набор параметров тестирования для локализации отказа в магистральном сегменте, набор параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте, типовой набор параметров тестирования.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения каждый из наборов - набор параметров для локализации отказа в магистральном сегменте, набор параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте и типовой набор параметров тестирования - включает в себя: минимальную длительность импульса, время тестирования и интервал тестирования.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения компонент конфигурирования включает: первый элемент определения, сконфигурированный, в соответствии с потерями в магистральном сегменте, для определения динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи OTDR-рефлектометра; первый элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования минимальной длительности импульса, при которой OTDR-рефлектометр удовлетворяет этому динамическому диапазону; второй элемент конфигурирования, сконфигурированный, согласно длине магистрального сегмента, для определения и конфигурирования интервала тестирования; и третий элемент конфигурирования, сконфигурированный, согласно потерям в магистральном сегменте, для определения и конфигурирования времени тестирования.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения компонент конфигурирования включает: второй элемент определения, сконфигурированный, в соответствии с потерями в магистральном сегменте, длиной оконечного сегмента, коэффициентом затухания оптоволокна и потерям, вносимым оптическим сплиттером, для определения теоретических расчетных потерь в отказавшем оконечном сегменте; третий элемент определения, сконфигурированный, согласно теоретическим расчетным потерям в отказавшем оконечном сегменте, для определения динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи OTDR-рефлектометра; четвертый элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования минимальной длительности импульса, при которой OTDR-рефлектометр удовлетворяет этому динамическому диапазону; пятый элемент конфигурирования, сконфигурированный, согласно длине магистрального сегмента и оконечного сегмента, для определения и конфигурирования интервала тестирования; и шестой элемент конфигурирования, сконфигурированный, согласно теоретическим расчетным потерям в отказавшем оконечном сегменте, для определения и конфигурирования времени тестирования.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения компонент конфигурирования включает: второй элемент определения, сконфигурированный, в соответствии с потерями в магистральном сегменте, длиной оконечного сегмента, коэффициентом затухания оптоволокна и потерям, вносимым оптическим сплиттером, для определения теоретических расчетных потерь в сети ODN; третий элемент определения, сконфигурированный, согласно теоретическим расчетным потерям в сети ODN, для определения динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи OTDR-рефлектометра; четвертый элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования минимальной длительности импульса, при которой OTDR-рефлектометр удовлетворяет этому динамическому диапазону; пятый элемент конфигурирования, сконфигурированный, согласно длине магистрального сегмента и оконечного сегмента, для определения и конфигурирования интервала тестирования; и шестой элемент конфигурирования, сконфигурированный, согласно теоретическим расчетным потерям в сети ODN, для определения и конфигурирования времени тестирования.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения устройство также включает: компонент коррекции, сконфигурированный для коррекции необходимого набора параметров тестирования в соответствии с параметром измерений, поддерживаемым в текущий момент OTDR-рефлектометром; при этом компонент конфигурирования сконфигурирован также для конфигурирования скорректированного набора параметров тестирования для одного или более испытаний с использованием OTDR.

При помощи вариантов осуществления настоящего изобретения, в которых система FMS получает соответствующую информацию о сети ODN согласно результатам тестирования, возвращенным OTDR-рефлектометром после OTDR-тестирования, и система FMS конфигурирует набор параметров тестирования, необходимых для одного или более последующих испытаний с использованием OTDR, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией, может быть решена проблема, имеющаяся на существующем уровне техники и связанная со сложностью ручного выбора измеряемых параметров, благодаря чему набор параметров тестирования, необходимый для запуска одного или более испытаний с использованием OTDR, может быть получен с высокой точностью.

Краткое описание чертежей

Чертежи, приведенные для обеспечения более глубокого понимания настоящего изобретения и составляющие часть настоящего описания, используются для разъяснения настоящего изобретения и вариантов его осуществления, но не для ограничения изобретения. На чертежах:

Фиг. 1 представляет собой блок-схему алгоритма конфигурирования параметра OTDR-тестирования в соответствии с одним из вариантов осуществления настоящего изобретения;

Фиг. 2 представляет собой эскизную блок-схему способа конфигурирования параметра OTDR-тестирования в соответствии с предпочтительным вариантом осуществления настоящего изобретения;

Фиг. 3 представляет собой структурную блок-схему устройства для конфигурирования параметра OTDR-тестирования в соответствии с одним из вариантов осуществления настоящего изобретения; и

Фиг. 4 представляет собой структурную блок-схему устройства для конфигурирования параметра OTDR-тестирования в соответствии с предпочтительным вариантом осуществления настоящего изобретения.

Подробное описание вариантов осуществления изобретения

Ниже настоящее изобретение будет рассмотрено более подробно, на примере приложенных чертежей и в связи с вариантами его осуществления. Следует отметить, что при условии непротиворечивости варианты осуществления настоящего изобретения и их отличительные признаки могут комбинироваться друг с другом.

Фиг. 1 представляет собой блок-схему алгоритма конфигурирования параметров OTDR-тестирования в соответствии с одним из вариантов осуществления настоящего изобретения. В соответствии с иллюстрацией фиг. 1 способ конфигурирования параметров OTDR-тестирования включает в себя следующие шаги:

шаг S101: система администрирования оптоволоконной сети (FMS) получает соответствующую информацию об оптической распределительной сети согласно результатам тестирования, возвращенным OTDR-рефлектометром; и

шаг S103: система FMS конфигурирует набор параметров тестирования, необходимых для одного или более последующих испытаний с использованием OTDR, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией.

На существующем уровне техники, в случае сети PON с большим количеством оптоволоконных кабелей и большой неоднородностью, ручной выбор параметров измерений для запуска одного или более испытаний с использованием OTDR является очень сложным. При помощи способа, проиллюстрированного на фиг. 1, в котором система FMS получает соответствующую информацию о сети ODN согласно результатам тестирования, возращенным OTDR-рефлектометром, и система FMS конфигурирует набор параметров тестирования, необходимый для одного или более последующих испытаний с использованием OTDR, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией, набор параметров тестирования, необходимый для запуска одного или более испытаний с использованием OTDR, может быть задан с высокой точностью.

Упомянутая соответствующая информация может включать, без ограничения перечисленным, по меньшей мере одно из следующего: длину магистрального сегмента, длину оконечного сегмента, потери в магистральном сегменте и потери, вносимые оптическим сплиттером.

Необходимый набор параметров тестирования может включать одно или более из следующего: набор параметров тестирования для локализации отказа в магистральном сегменте, набор параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте, типовой набор параметров тестирования.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения перед шагом S101 способ может также включать следующие операции:

(1) система FMS передает запрос на тестирование в OTDR-рефлектометр; и

(2) после OTDR-тестирования, система FMS принимает результаты тестирования от OTDR-рефлектометра.

Упомянутый выше пример реализации описан далее на конфетных примерах. Когда в результате жалобы от пользователей или сигнала от устройства-анализатора выполняется определение, системой BOSS, того, что с некоторой вероятностью один или более оптоволоконных кабелей являются источником проблем, система BOSS инициирует выполнение, системой FMS, OTDR-тестирования одного или более оптоволоконных кабелей. Если система FMS имеет интерфейс с системой администрирования элемента PON (element management system, EMS), то из системы EMS PON может быть получена информация об оптическом линейном терминале (optical line terminal, OLT) и об абонентском узле оптической сети (optical network element, ONU), а также предварительный анализ, произошел ли отказ в магистральном сегменте или в оконечном сегменте. Если анализ показывает, что отказ произошел в магистральном сегменте, то требуемым набором параметров тестирования будет набор параметров тестирования для локализации отказа в магистральном сегменте; если анализ показывает, что отказ произошел в оконечном сегменте, то требуемым набором параметров тестирования будет набор параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте; а если невозможно проанализировать, произошел ли отказ в магистральном или оконечном сегменте, то требуемым набором параметров тестирования будет типовой набор параметров тестирования. Таким образом, требуемый набор параметров тестирования представляет собой одно из следующего: набор параметров тестирования для локализации отказа в магистральном сегменте, набор параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте, типовой набор параметров тестирования. В одном из примеров процедуры реализации настоящего изобретения результат тестирования на шаге S101 может включать, без ограничения перечисленным: практически исполненные параметры измерений; кривую отслеживания OTDR; и таблицу событий.

При этом практически исполненные параметры измерений включают, без ограничения перечисленным, номер порта, длительность импульса, длину волны, длительность, диапазон тестирования, групповой показатель преломления оптического волокна (optical fibre group refractive index, IOR).

При этом кривая отслеживания OTDR представляет собой набор точек, включающих абсциссу и ординату, соответствующие каждой точке.

При этом событие включает в себя событие отражения и событие неотражения.

(1) Свойства события отражения включают, без ограничения перечисленным: начальное положение, вносимые потери, и пиковое значение отражения.

(2) Свойства события неотражения включают, без ограничения перечисленным: начальное положение и вносимые потери.

Система FMS анализирует результаты измерений, и при этом информация о сети ODN может быть приблизительно проанализирована в соответствии с результатами тестирования, с целью получения длины магистрального сегмента, положения оптического сплиттера, показателя разветвления и длины ветви.

Например, событие отражения, соответствующее оптическому сплиттеру, имеет следующие характеристики:

характеристика (1): вносимые потери превышают 3 дБ; и

характеристика (2): пиковое значение отражения для события отражения выше, чем пиковое значение отражения для фланца.

Положение оптического сплиттера может быть определено при помощи характеристик (1) и (2), а длина магистрального сегмента может быть получена согласно положению оптического сплиттера. За более подробной информацией следует обратиться к описанию соответствующих методов, известных на существующем уровне техники, которое в настоящем документе не приводится.

В одном из примеров процедуры реализации настоящего изобретения длина оконечного сегмента может быть получена одним из следующих методов:

метод (1): длина оконечного сегмента может быть определена с использованием отражения от оконечного узла ONU;

метод (2): если присутствует система PON EMS, то система FMS может также получать расстояние до каждого из узлов ONU от системы PON EMS, благодаря чему может быть вычислена длина каждого из оконечных сегментов.

В одном из примеров процедуры реализации настоящего изобретения потери, вносимые оптическим сплиттером, могут быть получены одним из следующих методов:

метод (1): для оптического сплиттера с малым показателем разветвления OTDR-рефлектометр может точно измерять потери, вносимые оптическим сплиттером;

метод (2): для оптического сплиттера с большим показателем разветвления, OTDR-рефлектометр может быть не способен точно измерять вносимые потери, и может лишь измерять, что вносимые потери являются большими, чем заранее заданное значение. В данном случае для вспомогательных вычислений может применяться метод (3), описанный ниже.

Метод (3): если система FMS имеет интерфейс с системой EMS, то потери в сети ODN могут быть оценены при помощи измерения разности между мощностью излучения устройства OLT и принятой силы света в конкретном узле ONU.

Более подробная информация может быть получена из формулы, приведенной ниже:

потери, вносимые оптическим сплиттером ≈ потерям в сети ODN -потери в оптоволоконном кабеле от терминала OLT до узла ONU - константа

Необходимо отметить следующее:

(1) константа представляет собой потери в других устройствах на пути распространения оптического сигнала, и сконфигурирована как постоянное значение согласно обычному состоянию сети ODN, например, 2 дБ;

(2) потери в оптоволокне = длина оптоволокна × коэффициент затухания оптоволокна (например, 0,3 дБ/км).

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения каждый из наборов - набор параметров для локализации отказа в магистральном сегменте, набор параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте и типовой набор параметров тестирования - может включать в себя: минимальную длительность импульса, время тестирования и интервал тестирования.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения конфигурирование, системой FMS, набора параметров тестирования для локализации отказа в магистральном сегменте включает в себя следующие шаги:

(1) согласно потерям в магистральном сегменте определяют динамический диапазон, который необходимо протестировать при помощи OTDR-рефлектометра;

(2) определяют и конфигурируют минимальную длительность импульса, при которой OTDR-рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;

(3) согласно длине магистрального сегмента определяют и конфигурируют интервал тестирования; и

(4) согласно потерям в магистральном сегменте определяют и конфигурируют время тестирования.

В одном из примеров процедуры реализации настоящего изобретения минимальная длительность импульса, время тестирования и интервал тестирования в наборе параметров тестирования для локализации отказа в магистральном сегменте могут быть определены при помощи следующих формул:

динамический диапазон, необходимый для OTDR-тестирования, равен потерям в магистральном сегменте;

получают минимальную длительность p импульса устройства OTDR, удовлетворяющую динамическому диапазону;

интервал тестирования=длина магистрального сегмента × 1,Х … (где Х - запас, а 1,Х, как правило, равно 1,1);

время тестирования (измеряемое в секундах) = (потери в магистральном сегменте × константу), преобразованное к целому значению.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения конфигурирование, системой FMS, набора параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте включает в себя следующие шаги:

(1) определяют теоретические расчетные потери в отказавшем оконечном сегменте согласно потерям в магистральном сегменте, длине оконечного сегмента, коэффициенту затухания оптоволокна и потерям, вносимым оптическим сплиттером;

(2) согласно теоретическим расчетным потерям в отказавшем оконечном сегменте определяют динамический диапазон, который необходимо протестировать при помощи OTDR-рефлектометра;

(3) определяют и конфигурируют минимальную длительность импульса, при которой OTDR-рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;

(4) согласно длине магистрального сегмента и длине оконечного сегмента определяют и конфигурируют интервал тестирования; и

(5) согласно теоретическим расчетным потерям в оконечном сегменте определяют и конфигурируют время тестирования.

В одном из примеров процедуры реализации настоящего изобретения минимальная длительность импульса, время тестирования и интервал тестирования в наборе параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте могут быть определены при помощи следующих формул:

теоретические расчетные потери в отказавшем оконечном сегменте = потери в магистральном сегменте + длина оконечного сегмента × коэффициент затухания оптоволокна + потери, вносимые оптическим сплиттером

Динамический диапазон, необходимый для OTDR-тестирования = теоретические расчетные потери в отказавшем оконечном сегменте × поправочный коэффициент

Получают минимальную длительность p импульса устройства OTDR, удовлетворяющую динамическому диапазону;

Интервал тестирования = (длина магистрального сегмента + длина оконечного сегмента) × 1,Х (где X - запас, и 1,Х, как правило, равно 1,1)

Время тестирования (измеряемое в секундах)=(теоретические расчетные потери в отказавшем оконечном сегменте χ константу), преобразованное к целому значению

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения конфигурирование, системой FMS, набора параметров текущего тестирования включает в себя следующие шаги:

(1) определяют теоретические расчетные потери в сети ODN согласно потерям в магистральном сегменте, длине оконечного сегмента, коэффициенту затухания оптоволокна и потерям, вносимым оптическим сплиттером;

(2) согласно теоретическим расчетным потерям в сети ODN определяют динамический диапазон, который необходимо протестировать при помощи OTDR-рефлектометра;

(3) определяют и конфигурируют минимальную длительность импульса, при которой OTDR-рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;

(4) согласно длине магистрального сегмента и длине оконечного сегмента определяют и конфигурируют интервал тестирования; и

(5) согласно теоретическим расчетным потерям в сети ODN определяют и конфигурируют время тестирования.

В одном из примеров процедуры реализации настоящего изобретения минимальная длительность импульса, время тестирования и интервал тестирования в наборе параметров текущего тестирования могут быть определены при помощи следующих формул:

Теоретические расчетные потери в сети ODN = потери в магистральном сегменте + длина оконечного сегмента × коэффициент затухания оптоволокна + потери, вносимые оптическим сплиттером

Динамический диапазон, необходимый для OTDR-тестирования = теоретические расчетные потери в сети ODN × поправочный коэффициент

Получают минимальную длительность p импульса устройства OTDR, удовлетворяющую динамическому диапазону;

Интервал тестирования = максимальная длина сети ODN × 1,Х (где X - запас, и 1,Х, как правило, равно 1,1)

Время тестирования (измеряемое в секундах)=(теоретические расчетные потери в сети ODN × константу), преобразованное к целому значению

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения после конфигурирования, сетью FMS, набора параметров тестирования, необходимого для одного или более последующих испытаний с использованием OTDR, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией, способ может также включать следующие шаги:

(1) система FMS корректирует необходимый набор параметров тестирования в соответствии с параметром измерений, поддерживаемым в текущий момент OTDR-рефлектометром; и

(2) система FMS конфигурирует скорректированный набор параметров тестирования для одного или более испытаний с использованием OTDR.

В одном из примеров процедуры реализации настоящего изобретения система FMS корректирует вычисленные параметры в наборе параметров измерений до ближайших параметров измерений, которые OTDR-рефлектометр может реально обеспечить, и затем повторно запускает один или более испытаний с использованием OTDR с использованием этих ближайших параметров измерений.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения после конфигурирования, сетью FMS, скорректированного набора параметров тестирования, необходимого для одного или более испытаний с использованием OTDR, способ включает также следующие шаги:

(1) система FMS принимает результаты тестирования от OTDR-рефлектометра; и

(2) инициируют выполнение, системой FMS, шага повторного получения соответствующей информации согласно результатам тестирования, и повторного конфигурирования набора параметров тестирования, необходимых для одного или более последующих испытаний с использованием OTDR, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией.

То есть в одном из примеров процедуры реализации настоящего изобретения, после приема нового результата тестирования от OTDR-рефлектометра, система FMS выполняет повторный анализ нового результата тестирования и получает новую соответствующую информацию согласно этому новому результату тестирования, и задает новый набор параметров тестирования, необходимый для одного или более последующих испытаний с использованием OTDR, согласно этой новой соответствующей информации. Система FMS может также корректировать необходимый набор параметров тестирования в соответствии с параметром измерений, поддерживаемым в текущий момент OTDR-рефлектометром, и после этого конфигурировать скорректированный набор параметров тестирования с целью повторного запуска одного или более испытаний с использованием OTDR, при этом OTDR-рефлектометр возвращает обновленный результат тестирования. Следует отметить, что описанная выше процедура может выполняться множество раз, итеративно, и в результате многократного выполнения испытаний с использованием OTDR точность OTDR-тестирования может быть значительно повышена.

Упомянутый выше пример реализации описан более подробно в связи с фиг. 2.

Фиг. 2 представляет собой эскизную блок-схему способа получения параметра OTDR-тестирования в соответствии с предпочтительным вариантом осуществления настоящего изобретения. В соответствии с иллюстрацией фиг. 2 способ, главным образом, включает в себя следующие шаги:

шаг 201: когда жалоба от пользователей или сигнал от устройства-анализатора вызывает обнаружение, системой BOSS (business operation support system, система поддержки операций и бизнеса), возникновения отказа в одном или более оптоволоконных кабелей, система BOSS инициирует выполнение, системой FMS, OTDR-тестирования одного или более оптоволоконных кабелей.

Например, если система FMS имеет интерфейс с системой администрирования элементов (EMS) сети PON, то из системы EMS PON может быть получена информация об оптическом линейном терминале (OLT) и об абонентском узле оптической сети (ONU), а также предварительный анализ, произошел ли отказ в магистральном сегменте или в оконечном сегменте.

Шаг S203: система FMS инициирует запрос на тестирование в OTDR-рефлектометр, при этом параметры тестирования включают, без ограничения перечисленным: номер порта, длительность импульса, длину волны, длительность, диапазон тестирования, групповой показатель преломления оптического волокна (IOR).

Шаг S205: OTDR-рефлектометр выполняет тестирование.

Шаг S207: OTDR-рефлектометр возвращает результат тестирования.

Например, результат тестирования включают, без ограничения перечисленным: практически исполненные параметры измерений; кривую отслеживания OTDR; и таблицу событий.

Практически исполненные параметры измерений включают, без ограничения перечисленным: номер порта, длительность импульса, длину волны, длительность, диапазон тестирования и IOR.

При этом кривая отслеживания OTDR представляет собой набор точек, включающих абсциссу и ординату, соответствующие каждой точке.

При этом событие включает в себя событие отражения и событие неотражения.

(1) Свойства события отражения включают, без ограничения перечисленным: начальное положение, вносимые потери и пиковое значение отражения.

(2) Свойства события неотражения включают, без ограничения перечисленным: начальное положение и вносимые потери.

Шаг S209: система FMS анализирует результаты измерений, при этом соответствующая информация о сети ODN может быть приблизительно проанализирована в соответствии с результатами тестирования, с целью получения длины магистрального сегмента, положения оптического сплиттера, показателя разветвления и длины оконечного сегмента.

После этого система FMS может автоматически вычислять наилучший набор параметров тестирования согласно цели тестирования, информации о сети ODN и формуле выбора параметров, при этом параметры в наборе параметров тестирования включают, главным образом: минимальную длительность импульса, время тестирования и интервал тестирования.

Если анализ, выполненный системой FMS, показывает, что отказ произошел в магистральном сегменте оптоволоконной линии, то метод вычисления набора параметров тестирования для локализации отказа в магистральном сегменте имеет следующий вид:

a) динамический диапазон, необходимый для OTDR-тестирования = потерям в магистральном сегменте;

b) получают минимальную длительность p импульса устройства OTDR;

c) интервал тестирования = длина магистрального сегмента × 1,Х … (где X - запас)

d) время тестирования (измеряемое в секундах) = (потери в магистральном сегменте × константу), преобразованное к целому значению

Если анализ, выполняемой системой FMS, показывает, что отказ произошел в оконечном сегменте оптоволоконной линии, то метод вычисления набора параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте имеет следующий вид:

а) теоретические расчетные потери в отказавшем оконечном сегменте = потери в магистральном сегменте + длина оконечного сегмента × коэффициент затухания оптоволокна + потери, вносимые оптическим сплиттером

b) динамический диапазон, необходимый для OTDR-тестирования = теоретические расчетные потери в отказавшем оконечном сегменте × поправочный коэффициент (например, 1)

Следует отметить, что упомянутый выше поправочный коэффициент может быть меньше единицы. Причиной тому может быть высокое отражение оптического сплиттера, что дает широкую зону нечувствительности события, и для уменьшения зоны нечувствительности специально может быть выбран более узкий динамический диапазон, при этом поправочный коэффициент корректируют в соответствии с характеристиками различных устройств OTDR.

c) Получают минимальную длительность p импульса устройства OTDR, удовлетворяющую динамическому диапазону;

d) интервал тестирования = (длина магистрального сегмента + длина оконечного сегмента) × 1,Х (где X - запас)

e) время тестирования (измеряемое в секундах) = (теоретические расчетные потери в отказавшем оконечном сегменте × константу), преобразованное к целому значению

Если неясно, где произошел отказ, в магистральном сегменте или в оконечном сегменте, то в качестве параметров OTDR-тестирования могут использоваться типовые параметры тестирования. Метод вычисления типового набора параметров тестирования имеет следующий вид:

a) теоретические расчетные потери в сети ODN = потери в магистральном сегменте + длина оконечного сегмента × коэффициента затухания оптоволокна + потери, вносимые оптическим сплиттером

b) динамический диапазон, необходимый для OTDR-тестирования = теоретические расчетные потери в сети ODN × поправочный коэффициент (как правило, 2).

c) получают минимальную длительность p импульса устройства OTDR, удовлетворяющую динамическому диапазону;

d) интервал тестирования = максимальная длина сети ODN × 1,Х (где X - запас)

e) время тестирования (измеряемое в секундах) = (теоретические расчетные потери в сети ODN × константу), преобразованное к целому значению

Когда получают информацию о возможностях (диапазон параметров тестирования, один или более рабочих параметров) устройства OTDR, параметры в наборе параметров тестирования, вычисленные на предыдущем шагу, приводят в соответствие с ближайшими параметрами тестирования, которые устройство OTDR может обеспечить.

Шаг S211: система FMS инициирует новый запрос тестирования к OTDR-рефлектометру.

Шаг S213: OTDR-рефлектометр использует параметры из набора параметров тестирования в качестве параметров OTDR-тестирования, и затем OTDR-рефлектометр снова выполняет новое тестирование.

Шаг S215: OTDR-рефлектометр возвращает новый результат тестирования.

В одном из примеров процедуры реализации настоящего изобретения после выполнения шага S215 может быть выполнен переход к шагу S209, и затем, последовательно, в цикле, могут выполняться шаги S209-S215 до тех пор, пока не будет получен наилучший набор параметров тестирования, наиболее подходящий для OTDR-тестирования сети ODN и обеспечивающий тестирование характеристик линии и локализацию отказа с высокой точностью.

Шаг S217: система FMS анализирует новые результаты тестирования и получает местоположение точки отказа.

В одном из примеров процедуры реализации настоящего изобретения, если для параметров тестирования имеются базовые параметры для исправного состояния, то система FMS может сравнивать текущий результат тестирования с этими базовыми параметрами для исправного состояния, благодаря чему местоположение отказа может быть определено более точно.

Шаг S219: система FMS возвращает полученные результаты в систему BOSS.

Фиг. 3 представляет собой структурную блок-схему устройства для конфигурирования параметра OTDR-тестирования в соответствии с одним из вариантов осуществления настоящего изобретения. В соответствии с иллюстрацией фиг. 3, устройство для конфигурирования параметров OTDR-тестирования включает: компонент 30 получения, который сконфигурирован для получения соответствующей информации об оптической распределительной сети (ODN) согласно результатам тестирования, возвращенным OTDR-рефлектометром после OTDR-тестирования; и компонент 32 конфигурирования, который имеет соединение с компонентом 30 получения и сконфигурирован для конфигурирования набора параметров тестирования, необходимого для одного или более последующих испытаний с использованием OTDR, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией.

В устройстве, показанном на фиг. 3, компонент 30 получения получает соответствующую информацию о сети ODN согласно результатам тестирования, возращенным OTDR-рефлектометром после выполнения OTDR-тестирования; а компонент 32 конфигурирования конфигурирует набор параметров тестирования, необходимый для одного или более последующих OTDR-тестов, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией, благодаря чему набор параметров тестирования, необходимый для запуска одного или более испытаний с использованием OTDR, может быть задан с высокой точностью.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения, в соответствии с иллюстрацией фиг. 4, устройство может также включать: компонент 34 передачи, который сконфигурирован для передачи запроса тестирования в OTDR-рефлектометр; и компонент 36 приема, который имеет соединение с компонентом 34 передачи и компонентом 30 получения, и сконфигурирован для приема результата тестирования, возвращенного OTDR-рефлектометром после выполнения OTDR-тестирования.

Упомянутая соответствующая информация включает, без ограничения перечисленным, по меньшей мере одно из следующего: длину магистрального сегмента, длину оконечного сегмента, потери в магистральном сегменте и потери, вносимые оптическим сплиттером.

Необходимый набор параметров тестирования включает одно или более из следующего: набор параметров тестирования для локализации отказа в магистральном сегменте, набор параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте, типовой набор параметров тестирования.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения каждый из наборов - набор параметров для локализации отказа в магистральном сегменте, набор параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте и типовой набор параметров тестирования - включает: минимальную длительность импульса, время тестирования и интервал тестирования.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения компонент 32 конфигурирования может также включать: первый элемент определения, который сконфигурирован, в соответствии с потерями в магистральном сегменте, для определения динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи OTDR-рефлектометра; первый элемент конфигурирования, который сконфигурирован для определения и конфигурирования минимальной длительности импульса, при которой OTDR-рефлектометр удовлетворяет этому динамическому диапазону; второй элемент конфигурирования, который сконфигурирован, согласно длине магистрального сегмента, для определения и конфигурирования интервала тестирования; и третий элемент конфигурирования, который сконфигурирован, согласно потерям в магистральном сегменте, для определения и конфигурирования времени тестирования.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения компонент 32 конфигурирования может также включать: второй элемент определения, который сконфигурирован, в соответствии с потерями в магистральном сегменте, длиной оконечного сегмента, коэффициентом затухания оптоволокна и потерям, вносимым оптическим сплиттером, для определения теоретических расчетных потер в отказавшем оконечном сегменте; третий элемент определения, который сконфигурирован, согласно теоретическим расчетным потерям в отказавшем оконечном сегменте, для определения динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи OTDR-рефлектометра; четвертый элемент конфигурирования, который сконфигурирован для определения и конфигурирования минимальной длительности импульса, при которой OTDR-рефлектометр удовлетворяет этому динамическому диапазону; пятый элемент конфигурирования, сконфигурированный, согласно длине магистрального сегмента и оконечного сегмента, для определения и конфигурирования интервала тестирования; и шестой элемент конфигурирования, который сконфигурирован, согласно теоретическим расчетным потерям в отказавшем оконечном сегменте, для определения и конфигурирования времени тестирования.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения компонент конфигурирования включает: второй элемент определения, сконфигурированный, в соответствии с потерями в магистральном сегменте, длиной оконечного сегмента, коэффициентом затухания оптоволокна и потерям, вносимым оптическим сплиттером, для определения теоретических расчетных потер в отказавшем оконечном сегменте; третий элемент определения, сконфигурированный, согласно теоретическим расчетным потерям в отказавшем оконечном сегменте, для определения динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи OTDR-рефлектометра; четвертый элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования минимальной длительности импульса, при которой OTDR-рефлектометр удовлетворяет этому динамическому диапазону; пятый элемент конфигурирования, сконфигурированный, согласно длине магистрального сегмента и оконечного сегмента, для определения и конфигурирования интервала тестирования; и шестой элемент конфигурирования, сконфигурированный, согласно теоретически расчетным потерям в отказавшем оконечном сегменте, для определения и конфигурирования времени тестирования.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения, в соответствии с иллюстрацией фиг. 4, устройство может также включать: компонент 38 коррекции, который имеет соединение с компонентом 32 конфигурирования и сконфигурирован для коррекции необходимого набора параметров тестирования в соответствии с параметром измерений, поддерживаемым в текущий момент OTDR-рефлектометром; и компонент 32 конфигурирования, который сконфигурирован также для конфигурирования скорректированного набора параметров тестирования для одного или более испытаний с использованием OTDR.

В одном из примеров процедуры реализации настоящего изобретения после конфигурирования, компонентом 32 конфигурирования, скорректированного набора параметров тестирования для выполнения нового OTDR-тестирования, компонент 36 приема принимает результаты нового тестирования, возвращенные OTDR-рефлектометром, компонент 30 получения повторно анализирует результаты нового тестирования и получает новую соответствующую информацию согласно результатам нового тестирования, а компонент 32 конфигурирует новый набор параметров тестирования, необходимый для одного или более последующих испытаний с использованием OTDR, в соответствии с новой соответствующей информацией. Компонент 38 коррекции может также корректировать необходимый набор параметров тестирования в соответствии с параметром измерений, поддерживаемым в текущий момент OTDR-рефлектометром; после этого компонент 32 конфигурирования задает скорректированный набор параметров тестирования для выполнения нового OTDR-теста и возвращает обновленный результат тестирования. Следует отметить, что описанная выше процедура может выполняться множество раз, итеративно, и после многократного выполнения испытаний с использованием OTDR точность OTDR-тестирования может быть значительно повышена.

В одном из примеров осуществления настоящего изобретения устройство для получения набора параметров OTDR-тестирования может быть обеспечено в системе FMS.

Следует отметить, что за подробной информацией о примерах процедур реализации, с помощью которых могут быть реализованы различные компоненты или элементы устройства для получения набора параметров OTDR-тестирования, можно обратиться к описанию фиг. 1 и фиг. 2, которое не будет приведено в настоящем документе повторно.

Итак, при помощи вариантов осуществления настоящего изобретения, система FMS получает соответствующую информацию о сети ODN согласно результатам тестирования, возращенным OTDR-рефлектометром после выполнения OTDR-тестирования, и система FMS получает набор параметров тестирования, необходимый для повторного запуска одного или более испытаний с использованием OTDR, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией, благодаря чему набор параметров тестирования, необходимый для запуска одного или более испытаний с использованием OTDR, может быть сконфигурирован с высокой точностью. В результате многократного выполнения OTDR-тестирования точность тестирования при помощи OTDR-рефлектометра может быть значительно повышена, благодаря чему может быть получен оптимальный набор параметров OTDR-тестирования.

Очевидно, специалисты в данной области техники должны понимать, что любой из упомянутых модулей или шагов настоящего изобретения может быть реализован при помощи универсальных вычислительных устройств; модули или шаги могут быть сосредоточены в одном вычислительном устройстве или распределены по сети, сформированной из множества вычислительных устройств; частично они могут быть реализованы при помощи программных кодов в запоминающем устройстве и могут исполняться при помощи вычислительного устройства; таким образом; модули или шаги могут храниться в запоминающем устройстве и могут исполняться вычислительным устройством; и в определенных обстоятельства проиллюстрированные или описанные шаги могут исполняться в отличающемся порядке, или могут быть независимо изготовлены в виде отдельных модулей интегральных схем, или же несколько модулей, или шагов, настоящего изобретения, могут быть, с целью реализации изобретения, изготовлены как единый модуль интегральной схемы. Таким образом, настоящее изобретение не ограничено никакой конкретной комбинацией аппаратного и программного обеспечения.

Приведенное выше описание представляет собой всего лишь предпочтительные варианты осуществления настоящего изобретения, которые не должны быть использованы для его ограничения. Специалистам в данной области техники должно быть очевидно, что настоящее изобретение может иметь множество различных изменений и других вариантов осуществления. Все исправления, эквивалентные замены, улучшения и т.п., не отступающие от сущности настоящего изобретения, попадают в объем правовой защиты настоящего изобретения.

Промышленная применимость

Технические решения, предложенные в вариантах осуществления настоящего изобретения, могут применяться в области оптоволоконных сетей и позволяют решить проблему, имеющуюся на существующем уровне техники и связанную со сложностью ручного выбора параметров измерений, благодаря чему набор параметров тестирования для запуска OTDR-теста может быть получен с высокой точностью, что позволяет уменьшить затраты на техническое обслуживание сети оператором.

Изобретение относится к технике связи и может использоваться в системах оптической связи. Технический результат состоит в повышении достоверности приема в системе связи. Для этого предложены способ и устройство для конфигурирования набора параметров тестирования, выполняемого с использованием оптического временного рефлектометра (OTDR). Способ включает получение, системой FMS, соответствующей информации о сети ODN согласно результатам тестирования, возвращенным рефлектометром; и конфигурирование, системой FMS, набора параметров тестирования, необходимого для одного или более последующих испытаний с использованием OTDR, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией. В соответствии с техническими решениями, предложенными в настоящем изобретении, набор параметров тестирования, необходимый для запуска тестирования с использованием OTDR, может быть получен с высокой точностью. 2 н. и 15 з.п. ф-лы, 4 ил.

1. Способ конфигурирования набора параметров тестирования с использованием оптического временного рефлектометра (OTDR), включающий:

получение, системой администрирования оптоволоконной сети (FMS), соответствующей информации об оптической распределительной сети (ODN) согласно результатам тестирования, возвращенным оптическим временным рефлектометром; и

конфигурирование, системой администрирования оптоволоконной сети, набора параметров тестирования, необходимых для одного или более последующих тестов с использованием оптического временного рефлектометра, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией.

2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что упомянутая соответствующая информация включает по меньшей мере одно из следующего:

длину магистрального сегмента, длину оконечного сегмента, потери в магистральном сегменте и потери, вносимые оптическим сплиттером.

3. Способ по п. 2, отличающийся тем, что необходимый набор параметров тестирования включает одно из следующего:

набор параметров тестирования для локализации отказа в магистральном сегменте, набор параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте, типовой набор параметров тестирования.

4. Способ по п. 3, отличающийся тем, что каждый набор из набора параметров для локализации отказа в магистральном сегменте, набора параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте и типового набора параметров тестирования включает минимальную длительность импульса, время тестирования и интервал тестирования.

5. Способ по п. 4, отличающийся тем, что конфигурирование, системой FMS, набора параметров тестирования для локализации отказа в магистральном сегменте, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией включает:

согласно потерям в магистральном сегменте, определение динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи оптического временного рефлектометра;

определение и конфигурирование минимальной длительности импульса, при которой оптический временной рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;

согласно длине магистрального сегмента, определение и конфигурирование интервала тестирования; и

согласно потерям в магистральном сегменте, определение и конфигурирование времени тестирования.

6. Способ по п. 4, отличающийся тем, что конфигурирование, системой FMS, набора параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте в соответствии с упомянутой соответствующей информацией включает:

согласно потерям в магистральном сегменте, длине оконечного сегмента, коэффициенту затухания оптоволокна и потерям, вносимым оптическим сплиттером, определение теоретических расчетных потерь в отказавшем оконечном сегменте;

согласно теоретическим расчетным потерям в отказавшем оконечном сегменте, определение динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи оптического временного рефлектометра;

определение и конфигурирование минимальной длительности импульса, при которой оптический временной рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;

согласно длине магистрального сегмента и длине оконечного сегмента, определение и конфигурирование интервала тестирования; и

согласно теоретическим расчетным потерям в отказавшем оконечном сегменте, определение и конфигурирование времени тестирования.

7. Способ по п. 4, отличающийся тем, что конфигурирование, системой FMS, типового набора параметров тестирования, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией включает:

согласно потерям в магистральном сегменте, длине оконечного сегмента, коэффициенту затухания оптоволокна и потерям, вносимым оптическим сплиттером, определение теоретических расчетных потерь в сети ODN;

согласно теоретическим расчетным потерям в сети ODN, определение динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи оптического временного рефлектометра;

определение и конфигурирование минимальной длительности импульса, при которой оптический временной рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;

согласно длине магистрального сегмента и длине оконечного сегмента, определение и конфигурирование интервала тестирования; и

согласно теоретическим расчетным потерям в сети ODN, определение и конфигурирование времени тестирования.

8. Способ по п. 1, отличающийся тем, что после конфигурирования, системой FMS, набора параметров тестирования, необходимого для одного или более последующих испытаний с использованием OTDR, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией способ также включает:

коррекцию, системой FMS, необходимого набора параметров тестирования в соответствии с одним или более параметрами измерений, поддерживаемыми в текущий момент оптическим временным рефлектометром; и

конфигурирование, системой FMS, скорректированного набора параметров тестирования для одного или более испытаний с использованием OTDR.

9. Способ по любому из пп. 1-8, отличающийся тем, что после конфигурирования, системой FMS, скорректированного набора параметров тестирования для одного или более испытаний с использованием OTDR, способ также включает:

прием, системой FMS, результатов тестирования от оптического временного рефлектометра; и

инициирование выполнения, системой FMS, шага повторного получения соответствующей информации согласно результатам тестирования, и повторного конфигурирования набора параметров тестирования, необходимых для одного или более последующих испытаний с использованием OTDR, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией.

10. Устройство для конфигурирования набора параметров тестирования с использованием оптического временного рефлектометра (OTDR), включающее:

компонент получения, сконфигурированный для получения соответствующей информации об оптической распределительной сети (ODN) согласно результатам тестирования с использованием оптического временного рефлектометра; и

компонент конфигурирования, сконфигурированный для конфигурирования набора параметров тестирования, необходимых для одного или более последующих испытаний с использованием оптического временного рефлектометра, в соответствии с упомянутой соответствующей информацией.

11. Устройство по п. 10, отличающееся тем, что упомянутая соответствующая информация включает по меньшей мере одно из следующего:

длину магистрального сегмента, длину оконечного сегмента, потери в магистральном сегменте и потери, вносимые оптическим сплиттером.

12. Устройство по п. 11, отличающееся тем, что необходимый набор параметров тестирования включает одно из следующего:

набор параметров тестирования для локализации отказа в магистральном сегменте, набор параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте, типовой набор параметров тестирования.

13. Устройство по п. 12, отличающееся тем, что каждый набор из набора параметров для локализации отказа в магистральном сегменте, набора параметров тестирования для локализации отказа в оконечном сегменте и типового набора параметров тестирования включает минимальную длительность импульса, время тестирования и интервал тестирования.

14. Устройство по п. 13, в котором компонент конфигурирования включает:

первый элемент определения, сконфигурированный для определения, согласно потерям в магистральном сегменте, динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи оптического временного рефлектометра;

первый элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования минимальной длительности импульса, при которой оптический временной рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;

второй элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования интервала тестирования согласно длине магистрального сегмента; и

третий элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования времени тестирования согласно потерям в магистральном сегменте.

15. Устройство по п. 13, в котором компонент конфигурирования включает:

второй элемент определения, сконфигурированный для определения теоретических расчетных потерь в отказавшем оконечном сегменте согласно потерям в магистральном сегменте, длине оконечного сегмента, коэффициенту затухания оптоволокна и потерям, вносимым оптическим сплиттером;

третий элемент определения, сконфигурированный для определения, согласно теоретическим расчетным потерям в отказавшем оконечном сегменте, динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи оптического временного рефлектометра;

четвертый элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования минимальной длительности импульса, при которой оптический временной рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;

пятый элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования интервала тестирования согласно длине оконечного сегмента; и

шестой элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования времени тестирования согласно теоретическим вычисленным потерям в отказавшем оконечном сегменте.

16. Устройство по п. 13, в котором компонент конфигурирования включает:

четвертый элемент определения, сконфигурированный для определения теоретических расчетных потерь в сети ODN согласно потерям в магистральном сегменте, длине оконечного сегмента, коэффициенту затухания оптоволокна и потерям, вносимым оптическим сплиттером;

пятый элемент определения, сконфигурированный для определения, согласно теоретическим расчетным потерям в сети ODN, динамического диапазона, который необходимо протестировать при помощи оптического временного рефлектометра;

седьмой элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования минимальной длительности импульса, при которой оптический временной рефлектометр удовлетворяет динамическому диапазону;

восьмой элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования интервала тестирования согласно длине магистрального сегмента и длине оконечного сегмента; и

девятый элемент конфигурирования, сконфигурированный для определения и конфигурирования времени тестирования согласно теоретическим вычисленным потерям в сети ODN.

17. Устройство по любому из пп. 10-16, включающее также компонент коррекции, сконфигурированный для коррекции необходимого набора параметров тестирования в соответствии с параметром измерений, поддерживаемым в текущий момент оптическим временным рефлектометром;

при этом компонент конфигурирования сконфигурирован также для конфигурирования скорректированного набора параметров тестирования для одного или более испытаний с использованием OTDR.