Сравнительный микроскоп Советский патент 1956 года по МПК G02B21/18 G01B11/30 

Описание патента на изобретение SU102349A1

в «анкетных ераввитсл1«ньгх микроскопах для определения чистоты поверхности применяются наборы этал&нных iioBCflXOioстей. Применение отдельных эталонных поверхностей неудобно потому, что пх рабочие поверхности, подвергаясь меха)1цчсскпм и атмосферным воздействиям, с течением времени приходят в негодность, а их установка в микроскоп от}1имает много времени; кроме того, отдельные эталоны летко можно потерять.

Предметом изобретения является еравнотельпып микроскоп для определения качества обработанных металлических пОперхностей с вмонтированным в его корпусе кольцом или диском, составленным из секторообразных эталонлых поверхностей. Такое раоположеппе эталонных поверхностей не-посредствеппо в корпусе микроскопа позволяет защитить ети поверхности от повреждепий.

Ня фиг. 1 нредставлена схема сравнительного микроскопа; ia фиг. 2 диск с эталонными поверхностями.

Свет 07 электрической лашпочкл (1) разделяется полуссребряной пластинкой (2) на два потока. Один световой потоК, отражаясь уг пластинки (2), падает на иссле туемую поверхность, второй про хоД11Т гавозь пластив.ку (2) и освещает вталанную поверхность.

Эталонная и исследуемая поверхности находятся в предметной плоскости микроскопа, состоящего из объектива (3) и окуляра (4); в этой же плоскости находятся диафрагмы (5), которые позволяют видеть оое п верхнос-ти, разделенные в середине ноля зрения окуляра. Эталонные поверхности вьгнолнены в виде секторообразных пластан, образуюл Нх кольцо или диск, который миггирозап в корпусе микроскопа. Изготовляются эталонные поверхности гальва.нопластическим путем с матрицы, которая таким же способом моя;€т быть изготовлена с набора образцов этало1нных поверхностей, имеющих вид секторов и собранных в кольцо.

Предмет И3оброте)гия (}1)а1ввительпый микроскоп для определения качества обработанных металлнческих поверхностей путем сравнения с набором эталонов, вводимых поочередно в ноле зрения микроскопа совместно с KOOIтролируемой ПП13Срхностью, о т л и ч а ющ II и с я те-м, что, с целью предохранения эталонов от повреждений, в корпусе микроскопа монтировано кольцо (диск), составленное из этих эталснаа.

Похожие патенты SU102349A1

название год авторы номер документа
Устройство для программного управления металлорежущими станками с экранной оптикой 1960
  • Егудкин А.С.
SU137374A1
Прибор для расшифровки профилограмм 1950
  • Егудкин А.С.
  • Рагузин Р.М.
SU108901A1
Оптическое устройство для отсчета перемещений исполнительного органа металлорежущих станков 1961
  • Егудкин А.С.
SU145117A1
ОПТИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО для ОТСЧЁТА ПЕРЕМЕЩЕНИЙ 1969
  • А. С. Егудкин Особое Конструкторское Бюро Станкостроени
SU243844A1
Компаратор для измерения штриховых мер 1953
  • Бржезинский М.Л.
SU98120A1
ПРИСПОСОБЛЕНИЕ К ДАЛЬНОМЕРУ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВЫСОТЫ ИЛИ ГОРИЗОНТАЛЬНОГО РАССТОЯНИЯ ВОЗДУШНОЙ ЦЕЛИ 1926
  • А. Пульц
SU11160A1
ОПТИЧЕСКОЕ ОТСЧЕТНОЕ ПРОЕКЦИОННОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ МЕТАЛЛОРЕЖУЩИХ СТАНКОВ СО ШТРИХОВОЙ МЕРОЙ 1965
SU175665A1
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОСТАНОВА СТАНКА И КОНТРОЛЯ ПОЛОЖЕНИЯ ДВИЖУЩЕГОСЯ ОРГАНА 1971
SU312738A1
Прибор для исследования объективов 1932
  • Козлов А.Н.
SU34182A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ 1972
  • О. С. Грум Гржиманло
SU349887A1

Иллюстрации к изобретению SU 102 349 A1

Реферат патента 1956 года Сравнительный микроскоп

Формула изобретения SU 102 349 A1

SU 102 349 A1

Авторы

Егудкин А.С.

Даты

1956-01-01Публикация

1951-04-04Подача