СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ Советский патент 1972 года по МПК G01B11/30 

Изобретение относится к технике определения качества поверхности глазурованных изделий, применяемой в керамической промышленности.

Известен способ определения качества поверхности изделий с применением онтического микроскопа, заключающийся в том, что направляют па изделие наклонный иучок света и ведут наблюдение за качеством поверхносги но микроскопу, оптическая ось которого перпеидикуляриа плоскости изделия.

Однако известный способ не позволяет производить контроль качества глазурованных изделий.

Для возможности определения качества поверхности глазурованных изделий по предлагаемому способу определения качества иоверхностп устанавливают изделие наклонно к оптической оси микроскопа так, чтобы обеспечивалось равенство углов падения света на изделие п отражение от него.

На чертеже .изображено устройство, содержащее микроскоп МБС-1 и федоровский столик, которое может быть использовано для осуществления предлагаемого способа.

Предлагаемый способ осуществляют следующим образом.

о микроскопа. Эксцентриситет может иметь любое значение в интервале от 1 до 2 см. Направление смещения также может быть любьв. Лимб 4 столика находится слева, если смотреть на микроскоп спереди. Ось 5 внутреннего кольца 6 должна лежать в нлоскости, параллельной плоскости симметрии микроскопа. Осветитель 7 устанавливают в плоскости симметрии микроскопа. Окулярную насадку 8 располагают так, чтобы окуляры 9 были направлены в сторону щтатива 10. Исследуемый образец 1 приклеивают кусочком пластилина к круглому стеклу, которое вкладывают во внутреннее кольцо 6 столика. Наблюдение ведут через окуляр. В случае необходимости фотографироваиия иа окуляр надевают фотографическую насадку. Прикленв образец к стеклу, вводят объектив, паколняют образец с помощью столика (па 20°) и ироизподят грубую наводку на резкость. В поле зреиия при этом должна быть видна блестящая поверхность образца и яркш световой зайчик в серед1П1е. Далее включают объектив, дающий большое увеличение, наводят иа резкость и производят 1аблюдение или фотографирование. При количествеииых подсчетах используют сетку, имеющуюся в комплекте МЬС-1. Сетку приклеивают к образцу кycoчкo пластилина. Испол1 зоваине сетки избавляет от необходимости вводить иоправку за счет иаклона образца. При необходимости просмотра соседних участков образца его либо отклеивают и передвигают, либо вращают вместе с круглым столом. Предлагаемый способ основан на принципе приема в оптической системе зеркально отра- 5 женных лучей от ровных участков и диффузно отраженных от неровностей. При зеркальном отражении в объектив попадает почти столько же света, сколько и нодается. При диффузном отраженнн в объектнв попадает ю только очень небольшая часть света, а именно те лучи, которые отразились но нанравлению онтнческой оси микроскона. Вследствие этого участки, отражающие свет зеркально, выглядят в поле зрения микроскопа светлыми, 15 а неровности темными, что и создает картину, позволяющую судить о количестве неровностей, их форме в нлане, характере расноложения и .размерах :, причем размеры могут быть определены.дояько в плане. Имея данные 20 о форме, размерах и характере расноложення не эовностеймо КЙо расшифровать их происхождение/ -. ; -При использовавдги предлагаемого способа можно производить быстрое сравнение по- 25 верхности исследуемого образца с поверхностью образца, выбраиного в качестве эталона. Операция сравнения с эталоном оказывается весьма эффективиой при необходимости проведения массовых исследований. Прибегая к 30 операцин сравнения с эталоно.м, можно за короткий промежуток времени отобрать наиболее характерные образцы, проследпть изменения, происходящие на поверхностн глазури серии образцов, полученных в условиях раз- 35 личной газовой среды, или темиературы, установить влияние различных добавок в глазури и т. п. Предмет изобретения Сиособ онределения качества поверхности нзделий с применением онтического микроскопа, заключающийся в том, что направляют на изделие иаклонный пучок света и ведут наблюдение за качеством поверхности, отличающийся тем, что, с целью возможности определения качества поверхности глазурованных нзделий, устанавливают изделие iiaKvioinio к оптической оси микроскопа так, чтобы обеспечивалось равенство углов падения света иа изделие и отражения от него.